The utility model relates to an optical detection device for detecting defects in LED packaging. It includes an organic frame, on which an X-direction track is fixed, an X-direction track slides with a Y-direction track vertically set, a Y-direction track slides with a platform for carrying an LED bracket, and the front and back sides of the LED bracket on the platform are exposed. The first shooting device with a lens facing downward and the second shooting device with a lens facing upward are fixed in the movable area of the frame and located on the platform. The first shooting device and the second shooting device are arranged on a coaxial line. The height of the platform is between the first shooting device and the second shooting device. A vertical setting and a movable ejector rod are also provided on the frame and in the movable area of the platform. The utility model is based on the operation of the whole LED support plate, and the photographing device can simultaneously photograph the positive and negative sides of the sample, with high detection efficiency. The sample is in a static state, which greatly improves the detection accuracy.
【技术实现步骤摘要】
用于检测LED封装缺陷的光学检测设备
本技术涉及一种光学检测设备,尤其是涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。
技术介绍
自动光学(缺陷)检测机在半导体芯片,封装器件和电路印刷版等各个行业是广泛使用的检测设备,用于检测产品外观,以及关键尺寸是否合规的一类设备。随着半导体产业升级,产品精致化,严格化,已经新的封装技术,涂层技术,相关材料科学的进步和升级,自动光学(缺陷)检测机在物理光学照明和成像手段、测量操作方式和软件算法上都有更新和升级。过往的应用于LED灯珠封装的自动光学缺陷检测机一直采取对单颗LED灯珠进行逐个检验的形式,例如将LED支架上的LED灯珠扣下来后,将其摆放在精度要求低的旋转运动台,在LED灯珠旋转走行过程中,在多个测量位置使用照明和摄像装置抓取LED灯珠的不同集合面,再利用简单算法来甄别LED的优劣。这种运动方式极大的限制了图像成像高精度要求画质要求,导致图像识别缺陷判断准确性受限,同时也限制了测量速度的提高。
技术实现思路
本技术提供了一种测量速度快精度高的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备;解决现有技术中存在检测精准度不高、检测速度低下的问题。本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备,其特征在于:它包括机架,其上固定有水平设置的X向轨道,X向轨道上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道,Y向轨道上滑动配合有用于搭载LED支架的载台,且载台上的LED支架的正反面为外露设置,机架上且位于载台的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置和镜头朝上的第二拍摄装置,第一拍摄装置和第二拍摄装置为 ...
【技术保护点】
1.一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备,其特征在于:它包括机架(1),其上固定有水平设置的X向轨道(2),X向轨道(2)上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道(3),Y向轨道(3)上滑动配合有用于搭载LED支架的载台(4),且载台(4)上的LED支架的正反面为外露设置,机架(1)上且位于载台(4)的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置(51)和镜头朝上的第二拍摄装置(52),第一拍摄装置(51)和第二拍摄装置(52)为同轴线设置,所述载台(4)的高度为介于第一拍摄装置(51)和第二拍摄装置(52)之间,机架(1)上且位于载台(4)的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆(6),顶出杆(6)为高于载台(4)所在高度,所述的机架(1)上还设有辅助照明装置(7)。
【技术特征摘要】
1.一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备,其特征在于:它包括机架(1),其上固定有水平设置的X向轨道(2),X向轨道(2)上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道(3),Y向轨道(3)上滑动配合有用于搭载LED支架的载台(4),且载台(4)上的LED支架的正反面为外露设置,机架(1)上且位于载台(4)的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置(51)和镜头朝上的第二拍摄装置(52),第一拍摄装置(51)和第二拍摄装置(52)为同轴线设置,所述载台(4)的高度为介于第一拍摄装置(51)和第二拍摄装置(52)之间,机架(1)上且位于载台(4)的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆(6),顶出杆(6)为高于载台(4)所在高度,所述的机架(1)上还设有辅助照明装置(7)。2.根据权利要求1所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备,其特征在于:所述机架(1)上且位于载台(4)可移动区域的前侧设有可上下滑动的上料盒(8),上料盒(8)内可纵向叠放LED支架,机架(1)上还设有可将LED支架向后推出上料盒(8)的推杆(9)。3.根据权利要求1或2所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备,其特征在于:所述的载台(...
【专利技术属性】
技术研发人员:连程杰,朱干军,
申请(专利权)人:义乌臻格科技有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江,33
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