确定熔丝烧录编码的方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种确定熔丝烧录编码的方法及装置，通过确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。从而通过本申请实施例提供的方案可以将分布概率较高的分布区间与烧录失败概率较低的熔丝烧录方案对应的烧录编码相对应，从而在修调电路参数时降低失败概率，进而提高了集成电路的产品良率，还减少了测试时间。

【技术实现步骤摘要】
确定熔丝烧录编码的方法及装置
本申请实施例涉及电路
，尤其涉及一种确定熔丝烧录编码的方法及装置。
技术介绍
在现有的集成电路制作过程中，由于制作完成后得到的电路参数可能与预设的电路参数存在偏差，需要通过烧录熔丝来修改集成电路内部的连接关系，从而修调存在偏差的电路参数，以纠正集成电路的偏差，从而在不增加成本的前提下提高集成电路的性能。但是由于工艺不足、熔丝烧录方案存在缺陷、电路版图设计存在缺陷等因素，可能会导致熔丝烧录操作失败的情况，使得得到的集成电路的产品的良率降低。因此，亟待提供一种技术方案，以有效解决由于熔丝烧录失败导致产品的良率降低的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种确定熔丝烧录编码的方法及装置，用以解决现有技术中的上述问题。本申请实施例提供了一种确定熔丝烧录编码的方法，其包括：确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。可选地，所述确定电路参数的多个分布区间包括：根据所述电路参数的标准值确定所述电路参数采样数据中所有电路参数的偏差值，以根据所述偏差值确定电路参数的多个分布区间。可选地，每个所述分布区间对应的分布概率为该分布区间内的所有电路参数的出现概率的加和。可选地，所述烧录编码用于指示熔丝烧录方案。可选地，所述多个分布区间对应的分布概率的值与对应的熔丝烧录方案的失败概率成负相关。可选地，所述熔丝烧录方案的失败概率为根据该所述熔丝烧录方案烧录熔丝时，所有熔丝的烧录失败概率的加和。可选地，若多个熔丝中所有熔丝的烧录失败概率相同，则所述熔丝烧录方案的失败概率为P＝np，其中，P为熔丝烧录方案的失败概率，n为该熔丝烧录方案中需要烧录的熔丝的数量，p为一个熔丝的烧录失败概率。可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码包括：预先确定与所述多个分布区间的数量相同的所述烧录编码，并确定所述烧录编码对应的所述熔丝烧录方案的失败概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系。可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系包括：从未确定对应关系的所述分布区间中，确定分布概率最高的分布区间；从未确定对应关系的所述烧录编码中，确定失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码；建立分布概率最高的分布区间和失败概率最低的熔丝烧录方案对应的烧录编码之间的对应关系。可选地，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间和所述烧录编码的一一对应关系包括：建立所述多个分布区间与所述烧录编码的一一预设对应关系；根据所述分布概率由高至低的顺序，更新所述分布区间对应的所述烧录编码，以更新所述预设对应关系。可选地，所述更新所述分布区间对应的所述烧录编码包括：根据预设对应关系确定与待更新的所述分布区间对应的第一烧录编码；从未被更新烧录编码中确定熔丝烧录方案的失败概率最低的第二烧录编码；若所述第一烧录编码对应的失败概率大于所述第二烧录编码对应的失败概率，则将所述第二烧录编码更新为所述待更新的分布区间对应的烧录编码。可选地，所述从未被更新烧录编码中确定熔丝烧录方案的失败概率最低的第二烧录编码包括：确定分布概率小于待更新的所述分布区间的至少一个分布区间；根据所述预设对应关系，确定所述至少一个分布区间分别对应的至少一个烧录编码；根据所述至少一个烧录编码对应的熔丝烧录方案的失败概率，确定失败概率的最小值，以确定第二烧录编码。可选地，所述将所述第二烧录编码更新为所述待更新的分布区间对应的烧录编码包括：互换所述第一烧录编码以及所述第二烧录编码分别对应的分布区间。本申请实施例提供一种确定熔丝烧录编码的装置，其包括：第一程序，用于确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；第二程序，用于根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。本申请实施例提供的确定熔丝烧录编码的方法及装置，通过确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。通过本申请实施例提供的方案可以将分布概率较高的分布区间与烧录失败概率较低的熔丝烧录方案对应的烧录编码相对应，从而在修调电路参数时降低失败概率，进而提高了集成电路的产品良率。