显示面板测量方法及设备技术

本发明专利技术公开一种显示面板测量方法及显示面板测量设备，该显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。本发明专利技术技术方案通过对两个测试点获取多组测试参数，降低参数变异的影响，提高了液晶效率测试的精度。

Display panel measurement method and equipment

The invention discloses a display panel measurement method and a display panel measurement device. The display panel measurement method includes: selecting two test points of the preset position of the liquid crystal panel, namely the first test point and the second test point; testing the penetration rate of the liquid crystal layer of the first test point in different states of the first polarizer and the second polarizer; and testing the second test point in the first polarizer. The penetration rate of the liquid crystal layer under different states of the second polarizer, the liquid crystal layer efficiency under different states of the first polarizer and the second polarizer, and the liquid crystal layer efficiency under different states of the first polarizer and the second polarizer are determined by the penetration rate of the first polarizer and the second polarizer. The technical scheme of the invention obtains a plurality of test parameters through two test points, reduces the influence of parameter variation, and improves the accuracy of liquid crystal efficiency test.

【技术实现步骤摘要】
显示面板测量方法及设备
本专利技术涉及液晶效率测量
，特别涉及一种显示面板测量方法及设备。
技术介绍
VA型液晶面板是工业领域常用的一种液晶面板。其显示原理是，当自然光经过下基板(即TFT基板)偏振后变成线偏振光，在液晶层不加电压时，线偏振光通过液晶层偏振方向不会改变，经过上基板(即CF基板)偏振片时光线被吸收，液晶面板呈现黑态；与之相对的，在给液晶层施加电压后，偏振光经过液晶层后偏振方向发生改变，透过上基板后光线可以在液晶面板呈现一定亮态。因此，在整个显示过程中，液晶改变偏振光偏振方向的能力非常重要，直接关系着液晶穿透率。液晶效率的定义为：经过第二偏振片产生的偏振光在经过液晶层后，液晶层可以将多大比例的入射光的偏振方向旋转90度。现有的液晶效率测量方法是选取一测试点，根据这一测试点所得数据来计算液晶效率，但此种方法易受测量过程中测量参数变异影响，测量数据误差大也无法得知。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种显示面板测量方法，旨在提高液晶层效率测量的精度。为实现上述目的，本专利技术提出的显示面板测量方法，包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。在一实施例中，所述测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：测试第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；测试第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；测试第一测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。在一实施例中，测量第一测试点液晶面板的亮度L1是液晶面板灰阶为255时的亮度。在一实施例中，所述测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：测试第二测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；测试第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；测试第二测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。在一实施例中，采用如下公式计算在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率：T＝Li/Lj；其中，Li为测量所得的液晶面板的亮度，Lj为同一状态下的除去液晶面板后测量所得的背光灯的亮度。在一实施例中，测量第一测试点液晶面板的亮度L1是液晶面板灰阶为255时的亮度。在一实施例中，所述根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率包括：根据第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定第一测试点对应的液晶层效率；根据第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率确定第二测试点对应的液晶层效率；将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率。在一实施例中，采用如下公式确定第一测试点对应的液晶层效率：η1＝T1*T3/(2T2*T5)；采用如下公式确定第二测试点对应的液晶层效率：η2＝T4*T6/(2T2*T5)；其中，T1、T2、T3分别为第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，T4、T5、T6分别为第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，η1、η2为第一测试点及第二测试点对应的液晶层效率。在一实施例中，所述显示面板测量方法还包括：比较第一测试点对应的液晶层效率与第二测试点对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内；若否，返回至所述测试第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率的步骤，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片。在一实施例中，所述比较第一测试点对应的液晶层效率与第二测试点对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内包括：将所述差值除以第一测试点对应的液晶层效率或第二测试点对应的液晶层效率，判断比值是否在±5％之内。在一实施例中，在所述将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率之前还包括：选取若干个与所述预设位置相邻的第三测试点；测量每一第三测试点在在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；测量每一第三测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；依据第三测试点在第一状态下液晶层的穿透率、第三测试点第二状态下液晶层的穿透率、第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率、第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定第三测试点对应的液晶层效率；相应地，所述将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率包括：根据将第一测试点对应的液晶层效率、第二测试点对应的液晶层效率和第三测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率确定液晶层效率。在一实施例中，采用如下公式确定第三测试点对应的液晶层效率：η＝TN*TM/(2T2*T5)；其中，TN、TM分别为第三测试点在在第一状态下及第二状态下液晶层的穿透率，η为第三测试点对应的液晶层效率。为实现上述目的，本专利技术还提出一种显示面板测量设备，包括测量测量模块及处理模块，其中所述测量模块，用于选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点，测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；所述处理模块，根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。本专利技术技术方案通过采用测量第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，同时测量第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，获得多组数据，相比现有技术中的测试方法，增加了数据组数，减小了环境变量对测试的影响，从而提高了测试的精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术液晶显示器一实施例的流程图；图2为本专利技术显示面板测量方法一实施例的流程图；图3为图2中步骤S200的细化流程图；图4为图2中步骤S300的细化流程图；图5为图2中步骤S400的细化流程图；图6为液晶面板预设位置的两个测试点的示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板测量方法，其特征在于，所述显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试所述第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试所述第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测量方法，其特征在于，所述显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试所述第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试所述第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。2.如权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述测试第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：测试所述第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；测试所述第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；测试所述第一测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。3.如权利要求2所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述测试第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：测试所述第二测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有所述第一偏振片和所述第二偏振片；测试所述第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去所述第一偏振片，贴附有所述第二偏振片；测试所述第二测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去所述第一偏振片和所述第二偏振片。4.如权利要求3所述的显示面板测量方法，其特征在于，采用如下公式计算在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率：T＝Li/Lj；其中，Li为测量所得的液晶面板的亮度，Lj为同一状态下的除去液晶面板后测量所得的背光灯的亮度。5.如权利要求4中任意一项所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率包括：根据所述第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和所述第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定所述第一测试点对应的液晶层效率；根据所述第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和所述第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率确定所述第二测试点对应的液晶层效率；将所述第一测试点对应的液晶层效率和所述第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率。6.如权利要求5所述的显示面板测量方法，其特征在于，采用如下公式确定所述第一测试点对应的液晶层效率：η1＝T...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘忠念，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，重庆惠科金渝光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44