基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量装置及方法，包括锁模激光器、待测电光强度调制器、微波信号源、直流电压源、低频光电探测器、频谱分析仪、电脑；本发明专利技术利用低速光学下变频采样实现宽带电光强度调制器的幅频响应测量，由于光学下变频采样具有采样率低、模拟带宽大、精度高的特点，本测量系统具有低频探测、无需校准光电探测器的优点；且与已有的低频探测方法相比，本测量系统仅利用单一微波信号源，结构简单、成本较低。

Measurement Method and Device of Amplitude-Frequency Characteristics of Electro-Optical Intensity Modulator Based on Optical Sampling

The invention provides an electro-optic intensity modulator amplitude-frequency characteristic measurement device and method based on optical sampling, including a mode-locked laser, an electro-optic intensity modulator to be measured, a microwave signal source, a DC voltage source, a low-frequency photoelectric detector, a spectrum analyzer and a computer; the invention realizes broadband electro-optic by using low-speed optical down-conversion sampling. For the measurement of amplitude-frequency response of intensity modulator, the optical down-conversion sampling system has the advantages of low sampling rate, wide analog bandwidth and high accuracy, so it has the advantages of low frequency detection and no need to calibrate photoelectric detectors; moreover, compared with the existing low frequency detection methods, the measurement system only uses a single microwave signal source and structure. Simple and low cost.

【技术实现步骤摘要】
基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量方法及装置
本专利技术涉及光电
，特别涉及一种基于低速光学下变频采样技术的宽带电光强度调制器幅频特性测量方法及装置。
技术介绍
随着宽带光纤通信、微波光子等技术的发展，作为其中关键器件之一的电光强度调制器，其带宽等参数也随之提高。在宽带应用系统中，强度调制器的幅频特性，主要指半波电压随频率的变化，会影响系统的整体性能。因此，强度调制器半波电压的精确测量对系统设计中的性能优化和器件制造中的特性评估有着重要的意义。传统的光谱分析法测量强度调制器的幅频响应，由于商用的光谱分析仪的频谱分辨率通常只能达到1.25GHz(0.01nm)@1550nm，其测量初始频率和测量分辨率通常被限制在2.5GHz和1.25GHz@1550nm。基于电谱分析的调制器幅频响应测量方法因其具有分辨率高的有点受到了广泛关注。基于电谱分析的强度调制器幅频响应测量方法主要分为三类：矢量网络分析仪法、移频外差法和低频探测法。基于矢量网络分析仪(vectornetworkanalyzer,VNA)的频响测量方法是一种典型的电谱分析法(P.D.Hale,andD.F.William本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量装置，其特征在于：包括锁模激光器(1)，待测电光强度调制器(2)，微波信号源(3)，直流电压源(4)，低频光电探测器(5)，频谱分析仪(6)，电脑(7)；锁模激光器(1)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的光学输入端口，微波信号源(3)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的微波输入端口，直流电压源(4)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的偏置电压输入端口，待测电光强度调制器(2)的输出端口连接低频光电探测器(5)的输入端口，低频光电探测器(5)的输出端口连接频谱分析仪(6)的输入端口，电脑的第一数据端口a连接频谱分析仪(6)的数据端口，电...

【技术特征摘要】
1.一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量装置，其特征在于：包括锁模激光器(1)，待测电光强度调制器(2)，微波信号源(3)，直流电压源(4)，低频光电探测器(5)，频谱分析仪(6)，电脑(7)；锁模激光器(1)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的光学输入端口，微波信号源(3)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的微波输入端口，直流电压源(4)的输出端口连接待测电光强度调制器(2)的偏置电压输入端口，待测电光强度调制器(2)的输出端口连接低频光电探测器(5)的输入端口，低频光电探测器(5)的输出端口连接频谱分析仪(6)的输入端口，电脑的第一数据端口a连接频谱分析仪(6)的数据端口，电脑的第二数据端口b连接微波信号源(3)的数据端口。2.根据权利要求1所述的一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量装置，其特征在于：所述锁模激光器(1)输出低重频的超短光脉冲序列，光脉冲序列输入到待测电光强度调制器(2)对扫频微波信号进行光学下变频采样，其中扫频微波信号由电脑(7)控制微波信号源(3)输出，待测电光强度调制器(2)的偏置电压由直流电压源(4)控制在线性偏置点；待测电光强度调制器(2)输出的采样后光脉冲输出到低频光电探测器(5)，获得拍频电信号的低频成分并输入到频谱分析仪(6)；频谱分析仪(6)测得所需低频频段频谱信息，并将频谱信息输入电脑(7)；电脑(7)对频谱进行分析，选出有效信号功率并保存，在扫描测量结束后计算出电光强度调制器的幅频特性。3.一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、利用待测调制器将频率为fs的微波信号加载到锁模激光器输出的重复频率为fr的超短光脉冲序列强度包络上，实现光学下变频采样...

【专利技术属性】
技术研发人员：马阳雪，张旨遥，张尚剑，张雅丽，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51