一种快速测试硅片反向恢复时间的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，包括承片台、扎测表带和反向恢复时间测试仪表，所述承片台内部连接有抽真空装置，所述承片台表面平整均匀且均布有用于吸附硅片的真空小孔，所述扎测表带用于扎接硅片上的管芯，所述反向恢复时间测试仪表上设有电流输出接口和检测接口，且反向恢复时间测试仪表连接有触动开关，所述扎测表带和承片台分别通过第一线路和第二线路连接所述电流输出接口，且第一线路和第二线路长度相同，所述扎测表带和承片台分别通过第三线路和第四线路连接所述检测接口，且第三线路和第四线路长度相同。该实用新型专利技术能够快速、便捷、准确的检测硅片的反向恢复时间，满足硅片厂商监控产品反向恢复时间的要求。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测试硅片反向恢复时间的装置
本技术涉及电子
，具体涉及一种用于快速测试硅片反向恢复时间的装置。
技术介绍
二极管是最常用的电子元件之一，它最大的特性就是单向导电性，也就是电流只可以从二极管的一个方向流过，二极管的作用有整流电路，检波电路，稳压电路，各种调制电路，主要都是有二极管来构成的，现代脉冲电路中大量使用晶体管或二极管作为开关,或者使用主要是由它们构成的逻辑集成电路。而作为开关应用的二极管主要是利用了对正向电阻小及反向电阻大，电流表现出的开关作用。反向恢复时间就是存储电荷耗尽所需要的时间,该过程使二极管不能在快速连续脉冲下当作开关使用。如果反向脉冲的持续时间比反向恢复时间短,则二极管在正、反向都可导通,起不到开关作用。因此了解二极管反向恢复时间对正确选取管子和合理设计电路至关重要。现有的反向恢复时间检测装置主要用于芯粒封装成管测试，而在生产硅片过程中，厂家需要对硅片的反向恢复时间进行快速监控，从而保证产品规格。现有的反向恢复时间测试装置无法快速、便捷、准确的检测硅片的反向恢复时间。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，该装置能够快速、便捷、准确的检测硅片的反向恢复时间，满足硅片厂商监控产品反向恢复时间的要求。为了实现上述目的，本技术的技术方案是：一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，包括承片台、扎测表带和反向恢复时间测试仪表，所述承片台内部连接有抽真空装置，所述承片台表面平整均匀且均布有用于吸附硅片的真空小孔，所述扎测表带用于扎接硅片上的管芯，所述反向恢复时间测试仪表上设有电流输出接口和检测接口，且反向恢复时间测试仪表连接有触动开关，所述扎测表带和承片台分别通过第一线路和第二线路连接所述电流输出接口，且第一线路和第二线路长度相同，所述扎测表带和承片台分别通过第三线路和第四线路连接所述检测接口，且第三线路和第四线路长度相同。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术将承片台和反向恢复时间测试仪表连接，装置简单，便携，可操作性强，能够快速测试硅片的反应恢复时间；2、本技术承片台通过表面均布的若干真空小孔对硅片进行吸附，同时承片台表面平整均匀，能够最大化减少接触电阻，提高测试准确度；3、本技术扎测表带和承片台与反向恢复时间测试仪表通过第一线路、第二线路、第三线路和第四线路连接，形成四线路接线测电阻，有效降低间接电阻，提高测试准确度；4、本技术第一线路和第二线路长度相同，第三线路和第四线路长度相同，进一步避免了测量误差，提高了测试准确度。本技术的进一步改进方案如下：进一步的，还包括绝缘木块和绝缘板，所述绝缘板放置在所述绝缘木块上，所述触动开关、抽真空装置和承片台均放置在所述绝缘板上。通过采用上述方案，绝缘木块和绝缘板保证装置底部绝缘，进一步排出了间接电阻的影响，提高测试准确度。进一步的，所述抽真空装置包括真空泵和真空开关。通过采用上述方案，能够通过操控真空开关来控制真空泵自动启停，保证承片台内部真空度，从而使硅片吸附稳定，降低接触电阻。进一步的，所述真空小孔密集分布呈若干同心圆状。通过采用上述方案，分布呈若干同心圆状的真空小孔能够保证硅片吸附紧密，降低接触电阻。