型面平整度的测量仪器制造技术

本发明专利技术公开了一种型面平整度的测量仪器，该测量仪器包括：架体、载体板和多个位移计，架体上设置有能够进行高度调节的平台板，载体板位于平台板的上方并且平行于平台板，载体板的一侧固接于架体上，载体板上沿其长度方向设置有条形通孔，多个位移计能够沿条形通孔的长度方向滑动地设置于条形通孔内，多个位移计的测量指针均朝下设置且延伸出载体板的底端面。该测量仪器能够准确快速的测量较大物件的型面平整度。

【技术实现步骤摘要】
型面平整度的测量仪器
本专利技术涉及检测仪器，具体地涉及型面平整度的测量仪器。
技术介绍
目前，由于产品质量本身的需要，产品的型面的平整性是作为产品质量评判的一个重要指标，例如玻璃型面、钢板型面等。目前，测量产品型面的平整性均是通过人工使用卡尺测量，通过在不同位置的多组测量数据来计算产品的型面平整度，这种测量方式误差大，并且效率低，另外对于曲面型面来说这种方式极为的不适合。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种型面平整度的测量仪器，该测量仪器能够准确快速的测量较大物件的型面平整度，并且不仅限于对平面型面的测量，还可以对曲面型面进行测量。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种型面平整度的测量仪器，该测量仪器包括：架体、载体板和多个位移计，所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板，所述载体板位于所述平台板的上方并且平行于所述平台板，所述载体板的一侧固接于所述架体上，所述载体板上沿其长度方向设置有条形通孔，多个所述位移计能够沿所述条形通孔的长度方向滑动地设置于所述条形通孔内，多个所述位移计的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板的底端面。优选地，所述架体包括底座，所述底座上设置有竖杆，所述竖杆面向所述平台板的一侧设置有竖直的条形槽，所述平台板的侧壁上设置有能够沿所述条形槽的长度方向滑动的滑块，螺纹杆自所述竖杆的上方竖直贯穿所述条形槽的顶壁以延伸至所述条形槽内并螺旋地贯穿于所述滑块。优选地，所述条形槽的内底壁设置有轴座，所述轴座上设置有竖直的轴孔，所述轴孔内设置有轴承，所述螺纹杆的底端插接于所述轴承内。优选地，所述螺纹杆的顶部设置有把手。优选地，所述载体板通过两个支撑臂与所述竖杆连接，两个所述支撑臂以所述竖杆为中心对称设置。优选地，所述支撑臂的底部与所述竖杆之间固接有加强撑杆。优选地，所述位移计为电子位移计。优选地，所述底座的底部设置有防滑垫。优选地，所述载体板上位于所述条形通孔的边缘位置设置有长度刻度标。根据上述技术方案，本专利技术中所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板，所述载体板位于所述平台板的上方并且平行于所述平台板，所述载体板的一侧固接于所述架体上，所述载体板上沿其长度方向设置有条形通孔，多个所述位移计能够沿所述条形通孔的长度方向滑动地设置于所述条形通孔内，多个所述位移计的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板的底端面。在对产品型面进行测量时，首先需要调整平台板处于水平的位置，具体的可以借助于水平仪调整，然后将待测产品放置在平台板上，通过滑动多个位移计并使得测量指针位于型面上滑动以测量沿条形通孔方向的每一处位置的刻度，通过位移计刻度的变化来判断产品型面的平整性，操作时可以将产品更换不同的位置进行测量获取更多的数据，另外，通过平台板的高度调节可以适用于更多的产品型面的测量。本专利技术的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术中测量仪器的一种优选实施方式的整体结构示意图。附图标记说明1底座2平台板3竖杆4螺纹杆5把手6加强撑杆7支撑臂8载体板9位移计10条形通孔具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。在本专利技术中，在未作相反说明的情况下，“上下左右、前后内外”等包含在术语中的方位词仅代表该术语在常规使用状态下的方位，或为本领域技术人员理解的俗称，而不应视为对该术语的限制。参见图1所示的型面平整度的测量仪器，该测量仪器包括：架体、载体板8和多个位移计9，所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板2，所述载体板8位于所述平台板2的上方并且平行于所述平台板2，所述载体板8的一侧固接于所述架体上，所述载体板8上沿其长度方向设置有条形通孔10，多个所述位移计9能够沿所述条形通孔10的长度方向滑动地设置于所述条形通孔10内，多个所述位移计9的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板8的底端面。通过上述技术方案的实施，所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板2，所述载体板8位于所述平台板2的上方并且平行于所述平台板2，所述载体板8的一侧固接于所述架体上，所述载体板8上沿其长度方向设置有条形通孔10，多个所述位移计9能够沿所述条形通孔10的长度方向滑动地设置于所述条形通孔10内，多个所述位移计9的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板8的底端面。