一种小区域空间测量定位方法技术

技术编号:11759317 阅读:129 留言:0更新日期:2015-07-22 12:43
本发明专利技术公开了一种小区域空间测量定位方法,首先以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理或其他测量手段对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据;在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经纬仪或全站仪架设于该仪器架设点上;利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及测站点与地面控制点之间的水平距离;依据测量出的平面夹角度数和水平距离以及坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值;利用三角高程原理根据地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程;通过仪器架设点的三维坐标进行测量和测设工作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量定位
,具体来说,涉及。
技术介绍
当前,在控制测量领域中,测量方法无外乎导线测量定位、三角网、GPS定位等测量技术,无论哪种技术方法,或过程繁琐、或费用不菲,都具有缺点,比如现在普遍使用的GPS定位,价格比较高昂,且受地形、信号影响比较大,如何来平衡各种缺点是为该领域技术人员所困扰的。所以,研制出一种简便、灵活、加快工作效率的测量方法,便成为业内人士亟需解决的问题。
技术实现思路
针对相关技术中的上述技术问题,本专利技术提出,能够使测量工作简单化,精细化,从而提高测量效率。为实现上述技术目的,本专利技术的技术方案是这样实现的: ,包括以下步骤: 步骤一:以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据; 步骤二:在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经玮仪或全站仪架设于该仪器架设点上; 步骤三:利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及所述测站点与所述地面控制点之间的水平距离; 步骤四:依据步骤三测量出的平面夹角度数和水平距离以及步骤一中测量出的坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值; 步骤五:利用三角高程原理根据所述地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程; 步骤六:通过测量所得的仪器架设点的三维坐标,直接后视所述若干目标对象的任意位置进行测量和测设工作。进一步的,所述仪器架设点的选取为所述仪器架设点与所述若干目标对象之间的水平面和竖直面所形成夹角的允许范围内的任意点位。进一步的,步骤六中进行测量和测设工作的方法包括通过全站仪自带程序进行测量观测,测站坐标和后视方向一步到位,进而直接进行测量和测设工作。进一步的,所述测量定位方法的测量范围半径为3至4公里。本专利技术的有益效果:本专利技术充分的借助场地周围高大构筑物相对稳定的特点,利用测量学中空间角度和距离交会原理,通过一台测量仪器便可以实现小区域的快速测量和定位,且在场区中有任一可视控制点的情况下,可使测量速度和精度进一步快速提高,平面坐标精度可达到亚毫米级,高程达到毫米级。【具体实施方式】显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。根据本专利技术实施例所述的,包括以下步骤: 步骤一:以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据; 步骤二:在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经玮仪或全站仪架设于该仪器架设点上; 步骤三:利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及所述测站点与所述地面控制点之间的水平距离; 步骤四:依据步骤三测量出的平面夹角度数和水平距离以及步骤一中测量出的坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值; 步骤五:利用三角高程原理根据所述地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程; 步骤六:通过测量所得的仪器架设点的三维坐标,直接后视所述若干目标对象的任意位置进行测量和测设工作。在一个实施例中,所述仪器架设点的选取为所述仪器架设点与所述若干目标对象之间的水平面和竖直面所形成夹角的允许范围内的任意点位。在一个实施例中,步骤六中进行测量和测设工作的方法包括通过全站仪自带程序进行测量观测,测站坐标和后视方向一步到位,进而直接进行测量和测设工作。在一个实施例中,所述测量定位方法的测量范围半径为3至4公里。为了方便理解本专利技术的上述技术方案,以下通过具体使用方式上对本专利技术的上述技术方案进行详细说明。在具体使用时,根据本专利技术所述的小区域空间测量定位方法,以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理或其他测量手段对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据;在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经玮仪或全站仪架设于该仪器架设点上;利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及所述测站点与所述地面控制点之间的水平距离;依据步骤三测量出的平面夹角度数和水平距离以及步骤一中测量出的坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值;利用三角高程原理根据所述地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程;通过测量所得的仪器架设点的三维坐标,直接后视所述若干目标对象的任意位置进行测量和测设工作。综上所述,借助于本专利技术的上述技术方案,本专利技术充分的借助场地周围高大构筑物相对稳定的特点,利用测量学中空间角度和距离交会原理,通过一台测量仪器便可以实现小区域的快速测量和定位,且在场区中有任一可视控制点的情况下,可使测量速度和精度进一步快速提高,平面坐标精度可达到亚毫米级,高程达到毫米级。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已,并不用以限制本专利技术,凡在本专利技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一:以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据; 步骤二:在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经玮仪或全站仪架设于该仪器架设点上; 步骤三:利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及所述测站点与所述地面控制点之间的水平距离; 步骤四:依据步骤三测量出的平面夹角度数和水平距离以及步骤一中测量出的坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值; 步骤五:利用三角高程原理根据所述地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程; 步骤六:通过测量所得的仪器架设点的三维坐标,直接后视所述若干目标对象的任意位置进行测量和测设工作。2.根据权利要求1所述的小区域空间测量定位方法,其特征在于,所述仪器架设点的选取为所述仪器架设点与所述若干目标对象之间的水平面和竖直面所形成夹角的允许范围内的任意点位。3.根据权利要求1所述的小区域空间测量定位方法,其特征在于,步骤六中进行测量和测设工作的方法包括通过全站仪自带程序进行测量观测,测站坐标和后视方向一步到位,进而直接进行测量和测设工作。4.根据权利要求1所述的小区域空间测量定位方法,其特征在于,所述测量定位方法的测量范围半径为3至4公里。【专利摘要】本专利技术公开了,首先以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理或其他测量手段对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据;在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经纬仪或全站仪架设于该仪器架设点上;利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及测站点与地面控制点之间的水平距离;依据测量出的平面夹角度数和水平距离以及坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值;利用三角高程原理根据地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程;通过仪器架设点的三维坐标进行测量和测设工作。【IPC分类】G01C15-00本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种小区域空间测量定位方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:以测区周围的若干高层标志建筑和预先选取的地面控制点为目标对象,利用前方交会原理对该若干目标对象进行测量定位,测得全部坐标值作为测量依据;步骤二:在测量区域内任意选取一点架设仪器作为测站点,并将经纬仪或全站仪架设于该仪器架设点上;步骤三:利用后方交会原理直接测量出测站点与若干目标对象之间的平面夹角度数以及所述测站点与所述地面控制点之间的水平距离;步骤四:依据步骤三测量出的平面夹角度数和水平距离以及步骤一中测量出的坐标值,利用后方交会原理计算出仪器架设点的坐标值;步骤五:利用三角高程原理根据所述地面控制点与仪器架设点之间的高差计算出测站高程;步骤六:通过测量所得的仪器架设点的三维坐标,直接后视所述若干目标对象的任意位置进行测量和测设工作。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘超旭
申请(专利权)人:中铁建设集团有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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