一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置及设备制造方法及图纸

本申请公开了一种耦合电容参考层挖空的检查方法，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据检查需求确定待检查高速线；查询与待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据位置信息及检查规则确定待检查区域；判断待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录该耦合电容的参考层挖空不满足要求。本申请所提供的技术方案，通过自动检查PCB高速线的串联耦合电容的参考层挖空是否满足要求的方式，避免了人工检查工作效率低下、易漏检的情况，节省了人力资源，提高了检查质量和效率，缩短PCB设计的开发周期，同时使用范围广，推广度高。本申请同时还提供了一种耦合电容参考层挖空的检查装置、设备及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

An Inspection Method, Device and Equipment for Excavation of Coupled Capacitance Reference Layer

This application discloses a method for checking the hollowing out of the coupling capacitor reference layer, which includes: receiving the input checking requirements and checking rules; determining the high-speed line to be checked according to the checking requirements; inquiring the position information of the coupling capacitor in series with the high-speed line to be checked; determining the checking area according to the location information and checking rules; Whether there is copper foil covering in the area to be inspected; if so, the reference layer for recording the coupling capacitance is not hollowed out to meet the requirements. By automatically checking whether the reference layer of the series coupling capacitor of the PCB high-speed line is hollowed out to meet the requirements, the technical scheme provided in this application avoids the situation of low efficiency and easy to miss checking by manual checking, saves human resources, improves the quality and efficiency of checking, shortens the development cycle of the PCB design, and at the same time makes the checking work less efficient and easy to miss checking. It is widely used and highly popularized. The application also provides a checking device, equipment and computer readable storage medium for digging holes in the coupling capacitance reference layer, which has the above beneficial effects.

【技术实现步骤摘要】
一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置及设备
本申请涉及云运算产品PCB设计领域，特别涉及一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在云运算产品(服务器、存储器等)里，其主板、扩展板、交换板等板卡中的高速线(如PCIe、SATA、10G-KR等)会串联耦合电容，利用耦合电容通交隔直的特性，在保证信号正常传输的同时，可以兼容不同代际电压的芯片；推而广之，所有直流偏置电压不同的芯片间需要进行信号交换的话，中间必须添加一个耦合电容。在PCB布线中，走线宽度为几个mil，但是pad的宽度却是几十个mil，相当于信号路径变宽了，阻抗自然会下降，为了抬升这个区域的阻抗，需要将临近的参考层挖掉，变相增加介质厚度；至于挖空的尺寸，需要挖的层数，则取决于链路对阻抗不连续的敏感程度、PCB板材的参数、链路的阻抗要求、周围走线状况这几个因素，优化原则为通过挖空可以使得电容区域的阻抗尽量接近链路的阻抗。基于不同高速信号串联耦合电容参考层的挖空规则，布线人员在实际操作过程中，难免会有失误的发生，而由于当前布线软件无法实现自动化检查，所以需要在布线完成后，需要手动进行严格检查，存在着费时、易漏检等问题。因此，如何对耦合电容的参考层挖空进行检查是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置、设备及计算机可读存储介质，用于对高速线的阻抗连续性进行检查。为解决上述技术问题，本申请提供一种耦合电容参考层挖空的检查方法，该方法包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据所述检查需求确定待检查高速线；查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；判断所述待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。可选的，当所述待检查区域没有铜箔覆盖时，还包括：获取所述耦合电容的参考层挖空的位置信息；根据所述位置信息计算所述参考层挖空的面积与所述待检查区域的面积的差值；判断所述差值是否小于阈值；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空满足要求；若否，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。可选的，根据所述检查需求确定待检查高速线，包括：根据所述检查需求确定待查询的关键字；根据所述关键字进行查询，并查询到的高速线作为所述待检查高速线。本申请还提供一种耦合电容参考层挖空的检查装置，该装置包括：接收单元，用于接收输入的检查需求及检查规则；第一确定单元，用于根据所述检查需求确定待检查高速线；查询单元，用于查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；第二确定单元，用于根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；第一判断单元，用于判断所述待检查区域内是否有铜箔覆盖；第一记录单元，用于当所述待检查区域内有铜箔覆盖时，记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。可选的，还包括：获取单元，用于获取所述耦合电容的参考层挖空的位置信息；计算单元，用于根据所述位置信息计算所述参考层挖空的面积与所述待检查区域的面积的差值；第二判断单元，用于判断所述差值是否小于阈值；第二记录单元，用于当所述差值小于所述阈值时，记录所述耦合电容的参考层挖空满足要求；当所述差值不小于所述阈值时，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。可选的，所述查询单元包括：确定子单元，用于根据所述检查需求确定待查询的关键字；查询子单元，用于根据所述关键字进行查询，并查询到的高速线作为所述待检查高速线。本申请还提供一种耦合电容参考层挖空检查设备，该耦合电容参考层挖空检查设备包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述任一项所述耦合电容参考层挖空的检查方法的步骤。本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述耦合电容参考层挖空的检查方法的步骤。本申请所提供耦合电容参考层挖空的检查方法，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据检查需求确定待检查高速线；查询与待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据位置信息及检查规则确定待检查区域；判断待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录该耦合电容的参考层挖空不满足要求。基于不同高速信号串联耦合电容参考层的挖空规则，布线人员在实际操作过程中，难免会有失误的发生，而由于当前布线软件无法实现自动化检查，所以需要在布线完成后，需要手动进行严格检查，存在着费时、易漏检等问题。本申请所提供的技术方案，通过自动检查PCB高速线的串联耦合电容的参考层挖空是否满足要求的方式，避免了人工检查工作效率低下、易漏检的情况，节省了人力资源，提高了检查质量和效率，缩短PCB设计的开发周期，同时使用范围广，推广度高。本申请同时还提供了一种耦合电容参考层挖空的检查装置、设备及计算机可读存储介质，具有上述有益效果，在此不再赘述。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请实施例所提供的一种耦合电容参考层挖空的检查方法的流程图；图2为本申请实施例所提供的另一种耦合电容参考层挖空的检查方法的流程图；图3为本申请实施例所提供的一种耦合电容参考层挖空的检查装置的结构图；图4为本申请实施例所提供的另一种耦合电容参考层挖空的检查装置的结构图；图5为本申请实施例所提供的一种耦合电容阻抗检查设备的结构图。具体实施方式本申请的核心是提供一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置、设备及计算机可读存储介质，用于简化在数据中心中使用存储装置时的管理操作。为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种耦合电容参考层挖空的检查方法的流程图。其具体包括如下步骤：S101：接收输入的检查需求及检查规则；基于不同高速信号串联耦合电容参考层的挖空规则，布线人员在实际操作过程中，难免会有失误的发生，而由于当前布线软件无法实现自动化检查，所以需要在布线完成后，需要手动进行严格检查，存在着费时、易漏检等问题。因此，本申请提供了一种耦合电容参考层挖空的检查方法，用于对耦合电容的参考层挖空进行检查；由于当前布线软件中可能存在着多条高速线，因此需要在多条高速线中确定带检查高速线，这里提到的检查需求，其具体可以为用户或程序输入的待检查高速线的ID信息或其他身份信息，以便达到根据该检查需求确定待检查高速线的目的；这里提到的检查规则，其具体可以为用户或程序输入的待检查区域的大小及形状，例如该检查规则可以为“长为20mil，宽为15mil的矩形”，以便达到根据该检查规则及耦合电容的位置信息确定带检查区域的目的，当然，本申请对检查规则的形式不做具体限定，用户可根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种耦合电容参考层挖空的检查方法，其特征在于，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据所述检查需求确定待检查高速线；查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；判断所述待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。

【技术特征摘要】
1.一种耦合电容参考层挖空的检查方法，其特征在于，包括：接收输入的检查需求及检查规则；根据所述检查需求确定待检查高速线；查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；判断所述待检查区域内是否有铜箔覆盖；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。2.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于，当所述待检查区域没有铜箔覆盖时，还包括：获取所述耦合电容的参考层挖空的位置信息；根据所述位置信息计算所述参考层挖空的面积与所述待检查区域的面积的差值；判断所述差值是否小于阈值；若是，则记录所述耦合电容的参考层挖空满足要求；若否，则记录所述耦合电容的参考层挖空不满足要求。3.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于，根据所述检查需求确定待检查高速线，包括：根据所述检查需求确定待查询的关键字；根据所述关键字进行查询，并查询到的高速线作为所述待检查高速线。4.一种耦合电容参考层挖空的检查装置，其特征在于，包括：接收单元，用于接收输入的检查需求及检查规则；第一确定单元，用于根据所述检查需求确定待检查高速线；查询单元，用于查询与所述待检查高速线串联的耦合电容的位置信息；第二确定单元，用于根据所述位置信息及所述检查规则确定待检查区域；第...

【专利技术属性】
技术研发人员：李艳军，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41