【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】压印光刻印模的制作和使用方法
本专利技术涉及一种用于压印光刻工艺的印模、制造这种印模的方法以及使用该印模压印或在压印工艺中使用这种印模的方法。
技术介绍
压印光刻是这样一种技术,其中诸如掩模层的图案化层通过沉积可凝固(也称为可固化)可压印成分(也称为介质或墨水)形成在诸如半导体基底的基底上或作为光学层。随后通过以下来对可压印介质进行图案化:利用在其一个表面上具有浮雕图案的印模对介质进行压印,在此之后或在此期间介质固化。例如当介质暴露在光线(例如紫外光)中以引发介质中的凝固(固化)反应时,可以实现凝固。在反应完成后,从固化的介质上除去印模,留下图案化的层,所述层可以用作掩模层,例如在半导体基底上,或作为载体上的功能(光学)层。该技术最近引起了相当大的关注,因为它可以潜在地提供优于传统光学光刻工艺的显著成本降低,特别是当需要为大表面区域提供与可见光波长相当或更小的尺寸的特征时。除了压印平面表面之外,压印光刻法可用于在所谓的2.5D表面上形成纳米级图案,即波状表面(contouredsurface),其例如可包括从主要平坦的表面发出的一个或多个突起,例如,一个或多个弯曲的突起。这些技术可用于图案化光伏太阳能电池、纳米线、垂直(外部)腔表面发射激光器、医学植入物等,例如,通过在光学元件(例如,镜片)上或医学植入物上创建纳米级图案,例如,用于刺激骨骼或组织再生。为此,平面柔韧图案化印模(例如基于聚硅氧烷的橡胶状印模)通常变形到波状表面上,使得印模图案与待图案化的波状表面接触。在US2008/0011934A1中示出了这种印模的示例。在至少一些压印光刻应用中,根据下面 ...
【技术保护点】
1.一种用于压印光刻工艺的印模(14),所述印模具有弹性体印模主体,所述弹性体印模主体包括有机聚合物块体部分(110)和图案化表面,所述图案化表面具有用于对压印成分(12)进行压印的浮雕特征图案(16),其中,所述弹性体印模主体包含一定量的至少一种碱性有机基团,所述至少一种碱性有机基团在与所述图案化表面接触时能够刺激所述压印成分的凝固。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.04.06 EP 16164085.91.一种用于压印光刻工艺的印模(14),所述印模具有弹性体印模主体,所述弹性体印模主体包括有机聚合物块体部分(110)和图案化表面,所述图案化表面具有用于对压印成分(12)进行压印的浮雕特征图案(16),其中,所述弹性体印模主体包含一定量的至少一种碱性有机基团,所述至少一种碱性有机基团在与所述图案化表面接触时能够刺激所述压印成分的凝固。2.根据权利要求1所述的印模,其中,所述碱性有机基团是具有至少一个施主原子的不带电的路易斯碱,所述至少一个施主原子选自包括氧、氮、硫和磷的组。3.根据权利要求2所述的印模,其中,所述施主原子是氮原子。4.根据权利要求1或2所述的印模,其中,所述碱性有机基团的pKa在8至12之间。5.根据权利要求3或4所述的印模,其中,所述碱性有机基团包括根据分子式8的结构:分子式8其中,N是施主原子,R1-R3单独地选自氢、未取代或取代的C2-C20烷基、未取代或取代的C2-C20烯基、未取代或取代的C2-C20炔基、未取代的或取代的C3-C20环烷基、未取代或取代的C4-C20环烯基、未取代或取代的C3-C20杂环基、未取代或取代的C6-C30芳基、未取代或取代的C6-C30烷基芳基、未取代或取代的C4-C30杂芳基,条件是R1-R3不是全氢,其中,R1-R3中的至少两个能够构成相同的未取代或取代的C3-C20环烷基、未取代或取代的C4-C20环烯基、未取代的或取代的C3-C20杂环基、未取代或取代的C6-C30芳基或未取代或取代的C4-C30杂芳基的一部分。