一种光学膜缺陷检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种光学膜缺陷检测设备，包括检测平台、第一导轨、光学膜载具、光源、检测相机和取料装置，所述检测平台上设有第一导轨和光源，所述光学膜载具活动安装在第一导轨上，所述光学膜载具上设有横向调节机构和纵向调节机构，所述检测相机安装在机架上，所述检测相机包括缺陷检测相机和翘曲检测相机，所述检测平台的一侧设有取料装置，所述取料装置的两端分别设有上料机械臂和下料机械臂，所述上料机械臂和下料机械臂上均安装有机械手，所述机械手与光学膜载具相配合，可以代替人工进行光学膜产品的全自动化生产作业，而且可以实现光学膜产品的缺陷检测及翘曲检测，不仅可以提高光学膜产品的检测效率，而且设备的检测结果的可靠性大。

【技术实现步骤摘要】
一种光学膜缺陷检测设备
本技术涉及光学膜缺陷检测辅助设备的
，特别是一种光学膜缺陷检测设备的

技术介绍
光学膜由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学膜已广泛用于光学和光电子
，制造各种光学仪器。主要的光学膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视。例如采用减反射膜后可使复杂的光学镜头的光通量损失成十倍地减小；采用高反射比的反射镜可使激光器的输出功率成倍提高；利用光学膜可提高硅光电池的效率和稳定性。最简单的光学膜模型是表面光滑、各向同性的均匀介质薄层。在这种情况下，可以用光的干涉理论来研究光学膜的光学性质。当一束单色平面波入射到光学膜上时，在它的两个表面上发生多次反射和折射，反射光和折射光的方向由反射定律和折射定律给出，反射光和折射光的振幅大小则由菲涅耳公式确定。光学膜的特点是：表面光滑，膜层之间的界面呈几何分割；膜层的折射率在界面上可以发生跃变，但在膜层内是连续的；可以是透明介质，也可以是吸收介质；可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学膜缺陷检测设备，其特征在于：包括检测平台(1)、第一导轨(2)、光学膜载具(3)、光源(4)、检测相机(5)和取料装置(6)，所述检测平台(1)上设有第一导轨(2)和光源(4)，所述光学膜载具(3)活动安装在第一导轨(2)上，所述光学膜载具(3)上设有横向调节机构(35)和纵向调节机构(34)，所述检测相机(5)安装在机架(50)上，所述检测相机(5)包括缺陷检测相机(51)和翘曲检测相机(52)，所述检测平台(1)的一侧设有取料装置(6)，所述取料装置(6)的两端分别设有上料机械臂(62)和下料机械臂(63)，所述上料机械臂(62)和下料机械臂(63)上均安装有机械手(64)，所...

【技术特征摘要】
1.一种光学膜缺陷检测设备，其特征在于：包括检测平台(1)、第一导轨(2)、光学膜载具(3)、光源(4)、检测相机(5)和取料装置(6)，所述检测平台(1)上设有第一导轨(2)和光源(4)，所述光学膜载具(3)活动安装在第一导轨(2)上，所述光学膜载具(3)上设有横向调节机构(35)和纵向调节机构(34)，所述检测相机(5)安装在机架(50)上，所述检测相机(5)包括缺陷检测相机(51)和翘曲检测相机(52)，所述检测平台(1)的一侧设有取料装置(6)，所述取料装置(6)的两端分别设有上料机械臂(62)和下料机械臂(63)，所述上料机械臂(62)和下料机械臂(63)上均安装有机械手(64)，所述机械手(64)与光学膜载具(3)相配合。2.如权利要求1所述的一种光学膜缺陷检测设备，其特征在于：所述光源(4)包括透射光源(41)和反射光源(42)，所述缺陷检测相机(51)包括4个面阵相机，所述面阵相机中的两个分别垂直安装于投射光源透射光源(41)和反射光源(42)的上方，另外两个面阵相机的安装方向与水平面之间的夹角分别为25度...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢彭飞，
申请(专利权)人：嵊州市东浩电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33