一种针对高密度PCB板的电路结构制造技术

本申请适用于计算机领域，提供了一种针对高密度PCB板的电路结构，包括球栅阵列封装电子器件，在所述球栅阵列封装电子器件下方的PCB布线区域的过孔位置设置测点；所述过孔一端的导体层周围的PCB被阻焊层覆盖，且所述过孔被阻焊层全塞并露出所述过孔一端的导体层的外圈部分，形成所述测点；所述过孔另一端的导体层及其导体层周围的PCB被阻焊层覆盖。本申请实施例通过在BGA电子器件背面的过孔上设置测点，使得在PCB板面积有限、集成度较高的情况下，节省PCB面积，方便电路的测试，同时不影响PCB电路信号质量。

A Circuit Structure for High Density PCB Board

The present application is applicable to the computer field and provides a circuit structure for high density PCB board, including a ball grid array encapsulated electronic device, a measuring point is set at the position of the through hole in the PCB wiring area below the ball grid array encapsulated electronic device, and the PCB around the conductor layer at one end of the through hole is covered by a solder barrier layer. The hole is completely plugged by the solder blocking layer and exposes the outer ring part of the conductor layer at one end of the hole to form the measuring point, and the conductor layer at the other end of the hole and the PCB around the conductor layer are covered by the solder blocking layer. The embodiment of this application saves the area of PCB and facilitates the test of circuit without affecting the signal quality of PCB circuit when the area of PCB board is limited and the integration degree is high by setting measuring points on the hole on the back of BGA electronic device.

【技术实现步骤摘要】
一种针对高密度PCB板的电路结构
本申请属于计算机领域，尤其涉及一种针对高密度PCB板的电路结构。
技术介绍
在PCB电路中，为提高产品成品率以及验证产品的性能，PCB电路板的测试环节不可缺少，对于PCB电路中BGA(BallGridArray，球栅阵列)封装的电子器件，通常的测试方法是在PCB板上设置测点，通过测点以完成对主要信号的测量。但随着电子产品集成度增加，PCB板单位面积内的电子器件以及布线越来越密集，信号质量、速率的要求也越发严格。由于每个测点会占用一定的PCB电路板面积，所以对于密度比较高的PCB电路、在PCB面积有限或者线路信号质量要求比较高的情况下，已不允许电路设计人员任意拉线加测点。因此，为达到节省PCB面积，合理设置测点，且不影响信号质量，以方便对于BGA封装电子器件的各路信号的正确测试，便是一个有待解决的技术问题。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种针对高密度PCB板的电路结构，旨在解决
技术介绍
中所提到的问题。本申请是这样实现的，一种针对高密度PCB板的电路结构，包括球栅阵列封装电子器件，在所述球栅阵列封装电子器件下方的PCB布线区域的过孔位置设置测点；所述过孔一端的导体层周围的PCB被阻焊层覆盖，且所述过孔被阻焊层全塞并露出所述过孔一端的导体层的外圈部分，形成所述测点；所述过孔另一端的导体层及其导体层周围的PCB被阻焊层覆盖。进一步的，所述测点的形状为环形。更进一步的，所述环形的宽度不小于4mil通过在BGA电子器件下方的PCB布线区域的过孔位置设置测点，使得在PCB板面积有限、集成度较高的情况下，节省PCB面积，方便电路的测试，同时不影响PCB电路信号质量。附图说明图1是本申请实施例提供的PCB板电路结构示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、原理及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。在本申请的实施例中针对高密度PCB板的电路结构，包括球栅阵列封装电子器件，且在所述球栅阵列封装电子器件下方的PCB布线区域的过孔位置设置测点；所述过孔一端的导体层周围的PCB被阻焊层覆盖，且所述过孔被阻焊层全塞并露出所述过孔一端的导体层的外圈部分，形成所述测点；所述过孔另一端的导体层及其导体层周围的PCB被阻焊层覆盖。图1示出了本申请一实施例，如图1所示：在PCB板3上设置有过孔1，所述过孔1用于PCB板3不同层之间的连通，在本实施例中，导体层为铜层，所述过孔1的侧壁以及上下端边缘区域设置有铜层4。过孔1的顶端铜层4周围的PCB板3，被阻焊层2所覆盖，所述阻焊层2可以为绿油。对于过孔1的底端铜层4及其周围的PCB板3，被阻焊层2覆盖。同时，整个过孔1被阻焊层全塞处理，以防止PCB制程中，BGA器件电路虚焊的问题。过孔1顶端的铜层4部分，其铜层4中心小部分连同顶端过孔1区域被阻焊层2覆盖，露出外圈部分的部分铜层5，形成PCB板3上的测点。露出的部分铜层5形状为环形，其宽度D不小于4mil。在具体的实施例中，BGA电子器件设置在PCB板3的一侧，所述测点设置在PCB板3的另一侧与BGA电子器件相对应的区域。通过在过孔1上设置测点，使得在小面积或集成度很高的PCB电路设计中，节省PCB板的面积。同时，该测点可以设置在BGA封装器件的背面，节省PCB电路，方便电路的测试，同时不影响PCB电路信号质量。以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对高密度PCB板的电路结构，包括球栅阵列封装电子器件，其特征在于，在所述球栅阵列封装电子器件下方的PCB 布线区域的过孔位置设置测点；所述过孔一端的导体层周围的PCB 被阻焊层覆盖，且所述过孔被阻焊层全塞并露出所述过孔一端的导体层的外圈部分，形成所述测点；所述过孔另一端的导体层及其导体层周围的PCB 被阻焊层覆盖。

【技术特征摘要】
1.一种针对高密度PCB板的电路结构，包括球栅阵列封装电子器件，其特征在于，在所述球栅阵列封装电子器件下方的PCB布线区域的过孔位置设置测点；所述过孔一端的导体层周围的PCB被阻焊层覆盖，且所述过孔被阻焊层全塞并露出所述过孔一端的导体层的外圈部分，形成所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜娟花，于健涛，
申请(专利权)人：南京雨花智高科教工作坊，
类型：发明
国别省市：江苏,32