磁浮F轨左右偏移检测装置和方法制造方法及图纸

技术编号:19335404 阅读:27 留言:0更新日期:2018-11-07 11:42
本发明专利技术公开了磁浮F轨左右偏移检测装置,包括骨架的形状与磁浮F轨相匹配;通孔的上开口设置有顶盖,下开口边缘横向设置有环状挡板,其中通孔横截面的直径为D1,环状挡板中空处的直径为D2;定位柱的下部部分穿过环形挡板,定位柱的横截面直径从上到下依次线性变小,弹簧处于非拉伸状态,本发明专利技术的装置受到向上的挤压力与待检测磁浮F轨对本装置的支持力之和等于本装置向下的自重和向下的磁铁吸引力之和,使得定位柱正好定位到定位孔内,通过千分表读数差值,能够精确检测出待测磁浮F轨定位孔位置与标准磁浮F轨定位孔的位置偏差,为后续磁浮F轨精确定位铺设提供了精确依据和可靠性保障。

Magnetic levitation F rail left and right deviation detection device and method

The invention discloses a left-right offset detection device for magnetic levitation F-rail, including a skeleton shape matching with the magnetic levitation F-rail; a top cover is arranged at the upper opening of the through hole, and a circular baffle is transversely arranged at the lower opening edge, in which the diameter of the cross section of the through hole is D1, and the diameter of the hollow part of the circular baffle is D2; and the lower part of the positioning column passes through the circular baffle. The cross-sectional diameter of the positioning column decreases linearly from top to bottom, and the spring is in a non-stretching state. The device of the present invention is subjected to the sum of the upward extrusion force and the supporting force of the magnetic levitation F rail to the device, which is equal to the sum of the downward gravity of the device and the downward magnet attraction of the device, so that the positioning column is positioned in the positioning hole. Through the reading difference of the micrometer, the position deviation between the position of the positioning hole of the magnetic levitation F-rail to be measured and the position deviation of the standard magnetic levitation F-rail positioning hole can be accurately detected, which provides an accurate basis and reliability guarantee for the subsequent precise positioning of the magnetic levitation F-rail.

