一种阵列基板母板及其检测方法技术

本发明专利技术公开了一种阵列基板母板及其检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板母板及其检测方法
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种阵列基板母板及其检测方法。
技术介绍
目前，阵列基板常采用双栅线型结构，以减少数据线的数量。双栅线型结构的阵列基板，一般包括多个像素单元和多条栅线。其中，一行像素单元对应两条栅线，这样会使得两条栅线设置在相邻两行像素单元之间的间隙中。然而，在阵列基板的工艺制程中，可能会发生划伤或静电击穿，由于设置在同一间隙中的两条栅线距离较近，导致栅线之间出现短路问题。因此，如何检测阵列基板存在栅线短路问题，是本领域普通技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种阵列基板母板及其检测方法，用以检测是否存在栅线短路问题。因此，本专利技术实施例提供了一种阵列基板母板的检测方法，所述阵列基板母板包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子；所述检测方法包括：检测每两个所述栅线测试端子之间的检测电阻值；在至少一个检测到的所述检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定所述阵列基板母板存在栅线短路问题。可选地，在本专利技术实施例中，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。可选地，在本专利技术实施例中，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线；在所述确定所述阵列基板母板中的栅线短路之后，还包括：对所述数据线测试端子加载数据信号；对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，并在对一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号时，检测加载有所述栅线测试信号的栅线连接的各行像素单元所对应的亮度；针对每一行像素单元，在所述行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定所述行像素单元对应的栅线存在短路问题。可选地，在本专利技术实施例中，在所述确定所述行像素单元对应的栅线短路之后，还包括：对存在短路问题的栅线进行修复。可选地，在本专利技术实施例中，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。可选地，在本专利技术实施例中，对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，具体包括：仅对所述第1栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第1栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮；或者，仅对所述第2栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第2栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮。相应地，本专利技术实施例还提供了一种阵列基板母板，包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子。可选地，在本专利技术实施例中，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。可选地，在本专利技术实施例中，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与各所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线。可选地，在本专利技术实施例中，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。本专利技术有益效果如下：本专利技术实施例提供的阵列基板母板及其检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。附图说明图1为本专利技术实施例提供的阵列基板母板的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的检测方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本专利技术实施例提供的阵列基板母板及其检测方法的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要注意的是，附图中各图形大小和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本
技术实现思路
。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。本专利技术实施例提供一种阵列基板母板，如图1所示，可以包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子。这样可以使相邻的两条栅线通过不同的栅线测试端子进行检测。一般阵列基板母板还包括：用于设置栅线和栅线测试端子的衬底基板100。该衬底基板100可以为玻璃基板、柔性基板、硅基板等，在此不作限定。本专利技术实施例提供的阵列基板母板的检测方法，如图2所示，可以包括如下步骤：S201、检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值。具体地，可以通过外部检测治具检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值。该外部检测治具可以为万用表，具体地，将万用表设置为欧姆档，之后，将万用表的两个表笔分别连接不同的栅线测试端子，然后读出并记录万用表显示出的阻值，即可得到这两个栅线测试端子之间的检测电阻值。S202、在至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定阵列基板母板存在栅线短路问题。即在检测到的检测电阻值均大于预设电阻阈值时，可以确定阵列基板母板不存在栅线短路问题。具体地，在不存在栅线短路问题时，由于与不同栅线测试端子电连接的栅线之间断路，使得每两个栅线测试端子之间的检测电阻值为无穷大。在存在栅线短路问题时，由于栅线之间通路，使得通路栅线电连接的两个栅线测试端子之间的检测电阻值变小。这样通过设置预设电阻阈值的大小，可以在至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板中存在栅线短路问题。在实际应用中，不同应用环境的阵列基板母板中的栅线的电阻值不同，因此可以根据实际应用环境确定预设电阻阈值的大小，在此不作限定。本专利技术实施例提供的阵列基板母板的检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。在具体实施时，在本专利技术实施例中，可以使阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。具体地，如图1所示，可以使N＝2，这样2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子Gpad_1可以与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子Gpad_2与偶数行的栅线电连接。或者，可以使N＝3，这样3个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与第3n-2行的栅线电连接，第2栅线测试端子与第3n-1行的栅线电连接，第3栅线测试端子与第3n行的栅线电连接；其中，n为正整数。或者，可以使N＝4，这样4个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与第4n-3行的栅线电连接，第2栅线测试端子与第4n-2行的栅线电连接，第3栅线测试端子与第4n-1行的栅线电连接，第4栅线测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板母板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子；所述检测方法包括：检测每两个所述栅线测试端子之间的检测电阻值；在至少一个检测到的所述检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定所述阵列基板母板存在栅线短路问题。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板母板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子；所述检测方法包括：检测每两个所述栅线测试端子之间的检测电阻值；在至少一个检测到的所述检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定所述阵列基板母板存在栅线短路问题。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线；在所述确定所述阵列基板母板中的栅线短路之后，还包括：对所述数据线测试端子加载数据信号；对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，并在对一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号时，检测加载有所述栅线测试信号的栅线连接的各行像素单元所对应的亮度；针对每一行像素单元，在所述行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定所述行像素单元对应的栅线存在短路问题。4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，在所述确定所述行像素单元对应的栅线短路之后，还包括：对存在短路问...

【专利技术属性】
技术研发人员：王新华，樊超，易熊，李世维，陈虹运，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，重庆京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11