一种具有弹性探针的集成电路测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有弹性探针的集成电路测试插座，其结构包括上按板、后侧连接器、旋转连接件、螺栓、上板、集成电路、金属薄片、固定板、固定地脚、集成电路插座、弹性探针装置、盖板、下按板、连接环、侧边板、侧板、侧边弹性探针、侧边连接件，上按板的下表面安装于上板的上方，后侧连接器的前侧与上板相连接，旋转连接件的下方安装于上板的上方，螺栓与集成电路插座螺纹连接，上板的上方设有连接环，集成电路与金属薄片电连接，金属薄片的下表面安装于弹性探针装置的上方，本实用新型专利技术一种具有弹性探针的集成电路测试插座，在其结构上设置了弹性探针装置，使其具有两处弹性的效果，使当集成电路放进插座测试时，可根据弹性调节高度。

An Integrated Circuit Test Socket with Elastic Probe

The utility model discloses an integrated circuit test socket with an elastic probe, which comprises an upper press plate, a rear connector, a rotating connector, bolts, upper plates, integrated circuits, metal sheets, a fixed plate, a fixed foot, an integrated circuit socket, an elastic probe device, a cover plate, a lower press plate, a connecting ring and a side edge. Plates, side plates, side elastic probes and side connectors are mounted on the lower surface of the upper plate. The front side of the rear connector is connected with the upper plate. The lower side of the rotary connector is mounted on the top of the upper plate. The bolts are connected with the socket of the integrated circuit. The upper plate is provided with a connecting ring and the integrated circuit is thin with metal. The lower surface of the metal sheet is mounted on the top of the elastic probe device. The utility model relates to an integrated circuit test socket with an elastic probe. The elastic probe device is arranged on the structure of the socket, which has two elastic effects. When the integrated circuit is put into the socket for testing, the height can be adjusted according to the elasticity.

【技术实现步骤摘要】
一种具有弹性探针的集成电路测试插座
本技术是一种具有弹性探针的集成电路测试插座，属于集成电路领域。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。现有技术公开了申请号为：CN02202154.X的一种具有弹性探针的集成电路测试插座，包括一插座本体及复数弹性探针，其中，该等弹性探针以阵列方式设于该插座本体上，并分别包括一插设端、一弹性部及一探测端，而该探测端向上延伸有数个呈锥状的触接角，该等触接角的顶端又分别形成有触点，且各触点皆位于一假想圆的圆周上，并使该假想圆的圆周直径小于所欲检测的集成电路的锡球直径，但是该现有技术弹性的效果较差，导致当集成电路放进插座测试时，有时位置过高。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术目的是提供一种具有弹性探针的集成电路测试插座，以解决现有技术弹性的效果较差，导致当集成电路放进插座测试时，有时位置过高的问题。为了实现上述目的，本技术是通过如下的技术方案来实现：一种具有弹性探针的集成本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有弹性探针的集成电路测试插座，其特征在于：其结构包括上按板(1)、后侧连接器(2)、旋转连接件(3)、螺栓(4)、上板(5)、集成电路(6)、金属薄片(7)、固定板(8)、固定地脚(9)、集成电路插座(10)、弹性探针装置(11)、盖板(12)、下按板(13)、连接环(14)、侧边板(15)、侧板(16)、侧边弹性探针(17)、侧边连接件(18)，所述上按板(1)的下表面安装于上板(5)的上方，所述后侧连接器(2)的前侧与上板(5)相连接，所述旋转连接件(3)的下方安装于上板(5)的上方，所述螺栓(4)与集成电路插座(10)螺纹连接，所述上板(5)的上方设有连接环(14)，所述集成电...

【技术特征摘要】
1.一种具有弹性探针的集成电路测试插座，其特征在于：其结构包括上按板(1)、后侧连接器(2)、旋转连接件(3)、螺栓(4)、上板(5)、集成电路(6)、金属薄片(7)、固定板(8)、固定地脚(9)、集成电路插座(10)、弹性探针装置(11)、盖板(12)、下按板(13)、连接环(14)、侧边板(15)、侧板(16)、侧边弹性探针(17)、侧边连接件(18)，所述上按板(1)的下表面安装于上板(5)的上方，所述后侧连接器(2)的前侧与上板(5)相连接，所述旋转连接件(3)的下方安装于上板(5)的上方，所述螺栓(4)与集成电路插座(10)螺纹连接，所述上板(5)的上方设有连接环(14)，所述集成电路(6)与金属薄片(7)电连接，所述金属薄片(7)的下表面安装于弹性探针装置(11)的上方，所述固定板(8)安装于弹性探针装置(11)的内侧，所述集成电路插座(10)的下方均匀的设有四个固定地脚(9)，所述弹性探针装置(11)的下表面嵌入于集成电路插座(10)的内部，所述盖板(12)的后侧贴合于上板(5)的前侧，所述连接环(14)的内侧焊接于上按板(1)的前侧，所述侧边板(15)的下方安装于侧边连接件(18)的上方，所述侧板(16)的左侧表面贴合于侧边连接件(18)的右侧表面，所述侧边弹性探针(17)的上表面嵌入安装于侧板(16)的内部，所述弹性探针装置(11)由引脚(1101)、陶瓷板(1102)、第一弹簧(110...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘芳婷，
申请(专利权)人：泉州市五加一电子商务有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35