型面平整度的测量仪器制造技术

技术编号:19421154 阅读:33 留言:0更新日期:2018-11-14 09:23
本发明专利技术公开了一种型面平整度的测量仪器,该测量仪器包括:架体、载体板和多个位移计,架体上设置有能够进行高度调节的平台板,载体板位于平台板的上方并且平行于平台板,载体板的一侧固接于架体上,载体板上沿其长度方向设置有条形通孔,多个位移计能够沿条形通孔的长度方向滑动地设置于条形通孔内,多个位移计的测量指针均朝下设置且延伸出载体板的底端面。该测量仪器能够准确快速的测量较大物件的型面平整度。

【技术实现步骤摘要】
型面平整度的测量仪器
本专利技术涉及检测仪器,具体地涉及型面平整度的测量仪器。
技术介绍
目前,由于产品质量本身的需要,产品的型面的平整性是作为产品质量评判的一个重要指标,例如玻璃型面、钢板型面等。目前,测量产品型面的平整性均是通过人工使用卡尺测量,通过在不同位置的多组测量数据来计算产品的型面平整度,这种测量方式误差大,并且效率低,另外对于曲面型面来说这种方式极为的不适合。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种型面平整度的测量仪器,该测量仪器能够准确快速的测量较大物件的型面平整度,并且不仅限于对平面型面的测量,还可以对曲面型面进行测量。为了实现上述目的,本专利技术提供了一种型面平整度的测量仪器,该测量仪器包括:架体、载体板和多个位移计,所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板,所述载体板位于所述平台板的上方并且平行于所述平台板,所述载体板的一侧固接于所述架体上,所述载体板上沿其长度方向设置有条形通孔,多个所述位移计能够沿所述条形通孔的长度方向滑动地设置于所述条形通孔内,多个所述位移计的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板的底端面。优选地,所述架体包括底座,所述底座上设置有竖杆,所述竖本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种型面平整度的测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:架体、载体板(8)和多个位移计(9),所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板(2),所述载体板(8)位于所述平台板(2)的上方并且平行于所述平台板(2),所述载体板(8)的一侧固接于所述架体上,所述载体板(8)上沿其长度方向设置有条形通孔(10),多个所述位移计(9)能够沿所述条形通孔(10)的长度方向滑动地设置于所述条形通孔(10)内,多个所述位移计(9)的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板(8)的底端面。

【技术特征摘要】
1.一种型面平整度的测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:架体、载体板(8)和多个位移计(9),所述架体上设置有能够进行高度调节的平台板(2),所述载体板(8)位于所述平台板(2)的上方并且平行于所述平台板(2),所述载体板(8)的一侧固接于所述架体上,所述载体板(8)上沿其长度方向设置有条形通孔(10),多个所述位移计(9)能够沿所述条形通孔(10)的长度方向滑动地设置于所述条形通孔(10)内,多个所述位移计(9)的测量指针均朝下设置且延伸出所述载体板(8)的底端面。2.根据权利要求1所述的型面平整度的测量仪器,其特征在于,所述架体包括底座(1),所述底座(1)上设置有竖杆(3),所述竖杆(3)面向所述平台板(2)的一侧设置有竖直的条形槽,所述平台板(2)的侧壁上设置有能够沿所述条形槽的长度方向滑动的滑块,螺纹杆(4)自所述竖杆(3)的上方竖直贯穿所述条形槽的顶壁以延伸至所述条形槽内并螺旋地贯穿于所述滑块。3.根据权利要求2所述的型面平整度的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚静
申请(专利权)人:安徽六启教育软件科技有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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