【技术实现步骤摘要】
用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统及方法
本专利技术涉及质谱分析领域，具体地，涉及一种用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统及方法。
技术介绍
质谱分析法是一种快速有效的分析方法，具体来说，它是一种测量离子质荷比(质量/电荷比)的分析方法，可以用于同位素、化合物分析、气体成分分析以及金属和非金属固体样品的超纯痕量分析等。质谱分析中所使用的质谱仪是一种用于分析物质样品中各种化学成分、含量和分子结构的科学仪器。常用的质谱仪包括磁质谱仪，四极杆质谱仪，离子阱质谱仪，飞行时间质谱仪，傅利叶回旋共振质谱仪，轨道离子阱质谱仪等。其中，离子阱质谱仪有其独特的优势。离子阱不仅能够对离子进行质量分析，检测出质荷比，而且能将离子储存在离子阱中。由于离子阱具有结构简单，可在较高气压下工作等特点，是质谱小型化的最理想选择，因此离子阱质谱仪在近年来得到了广泛的重视和发展。此外，离子阱按结构一般可分为三维离子阱和线性(直线型)离子阱，后者由美国工程师J.C.Schwartz在美国专利US6797950提出。它提高了电子云在轴向上的存储体积，显著提高了离子存储量和存储效率，同时...
【技术保护点】
1.一种用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统，其特征在于，包括两个相同或不同的线性离子阱质量分析器，两个线性离子阱质量分析器相互垂直放置，且中心轴线位于同一平面；所述线性离子阱质量分析器包括两组相同的射频电极和一组对称置于所述射频电极两侧的端盖电极，在其中一组射频电极的中心开设有用于离子出射的狭缝，所述端盖电极的中心位置开有用于离子通过的小孔，所述小孔位于两组射频电极构成的旋转体的旋转轴上。
【技术特征摘要】
1.一种用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统，其特征在于，包括两个相同或不同的线性离子阱质量分析器，两个线性离子阱质量分析器相互垂直放置，且中心轴线位于同一平面；所述线性离子阱质量分析器包括两组相同的射频电极和一组对称置于所述射频电极两侧的端盖电极，在其中一组射频电极的中心开设有用于离子出射的狭缝，所述端盖电极的中心位置开有用于离子通过的小孔，所述小孔位于两组射频电极构成的旋转体的旋转轴上。2.根据权利要求1所述的用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统，其特征在于，还包括离子传输装置，所述离子传输装置位于两个线性离子阱质量分析器之间，与第二个线性离子阱质量分析器同轴放置，并且所述离子传输装置的中心轴对准第一个线性离子阱质量分析器的所述狭缝并通过第一个线性离子阱质量分析器的体心。3.根据权利要求2所述的用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统，其特征在于，所述离子传输装置为一组离子透镜或者四极杆、六极杆、八极杆。4.根据权利要求1所述的用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统，其特征在于，所述射频电极的横截面为双曲面或者三角形、...
【专利技术属性】
技术研发人员：何洋，肖育，徐骏，丁正知，齐晓军，
申请(专利权)人：上海裕达实业有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
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