【技术实现步骤摘要】
磁浮F轨左右偏移检测装置和方法
本专利技术涉及磁浮轨道检测
,具体涉及磁浮F轨左右偏移检测装置和方法。
技术介绍
中低速磁浮F轨在进行精确定位铺设时,需要控制磁浮F轨左右偏移,确保磁浮F轨整体铺设后的平顺度,使磁浮列车能够安全、舒适的运行。磁浮F轨精确定位铺设时,需要借助定位孔确定铺设的磁浮F轨是否左右偏移。因此,磁浮F轨定位孔的实际位置与设计位置的偏差,直接影响到磁浮F轨精确定位铺设的精度,从而直接影响到磁浮列车的运行安全和舒适度。因此,为了确保磁浮F轨整体铺设后的平顺度,使磁浮列车能够安全、舒适的运行,行业内急需一种能够检测磁浮F轨定位孔位置的装置或者仪器。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服以上现有技术存在的不足,提供了磁浮F轨左右偏移检测装置。本专利技术的另一目的为了克服以上现有技术存在的不足,提供了磁浮F轨左右偏移检测方法。本专利技术的目的通过以下的技术方案实现:磁浮F轨左右偏移检测装置,包括骨架、用于吸附磁浮F轨的磁铁和能够伸缩的测距仪本体;其中所述骨架包括定位块、横杆和竖杆,横杆的一端连接定位块,另一端连接竖杆;所述竖杆用于固定能够伸缩的测距仪本体;所述骨架的形状与磁浮F轨相匹配;所述定位块包括竖直方向上设置的通孔、顶盖、定位柱、弹簧;所述通孔的上开口设置有顶盖,下开口边缘横向设置有环状挡板,其中通孔横截面的直径为D1,环状挡板中空处的直径为D2;所述定位柱的下部部分穿过环形挡板,定位柱的横截面直径从上到下依次线性变小,定位柱的横截面直径最大值为D3,最小值为D4;同时满足D1>D3>D2>D4;所述弹簧处于非拉伸状态,其上端与顶盖接触,下端与定位柱的顶部接触;所述磁铁设置在骨架的下部。优选地,所述定位柱为锥形定位柱,锥形定位柱的顶部开有一个凹槽,弹簧的底部置于凹槽中。优选地,所述测距仪本体为千分表;所述千分表包括轴套、刻度盘和伸缩的触头;所述轴套穿过竖杆,所述触头的一端设置在轴套内。优选地,所述磁浮F轨左右偏移检测装置还包括:嵌套;所述嵌套设置在通孔内壁和定位柱的上端之间。当定位柱与通孔之间的间隙较大时,为了使定位柱不发生横向偏移,可设置嵌套;若定位柱与通孔之间的间隙非常小且不影响装配,则可以不设置嵌套。同时嵌套也可以与通孔一体成型。优选地,所述磁铁设置在通孔下开口附近。本专利技术的另一目的通过以下的技术方案实现:磁浮F轨左右偏移检测方法,包括:S11,将定位块贴合在待检测磁浮F轨上,且定位柱伸入到待检测磁浮F轨的定位孔内,竖杆放置在待检测磁浮F轨的侧壁外;S12,转动千分表使触头伸长至待检测磁浮F轨的外侧壁,读取千分表的读数X1;S13,将读数X1和预先读取的标定读数X进行比较,得到位置偏差△X;S14,根据所述位置偏差△X修正待检测磁浮F轨的定位孔的位置。优选地,预先读取标定读数X包括:S21,将定位块贴合在标准检测磁浮F轨上,且定位柱伸入到标准检测磁浮F轨的定位孔内,竖杆放置在标准磁浮F轨的侧壁外;S22,转动千分表使触头伸长至标准磁浮F轨的外侧壁,读取千分表的标定读数X。优选地,所述位置偏差△X=X1-X。优选地,所述根据所述位置偏差△X修正待检测磁浮F轨的定位孔的位置包括:若位置偏差△X大于零,待检测磁浮F轨的定位孔右偏,则将检测磁浮F轨的定位孔左移△X;若位置偏差△X小于零,待检测磁浮F轨的定位孔左偏,则将检测磁浮F轨的定位孔右移|△X|。本专利技术相对于现有技术具有如下的优点:1、本专利技术在检测待检测磁浮F轨定位孔时,定位柱的下端小直径处伸长到定位孔内,定位柱的下端的某处卡在定位孔的孔边缘,定位孔的孔边缘挤压定位柱,定位柱受到向上的挤压力,弹簧被压缩。以本装置为研究对象,进行受力分析,定位柱受到向上的挤压力与待检测磁浮F轨对本装置的支持力(待检测磁浮F轨与本装置之间除定位柱之外的接触面)之和等于本装置向下的自重和向下的磁铁吸引力之和,使得本装置能够自动与待检测磁浮F轨密贴,定位柱正好定位到定位孔内,通过千分表读数差值,能够精确检测出待测磁浮F轨定位孔位置与标准磁浮F轨定位孔的位置偏差,为后续磁浮F轨精确定位铺设提供了精确依据和可靠性保障,且本装置质量轻,结构精密、简单。2、本专利技术定位柱伸入到待检测磁浮F轨的定位孔内时,弹簧、环状挡板共同作用下,对定位柱起到限位作用,使得定位柱不会发生左右偏移,定位柱、弹簧、环状挡板整体形成一个刚性部件,能够保证定位柱的圆心和待检测磁浮F轨的定位孔的圆心重合,当二者圆心不重合时,刚性部件的位置校正功能就体现出来,即利用自身的刚度使得待检测磁浮F轨的定位孔发生移动,最终使得二者圆心重合;同理,定位柱伸入到标准检测磁浮F轨的定位孔内时,同样能够保证定位柱的圆心和标准磁浮F轨的定位孔的圆心重合,这样每次测量时,定位柱伸入到定位孔的同一位置,能够更加精确的测量。附图说明图1是本专利技术的磁浮F轨的侧视图。图2是本专利技术的磁浮F轨的俯视图。图3是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测装置的侧视图。图4是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测装置和磁浮F轨的立体图。图5是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测装置检测磁浮F轨的定位孔的剖视图。图6是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测装置检测磁浮F轨的定位孔的俯视图。图7是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测装置的锥形定位柱的剖视图。图8是本专利技术的磁浮F轨左右偏移检测方法的流程图。图9是本专利技术的预先读取标定读数X的流程图。图中:11、顶盖;12、弹簧;13、骨架;131、定位块;132、横杆;133、竖杆;14、锥形定位柱;141、凹槽;142、椎体;15、磁铁;16、千分表;161、触头;162、刻度盘;17、嵌套;2、磁浮F轨;21、定位孔。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步说明。如图1-7所示的磁浮F轨左右偏移检测装置,包括:骨架13、用于吸附磁浮F轨2的磁铁15和伸缩的测距仪本体(千分表16);其中所述骨架13包括定位块131、横杆132和竖杆133;所述横杆132的一端连接定位块,所述横杆132的另一端连接竖杆133;所述骨架13的形状和磁浮F轨2相匹配;所述定位块131包括竖直方向上设置的通孔、顶盖11、定位柱(锥形定位柱14)、弹簧12;所述通孔的上开口设置有顶盖11,下开口边缘横向设置有环状挡板,其中通孔横截面的直径为D1,环状挡板中空处的直径为D2;所述定位柱14的下部部分穿过环形挡板,定位柱14的横截面直径从上到下依次线性变小,定位柱14的横截面直径最大值为D3,最小值为D4;同时满足D1>D3>D2>D4;所述弹簧12处于非拉伸状态,其上端与顶盖接触,下端与定位柱14的顶部接触;所述磁铁15设置在骨架13的下部;所述竖杆133固定有测距仪本体。在本实施例,所述定位柱为锥形定位柱14,锥形定位柱14的顶部开有一个凹槽141,弹簧的底部置于凹槽141中。所述椎形定位柱14的下端为椎体142;所述椎体142上宽下窄。在检测磁浮F轨2的定位孔时,椎体142插入到定位孔,由于椎体142上宽下窄,椎体142小直径处伸长到定位孔21内,椎形定位柱14的下端的某处卡在定位孔21的孔边缘,定位孔21的孔边缘挤压定位柱,定位柱受到向上的挤压力,弹簧12被压缩。先将检测装置的锥形定位柱14大致对准磁浮F轨2上的定位孔21,向上的挤压力等于本装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.磁浮F轨左右偏移检测装置,其特征在于:包括骨架、用于吸附磁浮F轨的磁铁和能够伸缩的测距仪本体;其中所述骨架包括定位块、横杆和竖杆,横杆的一端连接定位块,另一端连接竖杆;所述竖杆用于固定能够伸缩的测距仪本体;所述骨架的形状与磁浮F轨相匹配;所述定位块包括竖直方向上设置的通孔、顶盖、定位柱、弹簧;所述通孔的上开口设置有顶盖,下开口边缘横向设置有环状挡板,其中通孔横截面的直径为D1,环状挡板中空处的直径为D2;所述定位柱的下部部分穿过环形挡板,定位柱的横截面直径从上到下依次线性变小,定位柱的横截面直径最大值为D3,最小值为D4;同时满足D1>D3>D2>D4;所述弹簧处于非拉伸状态,其上端与顶盖接触,下端与定位柱的顶部接触;所述磁铁设置在骨架的下部。

【技术特征摘要】
1.磁浮F轨左右偏移检测装置,其特征在于:包括骨架、用于吸附磁浮F轨的磁铁和能够伸缩的测距仪本体;其中所述骨架包括定位块、横杆和竖杆,横杆的一端连接定位块,另一端连接竖杆;所述竖杆用于固定能够伸缩的测距仪本体;所述骨架的形状与磁浮F轨相匹配;所述定位块包括竖直方向上设置的通孔、顶盖、定位柱、弹簧;所述通孔的上开口设置有顶盖,下开口边缘横向设置有环状挡板,其中通孔横截面的直径为D1,环状挡板中空处的直径为D2;所述定位柱的下部部分穿过环形挡板,定位柱的横截面直径从上到下依次线性变小,定位柱的横截面直径最大值为D3,最小值为D4;同时满足D1>D3>D2>D4;所述弹簧处于非拉伸状态,其上端与顶盖接触,下端与定位柱的顶部接触;所述磁铁设置在骨架的下部。2.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置,其特征在于:所述定位柱为锥形定位柱,锥形定位柱的顶部开有一个凹槽,弹簧的底部置于凹槽中。3.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置,其特征在于,所述测距仪本体为千分表;所述千分表包括轴套、刻度盘和伸缩的触头;所述轴套穿过竖杆,所述触头的一端设置在轴套内。4.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置,其特征在于,还包括:嵌套;所述嵌套设置在通孔内壁和定位柱的上端之间。5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘毅杨富炜黄鹏飞
申请(专利权)人:广州大铁锐威科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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