6.根据权利要求5所述的印模,其中,R1-R3单独地选自氢、未取代或取代的直链C6-C20烷基或支链C3-C20烷基、未取代或取代的C2-C20烯基、未取代或取代的C2-C20炔基、未取代或取代的C3-C20环烷基、未取代或取代的C4-C20环烯基、未取代或取代的C3-C20杂环基、未取代或取代的C6-C30芳基、未取代或取代的C6-C30烷基芳基、未取代或取代的C4-C30杂芳基,条件是R1-R3中只有一个是氢,优选地,其中,R1-R3单独地选自氢、未取代或取代的直链C6-C20烷基或支链C3-C20烷基或未取代或取代的C6-C30烷基芳基,条件是R1-R3中只有一个是氢。7.根据权利要求6所述的印模,其中,R1-R3单独地选自未取代或取代的直链C2-C20烷基或支链C3-C20烷基、未取代或取代的C2-C20烯基、未取代的或取代的C2-C20炔基、未取代或取代的C3-C20环烷基、未取代或取代的C4-C20环烯基、未取代或取代的C3-C20杂环基、未取代或取代的C6-C30芳基、未取代的或取代的C6-C30烷基芳基、未取代的或取代的C4-C30杂芳基,优选地,其中,R1-R3单独地选自未取代或取代的直链C2-C20烷基或支链C3-C20烷基或未取代或取代的C6-C30烷基芳基。8.根据权利要求3或4所述的印模,其中,所述碱性有机基团包括根据分子式9的结构:分子式9其中,N是施主原子,X选自包括氧、氮、硫和磷的组,R1-R4单独地选自未取代或取代的直链C2-C20烷基或支链C3-C20烷基,优选地,其中,R1-R4单独地选自甲基、乙基或丙基,并且R5-R7能够是具有少于20个碳原子的、包括一个或多个氢、碳、氧、氮和硫原子的单独的有机基团或同一有机基团。9.根据权利要求8所述的印模,其中,所述结构是根据分子式10的结构:分子式1010.根据前述权利要求中的任一项所述的印模,其中,-所述碱性有机基团是不与所述弹性体印模主体共价结合的物质的一部分。11.根据权利要求10所述的印模,其中,所述弹性体印模主体包括基于所述弹性体印模主体的总重量至少0.1%重量比的量的物质。12.根据权利要求10或11所述的印模,其中,所述物质在25℃的温度下具有0.2毫巴或更低的蒸气压。13.根据权利要求1至9中的任一项所述的印模,其中,-所述碱性有机基团与所述有机聚合物块体部分共价结合,或者-所述弹性体印模主体包括粘附到所述有机聚合物块体部分的有机聚合物表面层(120),并且所述图案化表面形成所述有机聚合物表面层的一部分,并且至少部分量的碱性有机基团共价结合到所述有机聚合物表面层上。14.根据前述权利要求中的任一项所述的印模,其中,所述弹性体印模主体或所述有机聚合物块体部分包括或包含选自包括以下项的组的材料:至少一种聚硅氧烷、至少一种全氟聚醚或其混合物。15.根据前述权利要求中的任一项所述的印模,其中,所述弹性体印模主体包括或包含粘附到所述有机聚合物块体部分的有机聚合物表面层(120),并且所述图案化表面层是所述有机聚合物表面层的一部分,并且所述有机聚合物表面层包括或包含选自包括以下项的组的材料:至少一种聚硅氧烷、至少一种全氟聚醚(PFPE)或其混合物。16.根据权利要求14、15中的任一项所述的印模,其中,所述聚硅氧烷包括或包含聚二甲基硅氧烷(PDMS)。...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·A·维尔斯储雷恩,
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司,
类型:发明
国别省市:荷兰,NL
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