【技术实现步骤摘要】
一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置及测量方法
本专利技术涉及一种反射镜镜面平行度测量的装置，特别是一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置。
技术介绍
在光学系统中，为了减小系统体积、多光路复合等目的，经常会使用多个平面反射镜折转光路。根据反射定律，反射镜的角度安装误差对光线光轴误差的影响是呈二倍关系的。因此，平面反射镜的安装精度以及反射镜之间的平行度对光学系统光轴精度的影响非常大。在实际的装调及测试过程中，需要对反射镜的安装精度进行精确测量和定标。目前常用的反射镜安装精度测量方法是自准直法，经纬仪发出平行光，光轴与被测反射镜垂直，通过反射镜反射经纬仪的平行光，测量反射镜相对于经纬仪光轴的垂直度。然而，这种方法需要被测反射镜镜面与经纬仪光轴严格垂直。在实际工程应用中，反射镜经常安装于半封闭的外壳内，由于结构限制，经纬仪无法测量封闭结构内部的反射镜角度。这种情况下，通常依靠结构的尺寸链传递来间接保证内部反射镜的角度。但是，多个尺寸链之间的误差累积，使得反射镜的安装精度下降。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，解决现有装置...
【技术保护点】
1.一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，包括：经纬仪(1)、测量反射镜支架(2)、测量反射镜(3)、旋转平移机构(4)，所述测量反射镜(3)安装于测量反射镜支架(2)的一端，测量反射镜支架(2)通过旋转平移机构(4)安装于经纬仪(1)上，测量反射镜支架(2)绕旋转平移机构(4)旋转，改变测量反射镜(3)的角度，同时沿旋转平移机构(4)平移。
【技术特征摘要】
1.一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，包括：经纬仪(1)、测量反射镜支架(2)、测量反射镜(3)、旋转平移机构(4)，所述测量反射镜(3)安装于测量反射镜支架(2)的一端，测量反射镜支架(2)通过旋转平移机构(4)安装于经纬仪(1)上，测量反射镜支架(2)绕旋转平移机构(4)旋转，改变测量反射镜(3)的角度，同时沿旋转平移机构(4)平移。2.根据权利要求1所述的半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，还包括：角度测量尺(5)，所述角度测量尺(5)与旋转平移机构(4)安装在一起，经过预先标定，读出测量反射镜(3)镜面与经纬仪(1)出射光轴之间的夹角。3.根据权利要求1所述的半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，所述测量反射镜支架(2)是一个臂杆结构。4.根据权利要求1所述的半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，还包括被测组件。5.根据权利要求4所述的半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置，其特征在于，所述被测组件包括半封闭结构(6)、被测反射镜一(7)、被测反射镜二(8)，用于：测量时，首先通过自准直方法将经纬仪(1)的光轴与被测组件中的被测反射镜一(7)的镜面垂直；转动经纬仪(1)，使其光轴与被测反射镜一(7)产生夹角α，光轴通过被测反射镜一(7)反射至被测反射镜二(8)；通过移动测量反射镜支架(2)，将测量反射镜(3)移动至被测反射镜二(8)的前面，使出射光轴经过被测反射镜一(7)和被测反射镜二(8)反射至测量反射镜(3)上；旋转测量反射镜支架(2)改变测量反射镜(3)的角度，同时在经纬仪(1)中观察反射回来的自准直像，当自准直像在经纬仪(1)视场中心时，测量反射镜(3)与经过两个被测反射镜反射的经纬仪(1)光轴相互垂直，通过角度测量尺(5)读出测量反射镜(3)与经纬仪(1)出射光轴之间的夹角。6.一种半封闭结构内反射镜镜面平行度测量装置的测量方...
【专利技术属性】
技术研发人员：许敏达，陈祺，张鹏，
申请(专利权)人：北京遥感设备研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
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