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本发明公开一种显示面板测量方法及显示面板测量设备，该显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试第二测试点在第一偏振片和第二偏...该专利属于惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司授权不得商用。