结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法技术

本发明专利技术公开了一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过建立继电器有限元仿真模型，结合工艺数据，获得继电器输出特性初始分布；然后，通过对继电器进行失效模式及失效机理分析，结合继电器输出特性初始分布及贮存退化试验实测数据，建立具有分布特性的继电器贮存退化模型，结合电路仿真分析方法将底层继电器的贮存退化数据转换为继电器类单机贮存退化数据；最后，利用最小二乘方法，得到继电器类单机分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对继电器类单机的贮存可靠性评估。本发明专利技术解决了因试验经费及试验样本制约而导致的继电器类单机贮存可靠性评估精度较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法
本专利技术属于继电器类单机产品性能分析
，涉及一种继电器类单机贮存可靠性评估方法，具体涉及一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法。
技术介绍
产品的状态主要可以分为工作状态及贮存状态，对于某些一次使用型产品(导弹、汽车气囊、运载火箭等)，在使用之前绝大多数时间里，其任务剖面主要处于贮存状态。产品处于贮存状态时，由于受到贮存环境中湿度、温度、振动等的环境应力影响，性能参数会出现不同程度的退化，当超出所规定的失效阈值时，产品失效，无法继续使用。同时，相较于长期处于工作状态的普通产品，上述一次使用型产品在长贮状态下退化过程缓慢，通常需要更长的试验时间、更多的试验样本及更准确的试验测试条件才能得到较为准确的贮存可靠性评估结果。但由于一次使用型产品造价成本通常较高，可供试验使用的样本较少，且试验经费有限，无法长期进行加速贮存试验，测试所得退化数据不能完全表征产品在退化过程中的性能分布特性，使得贮存可靠性评估结果不准确。因此，在试验样本及经费有限的情况下，如何准确评估产品贮存可靠性是一项亟待解决的问题。继电器类单机广泛应用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，其特征在于所述方法步骤如下：步骤一：通过对使用厂家调研，得到继电器类单机实际贮存过程中出现的失效模式，通过失效机理分析，确定基于失效物理的各型号继电器贮存退化模型形式；步骤二：通过实际跟厂及对生产厂家调研，得到各型号继电器的零件及装配图纸，以及工艺数据；步骤三：根据步骤二中得到各型号继电器的零件及装配图纸，利用仿真软件分别建立各型号继电器的有限元仿真模型，并将步骤二中得到的各型号继电器工艺数据注入其中，得到各型号继电器输出特性的初始分布情况；步骤四：针对各型号继电器进行加速贮存退化试验，监测各型号继电器输出特性的贮存试验退化数据；步骤...

【技术特征摘要】
1.一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法，其特征在于所述方法步骤如下：步骤一：通过对使用厂家调研，得到继电器类单机实际贮存过程中出现的失效模式，通过失效机理分析，确定基于失效物理的各型号继电器贮存退化模型形式；步骤二：通过实际跟厂及对生产厂家调研，得到各型号继电器的零件及装配图纸，以及工艺数据；步骤三：根据步骤二中得到各型号继电器的零件及装配图纸，利用仿真软件分别建立各型号继电器的有限元仿真模型，并将步骤二中得到的各型号继电器工艺数据注入其中，得到各型号继电器输出特性的初始分布情况；步骤四：针对各型号继电器进行加速贮存退化试验，监测各型号继电器输出特性的贮存试验退化数据；步骤五：结合步骤一中得到的各型号继电器贮存退化模型、步骤三中得到的各型号继电器初始分布情况及步骤四中各型号继电器的贮存试验退化数据，利用粒子滤波预测方法，得到具有分布特性的各型号继电器贮存退化模型；步骤六：根据继电器类单机结构特点，对步骤五中得到的具有分布特性的各型号继电器贮存退化模型进行随机抽样，抽选出可构建n个继电器类单机的n组继电器组合，并将贮存时间带入，得到n组继电器组合的贮存退化数据；步骤七：根据继电器类单机的原理图，建立继电器类单机功能仿真模型；步骤八：将步骤六中所得到n...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟国富，林义刚，郑博恺，付饶，司爽，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江,23