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本发明提供一种基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量装置及方法，包括锁模激光器、待测电光强度调制器、微波信号源、直流电压源、低频光电探测器、频谱分析仪、电脑；本发明利用低速光学下变频采样实现宽带电光强度调制器的幅频响应测量，由于光学下变频采...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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