在对产品型面进行测量时，首先需要调整平台板2处于水平的位置，具体的可以借助于水平仪调整，然后将待测产品放置在平台板2上，通过滑动多个位移计9并使得测量指针位于型面上滑动以测量沿条形通孔10方向的每一处位置的刻度，通过位移计9刻度的变化来判断产品型面的平整性，操作时可以将产品更换不同的位置进行测量获取更多的数据，另外，通过平台板2的高度调节可以适用于更多的产品型面的测量。在该实施方式中，为了进一步提供一种架体并且进一步实现平台板2的可升降调节，优选地，所述架体包括底座1，所述底座1上设置有竖杆3，所述竖杆3面向所述平台板2的一侧设置有竖直的条形槽，所述平台板2的侧壁上设置有能够沿所述条形槽的长度方向滑动的滑块，螺纹杆4自所述竖杆3的上方竖直贯穿所述条形槽的顶壁以延伸至所述条形槽内并螺旋地贯穿于所述滑块。螺纹杆4的高度始终保持不变，通过转动螺纹杆4带动滑块的上下移动从而驱动连接于滑块的平台板2上下移动，通过不同高度的平台板2使得其与载体板8之间的距离实现可调节，从而可以适应于更多的产品的型面平整度的检测。在该实施方式中，为了进一步提高螺纹杆4转动的稳定性和便捷性，优选地，所述条形槽的内底壁设置有轴座，所述轴座上设置有竖直的轴孔，所述轴孔内设置有轴承，所述螺纹杆4的底端插接于所述轴承内。在该实施方式中，为了进一步便于螺纹杆4的转动，优选地，所述螺纹杆4的顶部设置有把手5。在该实施方式中，为了提高载体板8固定的稳定性。优选地，所述载体板8通过两个支撑臂7与所述竖杆3连接，两个所述支撑臂7以所述竖杆3为中心对称设置。在该实施方式中，为了进一步提高载体板8固定的稳定性。优选地，所述支撑臂7的底部与所述竖杆3之间固接有加强撑杆6。在该实施方式中，为了方便读取测量数据，以及提高数据的准确性，优选地，所述位移计9为电子位移计。在该实施方式中，为了提高底座1支撑的稳定性，优选地，所述底座1的底部设置有防滑垫。在该实施方式中，为了获得更为精准的测量结果，优选地，所述载体板8上位于所述条形通孔10的边缘位置设置有长度刻度标。通过长度刻度标可以获得位移计9在每一个刻度位置时精准的测量数据，并且便于绘制平整度测量曲面图，如果型面为曲面则可以获知该曲面时候合格。以上结合附图详细描述了本专利技术的优选实施方式，但是，本专利技术并不限于上述实施方式中的具体细节，在本专利技术的技术构思范围内，可以对本专利技术的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本专利技术的保护范围。另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本专利技术对各种可能的组合方式不再另行说明。此外，本专利技术的各种不同的实施方式之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种型面平整度的测量仪器，其特征在于，所述测量仪器包括：架体、载体板(8)和多个位移计(9)，所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板(2)，所述载体板(8)位于所述平台板(2)的上方并且平行于所述平台板(2)，所述载体板(8)的一侧固接于所述架体上，所述载体板(8)上沿其长度方向设置有条形通孔(10)，多个所述位移计(9)能够沿所述条形通孔(10)的长度方向滑动地设置于所述条形通孔(10)内，多个所述位移计(9)的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板(8)的底端面。

【技术特征摘要】
1.一种型面平整度的测量仪器，其特征在于，所述测量仪器包括：架体、载体板(8)和多个位移计(9)，所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板(2)，所述载体板(8)位于所述平台板(2)的上方并且平行于所述平台板(2)，所述载体板(8)的一侧固接于所述架体上，所述载体板(8)上沿其长度方向设置有条形通孔(10)，多个所述位移计(9)能够沿所述条形通孔(10)的长度方向滑动地设置于所述条形通孔(10)内，多个所述位移计(9)的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板(8)的底端面。2.根据权利要求1所述的型面平整度的测量仪器，其特征在于，所述架体包括底座(1)，所述底座(1)上设置有竖杆(3)，所述竖杆(3)面向所述平台板(2)的一侧设置有竖直的条形槽，所述平台板(2)的侧壁上设置有能够沿所述条形槽的长度方向滑动的滑块，螺纹杆(4)自所述竖杆(3)的上方竖直贯穿所述条形槽的顶壁以延伸至所述条形槽内并螺旋地贯穿于所述滑块。3.根据权利要求2所述的型面平整度的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚静，
申请(专利权)人：安徽六启教育软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34