一种激光测厚仪及其测厚方法技术

本发明专利技术属于电池极片检测设备技术领域，具体涉及一种激光测厚仪，包括过辊装置(1)、滑动装置(2)、基座(3)、激光传感器(4)和控制系统(5)，所述滑动装置(2)固定于所述过辊装置(1)，所述过辊装置(1)包括支架(11)及设置于所述支架(11)的过辊(12)，所述基座(3)设置于所述滑动装置(2)，所述基座(3)为中空封闭式结构，所述激光传感器(4)设置于所述基座(3)，所述激光传感器(4)、所述过辊装置(1)和所述滑动装置(2)与所述控制系统(5)电连接。该测厚仪在工作时稳定性高，测得的厚度信息更加精准，此外，本发明专利技术还公开了一种上述测厚仪的测厚方法，提供了测厚的稳定性和可靠性。

A laser thickness gauge and its thickness measuring method

The invention belongs to the technical field of battery pole sheet detection equipment, in particular to a laser thickness gauge, which comprises a roll-over device (1), a sliding device (2), a base (3), a laser sensor (4) and a control system (5). The sliding device (2) is fixed to the roll-over device (1), and the roll-over device (1) includes a support (11) and a support (5). The base (3) is a hollow closed structure, the laser sensor (4) is set on the base (3), the laser sensor (4), the roll-over device (1) and the sliding device (2) are electrically connected with the control system (5). In addition, the invention also discloses a thickness measurement method of the thickness gauge, which provides stability and reliability of thickness measurement.

【技术实现步骤摘要】
一种激光测厚仪及其测厚方法
本专利技术属于电池极片检测设备
，具体涉及一种激光测厚仪及其测厚方法。
技术介绍
目前在生产锂电池极片时锂电池极片首先要经过辊压机辊压，然后要经过激光测厚仪对极片厚度进行测量以，最后再经过收卷机收卷，分别在三个机器上进行相关生产，厂房占地面积大，生产效率低、成本高。其中对极片厚度的测量精度直接决定了对电池品质的判断，保证测量精度非常关键。现有技术所用的激光测厚仪主要是C架激光测厚仪。然而C架激光测厚仪在生产过程中有缺陷。从市场实用情况统计C架激光测厚仪存在以下缺陷：缺陷一：C型结构激光头安装在C机座机尾，设备整体结构稳定性差，需要定期进行校准。目前C架激光测厚的实际应用效果较差，在50m/min低速辊压测厚仪扫描速度12m/min时测量精度已经超出工艺要求的±0.5um。锂电辊压后续主流趋势是采用≥100m/min高速辊压，C架激光测厚扫描速度需要达到20m/min，其C架开放式结构决定了测量精度和稳定性均不能很好的满足生产需求，在高速运行一段时间以后，激光头)的水平和垂直位置会发生变化，测量出来的数据就会偏差较大，实际生产中需要定期对激光头进行校准，会大大降低高速辊压机的设备利用率以及影响产品品质。缺陷二：辊压后C架激光测厚需要先做MSA数据分析，设备实际在做MSA数据分析时其GRR值偏大，超出我们的要求GRR≤20%的目标。以现有的C架激光测厚仪在50m/min辊压速度下实际测量数据为例，三次GRR值分别为：27%、28%、25%，这三个GRR数据均不满足我们的使用要求。缺陷三：现有C架激光测厚设备为满足100m/min及以上高速辊压需求，需要对设备进行升级改造，总体投入成本高，设备结构复杂，操作难度大。设备改造意味着需要增加成本，且在改造后满足我们的要求方面仍然存在很大的问题和风险，这使得我们不得不寻找新的测厚方式来取代现有的这种C架测量方式，以满足我们高速辊压生产需求。以上缺陷严重影响了产品质量，相关设备和测量方法急需改进。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于：针对现有技术的不足，而提供一种激光测厚仪，该激光测厚仪可以提供测量数据的精确性和设备的稳定性。为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：一种激光测厚仪，包括过辊装置、滑动装置、基座、激光传感器和控制系统，所述滑动装置固定于所述过辊装置，所述过辊装置包括支架及设置于所述支架的过辊，所述基座设置于所述滑动装置，所述基座为中空封闭式结构，所述激光传感器设置于所述基座，所述激光传感器、所述过辊装置和所述滑动装置与所述控制系统电连接。在控制系统的控制下电机带动位于滑动装置上的基座运动，位于基座上的激光传感器来回扫描，整体协调工作，工作的稳定性高。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，所述中空封闭式结构为圆形、椭圆形或多边形。在实际应用中统称为O型，便于激光头固定于基座中间工作，增加了设备工作的稳定性和准确性。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，所述滑动装置包括导轨和滑轨，所述导轨设置于所述支架，所述滑轨滑动设置于所述导轨，所述基座固定设置于滑轨。导轨和滑轨的设置使基座和过辊装置实现了良好的结合，便于对极片进行厚度测量。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，所述激光传感器包括激光头和信号处理器，所述激光头设置于基座，所述信号处理器与控制系统电连接。激光头发射和接受激光信息，在信号处理器的作用下将激光信号转换成电信号，以获得极片的厚度信息。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，所述基座的两端分别设置有平稳支撑块。这种结构保证了基座工作的稳定性，增加了测厚的准确性。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，还包括机架，所述过辊装置和所述控制系统均设置于所述机架。机架的设计使过辊工序和测厚工序紧密结合在一起，减小了不可控的风险，提高了生产精度，减小了厂房占地面积，节约了生产成本。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，还包括指示灯，指示灯为三色灯，指示灯设置于机架的顶部。指示灯的不同颜色亮时可以实时反映不同的生产状态，便于生产监控。作为本专利技术所述的激光测厚仪的一种改进，所述控制系统包括电机、工控机、抽屉式键盘鼠标和显示器，所述工控机、所述抽屉式键盘鼠标和所述显示器集成在一起，所述电机与所述滑轨之间通过传动带连接。集成化设计减小了占用空间，且实现了生产可视化、智能化。本专利技术的目的之二在于：针对现有技术的不足，还提供一种上述激光测厚仪的测厚方法，以获得精准的极片厚度信息。为实现上述目的，本专利技术提供了一种激光测厚仪的测厚方法，包括如下步骤：S1、所述控制系统启动后，所述过辊装置对极片进行滚压；S2、在所述控制系统的控制下，所述电机进行有规律的正转、反转运动，通过带传动带动所述滑轨运动，固定于所述滑轨上的所述基座随之运动，固定于所述基座中部的所述激光头被带动对极片进行来回扫描，信号处理器将获得的激光信号换成电信号，通过导线传送到被传送到控制系统，经过处理通过显示器可以实时获得极片厚度信息。与现有技术相比，上述激光测厚仪的测厚方法工作稳定性更强，获得的精确度更高，实现了技术升级，满足了工业需求。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施方式及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术中基座的结构示意图；其中：1-过辊装置；11-支架；12-过辊；2-滑动装置；21-导轨；22-滑轨；3-基座；4-激光传感器；41-激光头；42-信号处理器；5-控制系统；51-电机；52-工控机；53-抽屉式键盘鼠标；54-显示器；6-机架；7-指示灯;8-平稳支撑块。具体实施方式如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明，但不作为对本专利技术的限定。实施例1如图1-2所示，一种激光测厚仪，包括过辊装置1、滑动装置2、基座3、激光传感器4和控制系统5，滑动装置2固定于过辊装置1，过辊装置1包括支架11及设置于支架11的过辊12，基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光测厚仪，其特征在于：包括过辊装置(1)、滑动装置(2)、基座(3)、激光传感器(4)和控制系统(5)，所述滑动装置(2)固定于所述过辊装置(1)，所述过辊装置(1)包括支架(11)及设置于所述支架(11)的过辊(12)，所述基座(3)设置于所述滑动装置(2)，所述基座(3)为中空封闭式结构，所述激光传感器(4)设置于所述基座(3)，所述激光传感器(4)、所述过辊装置(1)和所述滑动装置(2)与所述控制系统(5)电连接。

【技术特征摘要】
1.一种激光测厚仪，其特征在于：包括过辊装置(1)、滑动装置(2)、基座(3)、激光传感器(4)和控制系统(5)，所述滑动装置(2)固定于所述过辊装置(1)，所述过辊装置(1)包括支架(11)及设置于所述支架(11)的过辊(12)，所述基座(3)设置于所述滑动装置(2)，所述基座(3)为中空封闭式结构，所述激光传感器(4)设置于所述基座(3)，所述激光传感器(4)、所述过辊装置(1)和所述滑动装置(2)与所述控制系统(5)电连接。2.根据权利要求2所述的一种激光测厚仪，其特征在于：所述中空封闭式结构为圆形、椭圆形或多边形。3.根据权利要求1所述的一种激光测厚仪，其特征在于：所述滑动装置(2)包括导轨(21)和滑轨(22)，所述导轨(21)设置于所述支架(11)，所述滑轨(22)滑动设置于所述导轨(21)，所述基座(3)固定设置于滑轨(22)。4.根据权利要求3所述的一种激光测厚仪，其特征在于：所述控制系统(5)包括电机(51)、工控机(52)、抽屉式键盘鼠标(53)和显示器(54)，所述工控机(52)、所述抽屉式键盘鼠标(53)和所述显示器(54)集成在一起，所述电机(51)与所述滑轨(22)之间通过传动带连接。5.根据权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁旭飞，雷振宇，
申请(专利权)人：东莞塔菲尔新能源科技有限公司，江苏塔菲尔新能源科技股份有限公司，深圳塔菲尔新能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44