一种测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种测量方法和装置，所述方法包括：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。本发明专利技术实施例可以方便地实现物体长度的测量，简单有效。

A Measuring Method and Device

The embodiment of the present invention provides a measurement method and apparatus, which includes: determining at least two reference positions when the electronic device is in the first mode of operation; obtaining coordinates of at least two reference positions; and determining the distance between at least two reference positions according to coordinates of at least two reference positions. The embodiment of the invention can conveniently realize the measurement of the length of an object, which is simple and effective.

【技术实现步骤摘要】
一种测量方法及装置
本专利技术实施例涉及计算机
，具体涉及一种测量方法及装置。
技术介绍
在一些应用场景中，用户需要测量物体的尺寸。然而，当用户未随身携带刻度尺等测量工具时，并不方便测量物体的尺寸。而手机已成为用户随身携带的必备品，应用手机测量物体尺寸成为一种可能。然而，现有技术中存在的手机测量物体长度的方法，需要手机拥有专门的红外感应器以及特殊材质的外壳才能够实现测量，成本高且操作繁琐。
技术实现思路
本专利技术实施例旨在提供一种测量方法及装置，可以通过确定的至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置的距离，从而方便地实现物体长度的测量，简单有效。为此，本专利技术实施例提供如下技术方案：本申请实施例的第一方面，公开了一种测量方法，应用于电子设备，包括：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。本申请实施例的第二方面，公开了一种测量装置，包括：基准位置确定单元，用于当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；坐标获取单元，用于获取所述至少两个基准位置的坐标；距离确定单元，用于根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。本申请实施例的第三方面，公开了一种用于测量的装置，包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。本申请实施例的第四方面，公开了一种机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得装置执行上述测量方法。本专利技术实施例提供的测量方法及装置，可以当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。本专利技术可以通过简单的方法有效的实现物体长度的测量，成本低且实现简单。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一实施例提供的测量方法流程图；图2为本专利技术另一实施例提供的测量方法流程图；图3为本专利技术一实施例提供的测量装置示意图；图4是根据一示例性实施例示出的一种用于测量装置的框图；图5是根据一示例性实施例示出的服务器的框图。具体实施方式本专利技术实施例旨在提供一种测量方法及装置，可以通过确定的至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置的距离，从而方便地实现物体长度的测量，简单有效。为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。下面将结合附图1至附图2对本专利技术示例性实施例示出的测量方法进行介绍。参见图1，为本专利技术一实施例提供的测量方法流程图。如图1所示，可以包括：S101，当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置。在本专利技术具体实现时，电子设备具有至少两种工作模式，其中第一工作模式为测量模式，用于测量被测物体的物理参数，所述物理参数包括但不限于长度、宽度、面积等。在一些可能的实施方式中，当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置包括：接收第一输入操作，根据所述第一输入操作确定第一基准位置；接收第二输入操作，根据所述第二输入操作确定第二基准位置；将所述第一基准位置和所述第二基准位置确定为至少两个基准位置。举例说明，用户可以将需要测量的被测物品放置到电子设备的屏幕上，用户使用手指或者触控笔操作，以标示出被测物品至少一个边界的起点和终点位置。例如，用户手指点击两个点，分别对应第一基准位置、第二基准位置。在另一些可能的实施方式中，当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置。在另一些可能的实施方式中，所述非接触式传感器为光线感应传感器，所述获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的光线感应传感器采集的光强度信号，根据所述光强度信号确定所述电子设备中光强度发生变化或者光强度信号的变化大于第一设定阈值的区域，根据所述区域的坐标确定至少两个基准位置。举例说明，电子设备具有光线感应传感器，可以根据环境光强度产生输入信号。当被测物体被放置在电子设备的屏幕上时，由于被测物体的遮挡，被遮挡区域的光强度信号会发生变化，而没有被遮挡的区域光强度信号不会发生变化。因此，可以将光强度发生变化或者光强度信号的变化大于第一设定阈值的区域确定为被所述被测物体遮挡的区域，根据所述区域的范围确定至少两个基准位置。在另一些可能的实施方式中，所述非接触式传感器为距离传感器，所述获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的距离传感器采集的距离信号，根据所述距离信号确定所述电子设备中距离信号发生变化或者变化大于第二设定阈值的区域，根据所述区域的坐标确定至少两个基准位置。举例说明，电子设备可以具有接近式传感器，当遮挡物与非接触式传感器之间的距离小于预设阈值时，所述非接触式传感器则会产生输入信号，用于表明有遮挡物靠近非接触式传感器的检测区域。随着遮挡物与非接触式传感器之间距离的远近，输入信号的大小也会发生变化。因此，可以将距离信号发生变化或者变化大于第二设定阈值的区域确定为被所述被测物体遮挡的区域，根据所述区域的范围确定至少两个基准位置。在一些可能的实施方式中，所述确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的压力传感器检测的压力信号的范围，根据所述压力信号的范围确定至少两个基准位置。举例说明，压力传感器可以检测电子设备屏幕受到的压力，当被测物体被放置在电子设备的屏幕上时，可以根据压力传感器检测的压力信号的范围确定被测物体覆盖屏幕的范围，进而确定至少两个基准位置。需要说明的是，以上通过各种方式可以确定被测物体遮挡电子设备的屏幕的范围，所述范围可能包括至少两个方向，例如长度方向和宽度方向。具体实现时，可以设置与电子设备的屏幕的长边平行的方向作为确定至少两个基准位置的方向。当然，也可以根据其他方式确定至少两个基准位置。在一些实施方式中，所述方法还包括：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，显示刻度尺，所述刻度尺显示有距离度量刻度。举例说明，可以获取电子设备的屏幕尺寸、像素密度、屏幕分辨率等参数，以确定屏幕的长度和宽度，以显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量方法，其特征在于，应用于电子设备，包括：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。

【技术特征摘要】
1.一种测量方法，其特征在于，应用于电子设备，包括：当确定所述电子设备处于第一工作模式时，确定至少两个基准位置；获取所述至少两个基准位置的坐标；根据所述至少两个基准位置的坐标确定所述至少两个基准位置之间的距离。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少两个基准位置包括：接收第一输入操作，根据所述第一输入操作确定第一基准位置；接收第二输入操作，根据所述第二输入操作确定第二基准位置；将所述第一基准位置和所述第二基准位置确定为至少两个基准位置。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述非接触式传感器为光线感应传感器，所述获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的光线感应传感器采集的光强度信号，根据所述光强度信号确定所述电子设备中光强度发生变化或者光强度信号的变化大于第一设定阈值的区域，根据所述区域的坐标确定至少两个基准位置。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述非接触式传感器为距离传感器，所述获取所述电子设备的非接触式传感器检测的输入信号的范围，根据所述输入信号的范围确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的距离传感器采集的距离信号，根据所述距离信号确定所述电子设备中距离信号发生变化或者变化大于第二设定阈值的区域，根据所述区域的坐标确定至少两个基准位置。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少两个基准位置包括：获取所述电子设备的压力传感器检测的压力信号的范围，根据所述压力信号的范围确定至少两个基准位置。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李利平，
申请(专利权)人：北京搜狗科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11