附图说明后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请实施例的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：图1为本申请实施例提供的一种确定熔丝烧录编码的方法流程图；图2示出了一种成正态分布的电路参数的曲线图；图3为本申请实施例提供的一种确定分布区间对应的烧录编码的方法流程示意图。具体实施方式实施本申请实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。为了使本领域的人员更好地理解本申请实施例中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请实施例保护的范围。下面结合本申请实施例附图进一步说明本申请实施例具体实现。实施例一图1为本申请实施例提供的一种确定熔丝烧录编码的方法流程图，如图1所示，其包括：S11、确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率。具体地，在制作集成电路时，集成电路的电路参数的出现概率通常呈现某种分布形态，例如正态分布等，这个分布形态可以在采样多个集成电路后，根据电路参数采样数据确定。确定了电路参数出现的分布形态后，可以确定电路参数所有可能的值，以及对应的出现概率。例如图2所示，图2示出了一种成正态分布的电路参数的曲线图，图2中的横坐标表示电路参数Vparameter的值，图2中的纵坐标表示电路参数的出现概率的值。具体地，可以根据所述电路参数的标准值确定所述电路参数采样数据中所有电路参数的偏差值，以根据所述偏差值确定电路参数的多个分布区间。例如，在图2中，横坐标中的Vtarget为电路参数Vparameter的标准值，则确定的多个分布区间可以为：分布区间D3：x∈(Vtarget-a，Vtarget-b)，分布区间D2：x∈(Vtarget-b，Vtarget-c)，分布区间D1：x∈(Vtarget-c，Vtarget-d)，分布区间D0：x∈(Vtarget-d，Vtarget)，分布区间D4：x∈(Vtarget，Vtarget+e)，分布区间D5：x∈(Vtarget+e，Vtarget+f)，分布区间D6：x∈(Vtarget+f，Vtarget+g)，分布区间D7：x∈(Vtarget+g，Vtarget+h),其中，a、b、c、d、e、f、g、h为电路参数采样数据中电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定熔丝烧录编码的方法，其特征在于，包括：确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。

【技术特征摘要】
1.一种确定熔丝烧录编码的方法，其特征在于，包括：确定电路参数的多个分布区间以及所述多个分布区间分别对应的分布概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定电路参数的多个分布区间包括：根据所述电路参数的标准值确定所述电路参数采样数据中所有电路参数的偏差值，以根据所述偏差值确定电路参数的多个分布区间。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每个所述分布区间对应的分布概率为该分布区间内的所有电路参数的出现概率的加和。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述烧录编码用于指示熔丝烧录方案。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多个分布区间对应的分布概率的值与对应的熔丝烧录方案的失败概率成负相关。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述熔丝烧录方案的失败概率为根据该所述熔丝烧录方案烧录熔丝时，所有熔丝的烧录失败概率的加和。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，若多个熔丝中所有熔丝的烧录失败概率相同，则所述熔丝烧录方案的失败概率为P＝np，其中，P为熔丝烧录方案的失败概率，n为该熔丝烧录方案中需要烧录的熔丝的数量，p为一个熔丝的烧录失败概率。8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率，确定所述多个分布区间分别对应的烧录编码包括：预先确定与所述多个分布区间的数量相同的所述烧录编码，并确定所述烧录编码对应的所述熔丝烧录方案的失败概率；根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个分布区间分别对应的分布概率以及所述熔丝烧录方案的失败概率，确定所述多个分布区间与所述烧录编码的一一对应关系包括：从未确定对应关系的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴传奎，黄建刚，董源，王云松，高桂华，刘晓宇，程剑涛，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31