一种测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种测试系统，该系统包括1台电源设备、N台待测试设备和1台负载，所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，N为大于或等于2的整数，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，可提高对待测试设备的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统
本技术涉及电子信息
，尤其涉及一种测试系统。
技术介绍
在电子产品的生产中，为了检测产品的可靠性以及筛选出不良品，常采用老化系统对电子产品进行测试，即让电子产品在高温下带载长时间运行，使得电子设备老化，通常情况下采用的老化系统都是使每个电子产品带一个固定的负载运行，从而实现对该电子产品的老化，因此在对电子设备进行测试并使得电子设备老化时需要的负载设备较多，会降低对电子产品的测试效率，而且会消耗大量的能量，特别是当某一生产批次中电子产品数量较大时，由于需要对该生产批次进行老化的数量大，更会导致测试效率的下降并会加大对能量的消耗。
技术实现思路
本技术提供了一种测试系统，可提高对待测试设备的测试效率。第一方面，本技术提供了一种测试系统，该系统包括：1台电源设备、N台待测试设备和1台负载；所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，N为大于或等于2的整数；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式。其中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：1台电源设备、N台待测试设备和1台负载；所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，N为大于或等于2的整数；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式。

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：1台电源设备、N台待测试设备和1台负载；所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，N为大于或等于2的整数；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式；所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备在预设时长后切换到第二工...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，陈晓斌，
申请(专利权)人：深圳欣锐科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44