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本实用新型公开一种光学膜缺陷检测设备，包括检测平台、第一导轨、光学膜载具、光源、检测相机和取料装置，所述检测平台上设有第一导轨和光源，所述光学膜载具活动安装在第一导轨上，所述光学膜载具上设有横向调节机构和纵向调节机构，所述检测相机安装在机架...
该专利属于嵊州市东浩电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过嵊州市东浩电子科技有限公司授权不得商用。

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