一种半导体激光器测试系统及方法技术方案

本发明专利技术实施例公开一种半导体激光器测试系统及方法，用于环形半导体激光器，包括：具有至少两组发光单元的环形半导体激光器光源、第一导光件、转动机构、测试元件。基于本发明专利技术提供的半导体激光器测试系统及方法，能够在环形半导体激光器光源正常工作状态下，对各发光单元发出的激光进行逐一测试，并且还可以将不需测试的激光另外导出，提高了测试的精确度和准确性。

A Semiconductor Laser Testing System and Method

The embodiment of the present invention discloses a semiconductor laser testing system and method for ring semiconductor lasers, including a ring semiconductor laser light source with at least two sets of light emitting units, a first light guide, a rotating mechanism and a testing element. Based on the semiconductor laser testing system and method provided by the invention, the laser emitted by each light-emitting unit can be tested one by one under the normal working condition of the ring semiconductor laser source, and the laser which does not need to be tested can also be derived separately, thus improving the accuracy and accuracy of the testing.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器测试系统及方法
本专利技术涉及半导体激光器领域，尤其涉及一种半导体激光器测试系统及方法。
技术介绍
现有技术中，对于环形的半导体激光器来说，若需要测试其光谱和功率等情况，通常在其他发光单元处于关闭状态时，对环形半导体激光器的某个发光单元进行独立加电测试，这种测试方法存在一些缺点：第一，环形半导体激光器光源的每个发光单元较小，独立加电测试通常为机械接触探针式加电，容易出现接触不良和打火的现象，增加了损伤光源的风险；第二，在实际应用场景下，环形半导体激光器光源的所有发光单元都处于发光状态，各发光单元之间存在一定程度的热串扰现象，所以上述每个发光单元独立加电测试的方法无法精确反应出各发光单元在整个光源工作状态下的情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的主要目的之一在于提供一种半导体激光器测试系统及方法，主要可用于环形的半导体激光器光源，能够在环形半导体激光器光源正常工作状态下，对各发光单元发出的激光进行逐一测试，并且还可以将不需测试的激光另外导出，提高了测试的精确度和准确性。本专利技术的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例提供一种半导体激光器测试系统，用于环形半导体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体激光器测试系统，其特征在于，用于环形半导体激光器，包括：具有至少两组发光单元的环形半导体激光器光源、第一导光件、转动机构、测试元件；其中，所述第一导光件固定在所述转动机构上，且具有光输入端和光输出端，所述光输入端用于接收所述环形半导体激光器光源的一组发光单元发出的待测光，并将其传输至光输出端；所述光输出端，用于将光输入端输入的待测光传输至测试元件进行测试；所述转动机构，用于在外部动力的作用下，带动所述第一导光件转动至下一组发光单元，第一导光件将下一组发光单元发出的待测光传输至所述测试单元，以此实现各组发光单元的测试。

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器测试系统，其特征在于，用于环形半导体激光器，包括：具有至少两组发光单元的环形半导体激光器光源、第一导光件、转动机构、测试元件；其中，所述第一导光件固定在所述转动机构上，且具有光输入端和光输出端，所述光输入端用于接收所述环形半导体激光器光源的一组发光单元发出的待测光，并将其传输至光输出端；所述光输出端，用于将光输入端输入的待测光传输至测试元件进行测试；所述转动机构，用于在外部动力的作用下，带动所述第一导光件转动至下一组发光单元，第一导光件将下一组发光单元发出的待测光传输至所述测试单元，以此实现各组发光单元的测试。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述环形半导体激光器光源的发光方向为：沿环形径向方向向内，其中，所述第一导光件的光输入端为楔形结构，楔形结构的内表面用于通过全反射的方式使径向的待测光偏转为轴向，待测光在第一导光件的内壁发生至少一次全反射后由光输出端射出。3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述系统还包括：设置于第一导光件光输入端侧的第二导光件，其中，所述第二导光件设置有与第一导光件的楔形结构相匹配的开口结构，第一导光件的楔形结构插入所述开口结构中，两者在所述转动机构的带动下共同转动。4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述第二导光件，用于导出除待测光以外的非测光，其中，所述第二导光件面向所述楔形结构的一侧为凹陷的几何形状，该凹陷几何形状的反面为非测光的接收面，该接收面用于通过全反射的方式使接收的径向的非测光偏转为轴向并导出。5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述环形半导体激光器光源的发光方向为：朝向环形半导体激光器光源的轴向方向，所述第一导光件的光输入端为平面结构，将输入的待测光传...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡磊，侯栋，吴迪，刘兴胜，
申请(专利权)人：西安炬光科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61