回转精度测量方法和测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种回转精度测量方法和测量装置，所述方法包括：提取所述第一特征点在第一图像的坐标(x11,y11)和在第二图像中的坐标(x12,y12)，以及提取所述第二特征点在第一图像的坐标(x21,y21)和在第二图像中的坐标(x22,y22)；根据(x11,y11)和(x21,y21)确定第一方位角θ1；根据(x12,y12)和(x22,y22)确定第二方位角θ2，根据所述第一方位角θ1和所述第二方位角θ2夹角θ＝θ2‑θ1；比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。前述方法采用图像采集系统分别获得第一时刻和第二时刻时第一特征点和第二特征点的坐标，利用两个时刻坐标两个特征点坐标连线确定的直线之间的夹角和驱动指令中的驱动角进行比较，判定回转精度，实现回转精度地快速和准确判断。

【技术实现步骤摘要】
回转精度测量方法和测量装置
本专利技术涉及机器设备检测
，特别涉及一种回转精度测量方法和测量装置。
技术介绍
诸如坦克、挖掘机等机械设备对回转平台的回转角度精度有特殊要求，因此其内部配置有测量回转角度的编码器。在前述设备出厂前，编码器与待测试回转平台具有较好的配合精度，编码器测量的回转角度和机械部件实际运动行程的回转角度相同，能够保证设备回转的精度控制；而当待测试回转平台进行大修后，因为机械设备的运转特定发生改变，所以编码器的编码特性和机械部件的运行特性不再匹配，造成编码器不能如实反映待测试回转平台的回转角度，造成对待测试回转平台的控制不准确，影响相应工作的正常实现，因此如何验证大修后的回转精度，确定设备状态是一重要问题。
技术实现思路
为解决设备大修后，需要验证回转平台回转精度的问题，本专利技术提供一种回转精度测量方法和测量装置。本专利技术提供一种回转精度测量方法，采用光轴平行于待测试回转平台转动轴的图像采集装置拍摄待测试回转平台上包含第一特征点和第二特征点的区域；其中所述第一特征点和所述第二特征点位置不重合；所述方法包括：在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；提取所述第一特征点在第一图像的坐标(x11,y11)和在第二图像中的坐标(x12,y12)，以及提取所述第二特征点在第一图像的坐标(x21,y21)和在第二图像中的坐标(x22,y22)；根据(x11,y11)和(x21,y21)确定第一方位角θ1；根据(x12,y12)和(x22,y22)确定第二方位角θ2，根据所述第一方位角θ1和所述第二方位角θ2夹角θ＝θ2-θ1；比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较解决确定定待测试回转平台的转动精度。可选的，θ1＝arctan(y21-y11)/(x21-x11)，θ2＝arctan(y22-y12)/(x22-x12)。可选的，待测试回转平台包括固定部和相对于所述固定部可做俯仰动作的伸出部；所述第一特征点安装在所述固定部上；所述第二特征点安装在所述伸出部上。可选的，所述第一特征点和所述第二特征点的连线不经过待测试回转平台的转动轴；在所述固定部和所述伸出部交接位置设置有第三特征点，所述第三特征点和所述第二特征点的连线经过待测试回转平台的转动轴；所述第三特征点在第一图像中的坐标为(x31,y31)，在第二图像中的坐标为(x32,y32)；根据下述方法获得所述第一方位角θ1：获取(x'21,y'21)，其中，x'21＝x31+(x21-x31)/sinα1，y'21＝y31+(y21-y31)/sinα1，α1为第一时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'21,y'21)和(x11,y11)确定第一方位角θ1，θ1＝arctan(y'21-y11)/(x'21-x11)；根据下述方法获得所述第二方位角θ2：获得(x'22,y'22)，其中，x'22＝x32+(x22-x32)/sinα2，y'22＝y32+(y22-y32)/sinα2，α2为第二时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'22,y'22)和(x12,y12)确定第二方位角θ2，θ2＝arctan(y'22-y12)/(x'22-x12)。本专利技术还提供一种回转精度测量装置，包括：设置在待测试回转平台上的第一特征点和第二特征点，所述第一特征点和所述第二特征点的位置不重合；光轴平行于待测试回转平台转动轴，并且可拍摄待测试回转平台上包含第一特征点和第二特征点区域的图像采集装置；所述图像采集装置在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；坐标提取单元，用于提取所述第一特征点在第一图像的坐标(x11,y11)和在第二图像中的坐标(x12,y12)，以及提取所述第二特征点在第一图像的坐标(x21,y21)和在第二图像中的坐标(x22,y22)；夹角计算单元，用于根据(x11,y11)和(x21,y21)确定第一方位角θ1；根据(x12,y12)和(x22,y22)确定第二方位角θ2，以及计算所述第一方位角θ1和所述第二方位角θ2的夹角θ＝θ2-θ1；精度确定单元，用于比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。可选的，所述θ1＝arctan(y21-y11)/(x21-x11)，θ2＝arctan(y22-y12)/(x22-x12)；可选的，待测试回转平台包括固定部和相对于所述固定部可做俯仰动作的伸出部；所述第一特征点安装在所述固定部上；所述第二特征点安装在所述伸出部上；可选的，所述第一特征点和所述第二特征点的连线不经过待测试回转平台的转动轴；还包括设置在所述固定部和所述伸出部交接位置的第三特征点，所述第三特征点和所述第二特征点的连线经过待测试回转平台的转动轴；所述第三特征点在第一图像中的坐标为(x31,y31)，在第二图像中的坐标为(x32,y32)；所述计算单元根据下述方法获得所述第一方位角θ1：获取(x'21,y'21)，其中，x'21＝x31+(x21-x31)/sinα1，y'21＝y31+(y21-y31)/sinα1，α1为第一时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'21,y'21)和(x11,y11)确定第一方位角θ1，θ1＝arctan(y'21-y11)/(x'21-x11)；所述计算单元根据下述方法获得所述第二方位角θ2：获得(x'22,y'22)，其中，x'22＝x32+(x22-x32)/sinα2，y'22＝y32+(y22-y32)/sinα2，α2为第二时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'22,y'22)和(x12,y12)确定第二方位角θ2，θ2＝arctan(y'22-y12)/(x'22-x12)。