半导体器件和控制半导体器件的方法技术

本发明专利技术涉及半导体器件和控制半导体器件的方法。在抑制电路尺寸增大同时，防止由电流急剧波动而引起的故障。一种半导体器件包括多个模块。该半导体器件包括：表格，其存储每个模块中的多个操作频率和基于操作频率确定的多个分数，使得每个模块的操作频率和分数彼此关联；分数指定单元，其获取模块的时钟操作频率，并参照表格，基于时钟操作频率来指定分数；和输出单元，如果指定的分数超过预定阈值，则其输出在不同的时间激活模块的指令。

【技术实现步骤摘要】
半导体器件和控制半导体器件的方法相关申请的交叉参考2017年5月22日提交的日本专利申请No.2017-100756的公开——包括说明书、附图和摘要，通过引用的方式将其全部并入本文。
本专利技术涉及一种半导体器件和控制半导体器件的方法，并且涉及例如包括多个模块的半导体器件和控制半导体器件的方法。
技术介绍
众所周知，当电源开关在内部电路中接通时，同时会产生电流，从而导致半导体IC故障。日本未经审查的专利申请公开No.2008-218722公开一种在半导体IC中的冲击电流监测电路的技术。
技术实现思路
在该技术中，为了防止微控制单元(MCU)中Vdd的瞬间下降或上升，可以为电源单元的容量提供裕度(margin)或者可以增加MCU内部容量。然而，所有这些措施都导致了芯片规模的扩大。在日本未经审查的专利申请公开No.2008-218722中，不能解决这些问题。通过对本专利技术书和附图的描述，其他问题和新的特征将变得清楚。根据实施例，一种半导体器件包括：表格，其存储多个模块中的多个操作频率和基于操作频率确定的多个分数，使得每个模块的操作频率和分数彼此关联；分数指定单元，其获取模块的时钟操作频率，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种包括多个模块的半导体器件，所述半导体器件包括：表格，所述表格存储每个所述模块中的多个操作频率和基于所述操作频率所确定的多个分数，使得对于每个所述模块的所述操作频率和所述分数彼此关联；分数指定单元，所述分数指定单元获取所述模块的时钟操作频率，并且参照所述表格而基于所述时钟操作频率来指定所述分数；以及输出单元，如果所指定的分数超过预定阈值，则所述输出单元输出用于在不同的时间激活所述模块的指令。

【技术特征摘要】
2017.05.22 JP 2017-1007561.一种包括多个模块的半导体器件，所述半导体器件包括：表格，所述表格存储每个所述模块中的多个操作频率和基于所述操作频率所确定的多个分数，使得对于每个所述模块的所述操作频率和所述分数彼此关联；分数指定单元，所述分数指定单元获取所述模块的时钟操作频率，并且参照所述表格而基于所述时钟操作频率来指定所述分数；以及输出单元，如果所指定的分数超过预定阈值，则所述输出单元输出用于在不同的时间激活所述模块的指令。2.根据权利要求1的半导体器件，其中，所述分数是基于当在与所述分数相关联的操作频率下操作与所述分数相关联的模块时所要求的电流消耗值而确定的值。3.根据权利要求1的半导体器件，其中，所述分数是基于所述半导体器件中的所述模块的重要性或所述半导体器件的容许电流规格而确定的值。4.根据权利要求1的半导体器件，进一步包括：用于存储所述预定阈值的阈值寄存器。5.根据权利要求1的半导体器件，进一步包括：用于控制所述模块的激活的多个模块激活控制寄存器，其中，所述表格存储用于在所述操作频率下操作所述模块所要求的电流消耗值，...

【专利技术属性】
技术研发人员：作村浩太郎，堀越康敬，橘浩司，加岛启太，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP