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本发明实施例公开一种半导体激光器测试系统及方法，用于环形半导体激光器，包括：具有至少两组发光单元的环形半导体激光器光源、第一导光件、转动机构、测试元件。基于本发明提供的半导体激光器测试系统及方法，能够在环形半导体激光器光源正常工作状态下，对...
该专利属于西安炬光科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安炬光科技股份有限公司授权不得商用。

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