本专利技术提供的回转精度测量方法和测量装置，采用图像采集系统分别获得第一时刻和第二时刻时第一特征点和第二特征点的坐标，利用两个时刻坐标两个特征点坐标连线确定的直线之间的夹角和驱动指令中的驱动角进行比较，判定回转精度，实现回转精度地快速和准确判断。为了实现上述以及相关目的，本专利技术的一个或多个方面包括后面将详细说明并在权利要求中特别指出的特征。下面的说明以及附图详细说明了本专利技术的某些示例性方面。然而，这些方面指示的仅仅是可使用本专利技术的原理的各种方式中的一些方式。此外，本专利技术旨在包括所有这些方面以及它们的等同物。附图说明通过参考以下结合附图的说明及权利要求书的内容，并且随着对本专利技术的更全面理解，本专利技术的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：图1是本专利技术实施例提供的回转精度测量方法使用场景示意图；图2是本专利技术实施例提供的回转精度测量方法的流程图；图3是回转精度测量方法测量θ1的原理示意图；图4是回转精度测量装置的示意图；其中：11-第一特征点，12-第二特征点，13-第三特征点，14-图像采集装置，15-坐标提取单元，16-夹角计算单元，17-精度确定单元。在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。具体实施方式以下将结合附图对本专利技术的具体实施例进行详细描述。图1是本专利技术实施例提供的回转精度测量方法使用场景示意图。如图1所示，本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种回转精度测量方法，其特征在于：采用光轴平行于待测试回转平台转动轴的图像采集装置(14)拍摄待测试回转平台上包含第一特征点(11)和第二特征点(12)的区域；其中所述第一特征点(11)和所述第二特征点(12)位置不重合；所述方法包括：在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；提取所述第一特征点(11)在第一图像的坐标(x11,y11)和在第二图像中的坐标(x12,y12)，以及提取所述第二特征点(12)在第一图像的坐标(x21,y21)和在第二图像中的坐标(x22,y22)；根据(x11,y11)和(x21,y21)确定第一方位角θ1；根据(x12,y12)和(x22,y22)确定第二方位角θ2，所述第一方位角θ1和所述第二方位角θ2夹角θ＝θ2‑θ1；比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。

【技术特征摘要】
1.一种回转精度测量方法，其特征在于：采用光轴平行于待测试回转平台转动轴的图像采集装置(14)拍摄待测试回转平台上包含第一特征点(11)和第二特征点(12)的区域；其中所述第一特征点(11)和所述第二特征点(12)位置不重合；所述方法包括：在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；提取所述第一特征点(11)在第一图像的坐标(x11,y11)和在第二图像中的坐标(x12,y12)，以及提取所述第二特征点(12)在第一图像的坐标(x21,y21)和在第二图像中的坐标(x22,y22)；根据(x11,y11)和(x21,y21)确定第一方位角θ1；根据(x12,y12)和(x22,y22)确定第二方位角θ2，所述第一方位角θ1和所述第二方位角θ2夹角θ＝θ2-θ1；比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。2.根据权利要求1所述的回转精度测量方法，其特征在于：θ1＝arctan(y21-y11)/(x21-x11)，θ2＝arctan(y22-y12)/(x22-x12)。3.根据权利要求1所述的回转精度测量方法，其特征在于：待测试回转平台包括固定部和相对于所述固定部可做俯仰动作的伸出部；所述第一特征点(11)安装在所述固定部上；所述第二特征点(12)安装在所述伸出部上。4.根据权利要求3所述的回转精度测量方法，其特征在于，所述第一特征点(11)和所述第二特征点(12)的连线不经过待测试回转平台的转动轴；并且，在所述固定部和所述伸出部的交接位置设置有第三特征点(13)，所述第三特征点(13)和所述第二特征点(12)的连线经过待测试回转平台的转动轴；所述第三特征点(13)在第一图像中的坐标为(x31,y31)，在第二图像中的坐标为(x32,y32)；根据下述方法获得所述第一方位角θ1：获取(x'21,y'21)，其中，x'21＝x31+(x21-x31)/sinα1，y'21＝y31+(y21-y31)/sinα1，α1为第一时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'21,y'21)和(x11,y11)确定第一方位角θ1，θ1＝arctan(y'21-y11)/(x'21-x11)；根据下述方法获得所述第二方位角θ2：获得(x'22,y'22)，其中，x'22＝x32+(x22-x32)/sinα2，y'22＝y32+(y22-y32)/sinα2，α2为第二时刻时所述伸出部相对于所述固定部的俯仰角；根据(x'22,y'22)和(x12,y12)确定第二方位角θ2，θ2＝arctan(y'22-y12)/(x'22-x12)。5.一种回转精度测量装置，其特征在于，包括：设置在待测试回转平台上的第一特征点(11)和第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：石芳，王涛，周胜洪，颜舒琳，谭青，林治浩，张玉国，魏培平，黄胜，单雪梅，
申请(专利权)人：青岛杰瑞自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37