液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路，包括：第一信号电路，包括多个第一信号输入端和多条第一信号线；第一检测电路，包括多个第一检测端和多条第一检测线；第二信号电路，包括多个第二信号输入端和多条第二信号线；其中，第二液晶面板和第一液晶面板的尺寸不同；第二检测电路，包括多个第二检测端和多条第二检测线；第一检测电路还包括第三检测端，第三检测端通过第三检测线连接到所述第二检测线。本发明专利技术还公开了一种上述的检测电路的检测方法。本发明专利技术的液晶面板的跨线静电缺陷的检测电路及其检测方法可在对液晶面板的线路检测时检测出跨线静电短路缺陷，及时拦截有缺陷的产品，避免缺陷产品流入下道工序造成的成本浪费。

【技术实现步骤摘要】
液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法
本专利技术属于液晶显示
，具体地，涉及一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法。
技术介绍
MMG(Mutil-MoudelGlass，多模型的玻璃)套切技术是将大小不同的两种液晶面板混合设计在同一玻璃基板上，这种技术大大提高了玻璃基板的利用率。例如G8.5代线，43寸液晶面板的切割利用率仅有75％；而将43寸与22寸液晶面板进行混合的切割利用率高达97％。但是MMG模式的产品(如22&43寸)的Curing走线(配向走线)一般为单侧布线，外围不同尺寸的液晶面板的布线跨线密度较大，导致制程容易产生ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)，对线路造成损坏，影响良率。邻近的走线在跨线部位极易产生静电释放，造成跨线部位的上下两层金属线路发生短路。而在液晶面板的生产过程中，通过ATSTEST(自动测试)工序对液晶面板的线路进行检测，但ATSTEST检测只能分别对不同尺寸的液晶面板，如分别对22寸液晶面板、43寸液晶面板的线路进行检测，这样43寸液晶面板的线路与22寸液晶面板的线路的跨线处静电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：第一信号电路(200)，包括多个第一信号输入端(220)和多条第一信号线(210)，所述多个第一信号输入端(220)通过多条第一信号线(210)连接到形成在基板上的第一液晶面板(100)上；第一检测电路(300)，包括多个第一检测端(320)和多条第一检测线(310)，所述多个第一检测端(320)通过多条第一检测线(310)连接到所述多条第一信号线(210)；第二信号电路(500)，包括多个第二信号输入端(520)和多条第二信号线(510)，所述多个第二信号输入端(520)通过多条第二信号线(510)连接到形成在所述基...

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：第一信号电路(200)，包括多个第一信号输入端(220)和多条第一信号线(210)，所述多个第一信号输入端(220)通过多条第一信号线(210)连接到形成在基板上的第一液晶面板(100)上；第一检测电路(300)，包括多个第一检测端(320)和多条第一检测线(310)，所述多个第一检测端(320)通过多条第一检测线(310)连接到所述多条第一信号线(210)；第二信号电路(500)，包括多个第二信号输入端(520)和多条第二信号线(510)，所述多个第二信号输入端(520)通过多条第二信号线(510)连接到形成在所述基板上的第二液晶面板(400)上；其中，所述第二液晶面板(400)和所述第一液晶面板(100)的尺寸不同；第二检测电路(600)，包括多个第二检测端(620)和多条第二检测线(610)，所述多个第二检测端(620)通过多条第二检测线(610)连接到所述多条第二信号线(510)，每条第二检测线(610)与所述多条第一信号线(210)交叉设置；所述第一检测电路(300)还包括第三检测端(340)，所述第三检测端(340)通过第三检测线(330)连接到所述第二检测线(610)，所述第三检测线(330)与所述第二检测线(610)的连接处位于所述多个第二检测端(620)和所述多条第一信号线(210)之间；其中，所述第三检测端(340)用于向所述第三检测线(330)施加第一检测电压，所述第一信号输入端(220)用于向所述第一信号线(210)施加与所述第一检测电压不同的第二检测电压，所述第一检测端(320)用于检测所述第一信号线(210)上的反馈电压是否在预设正常电压范围内。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第三检测端(340)通过所述第三检测线(330)连接到与所述第一信号线(210)和所述第二信号线(510)交叉最多的第二检测线(610)。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述多条第一信号线(210)从所述多个第二检测端(620)到所述多条第二信号线(510)的方向顺序包括：第一彩膜基板公共电极信号线(217)、第一阵列基板公共电极信号线(216)、第一栅极偶电极信号线(215)、第一栅极奇电极信号线(214)、第一红色像素信号线(213)、第一绿色像素信号线(212)以及第一蓝色像素信号线(211)。4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述多条第二信号线(510)从所述多个第二检测端(620)到所述多个第一信号输入端(220)的方向顺序包括：第二阵列基板公共电极信号线(511)、第二栅极偶电极信号线(512)、第二栅极奇电极信号线(513)、第二红色像素信号线(514)、第二绿色像素信号线(515)、第二蓝色像素信号线(516)、第二彩膜基板公共电极信号线(517)。5.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，所述多个第一检测线(310)从所述多个第一信号线(210)到所述多个第一信号输入端(220)的方向顺序包括：第一彩膜基板公共电极检测线(311)、第一阵列基板公共电极检测线(312)、第一栅极偶电极检测线(313)、第一栅极奇电极检测线(314)、第一红色像素检测线(315)、第一绿色像素检测线(316)以及第一蓝色像素检测线(317)。6.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，所述多个第二检测线(610)从所述多个第一信号线(210)到所述多个第一信号输入端(22...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟文雄，胡平，彭焕，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44