进一步的，所述承片台为碳化硅陶瓷承片台。通过采用上述方案，碳化硅陶瓷材质具有良好的导电性，有利于准确检测反向恢复时间。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。图1是本技术的实施例的结构示意图。图2是本技术的实施例的电路图。图中所示：1、承片台；101、真空小孔；2、扎测表带；3、反向恢复时间测试仪表；301、电流输出接口；302、检测接口；4、触动开关；5、第一线路；6、第二线路；7、第三线路；8、第四线路；9、绝缘板；10、绝缘木块；11、真空泵；12、真空开关。具体实施方式下面将结合附图对本技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本技术的保护范围。需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域技术人员所理解的通常意义。在本申请的描述中，需要理解的是，术语““上”、“下”、“顶”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。图1是本技术的实施例的结构示意图。图2是本技术的实施例的电路图。如图1和图2所示，本实施例提供的一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，包括承片台1、扎测表带2、反向恢复时间测试仪表3、绝缘板9和绝缘木块10。承片台1为碳化硅陶瓷承片台，承片台1内部连接有抽真空装置，抽真空装置包括真空泵11和真空开关12。承片台1表面平整均匀且均布有用于吸附硅片的真空小孔101，真空小孔101均匀排布呈五个同心圆状。扎测表带2用于扎接硅片上的管芯。反向恢复时间测试仪表3上设有电流输出接口301和检测接口302，且反向恢复时间测试仪表3连接有触动开关4。扎测表带2和承片台1分别通过第一线路5和第二线路6连接电流输出接口301，且第一线路5和第二线路6长度相同。扎测表带2和承片台1分别通过第三线路7和第四线路8连接检测接口302，且第三线路7和第四线路8长度相同。绝缘板9设置在绝缘木块10上，承片台1、触动开关9、真空泵11、真空开关12均放置在绝缘板9上。本技术的具体操作方法如下：1、将硅片覆盖在真空小孔101上，开启真空开关12，硅片迅速被吸附紧密；2、开启触动开关4，反向恢复时间测试仪表3开启；3、手动将扎测表带2插入硅片上的管芯，开始计数检测。本实施例将承片台1和反向恢复时间测试仪表3连接，装置简单，便携，可操作性强，能够快速测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，其特征在于，包括承片台、扎测表带和反向恢复时间测试仪表，所述承片台内部连接有抽真空装置，所述承片台表面平整均匀且均布有用于吸附硅片的真空小孔，所述扎测表带用于扎接硅片上的管芯，所述反向恢复时间测试仪表上设有电流输出接口和检测接口，且反向恢复时间测试仪表连接有触动开关，所述扎测表带和承片台分别通过第一线路和第二线路连接所述电流输出接口，且第一线路和第二线路长度相同，所述扎测表带和承片台分别通过第三线路和第四线路连接所述检测接口，且第三线路和第四线路长度相同。

【技术特征摘要】
1.一种快速测试硅片反向恢复时间的装置，其特征在于，包括承片台、扎测表带和反向恢复时间测试仪表，所述承片台内部连接有抽真空装置，所述承片台表面平整均匀且均布有用于吸附硅片的真空小孔，所述扎测表带用于扎接硅片上的管芯，所述反向恢复时间测试仪表上设有电流输出接口和检测接口，且反向恢复时间测试仪表连接有触动开关，所述扎测表带和承片台分别通过第一线路和第二线路连接所述电流输出接口，且第一线路和第二线路长度相同，所述扎测表带和承片台分别通过第三线路和第四线路连接所述检测接口，且第三线路和第四线路长度相同。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张官星，高俊，陶浩，莫贻飞，
申请(专利权)人：扬州国宇电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32