一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置，方法包括：获取紧缩场的静区场的场分布；根据所述静区场的场分布，获取所述静区场的平面波谱；对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的分量参数；获取所述紧缩场的静区场内被测物体的特征参数；根据各个所述平面波分量所分别对应的分量参数以及所述特征参数，确定所述紧缩场的不确定度。通过本发明专利技术的技术方案，得到的不确定度能够更为准确的反应紧缩场对测量结果所造成影响的影响程度。

Method and device for determining uncertainty of compact field

The invention relates to a method and a device for determining the uncertainty of a compact field, comprising: obtaining the field distribution of a static field of a compact field; obtaining the plane wave spectrum of the static field according to the field distribution of the static field; and analysing the plane wave spectrum to extract the corresponding components of at least one plane wave component. The characteristic parameters of the measured object in the static region of the compact field are obtained, and the uncertainty of the compact field is determined according to the component parameters corresponding to each plane wave component and the characteristic parameters. Through the technical scheme of the invention, the obtained uncertainty can more accurately reflect the influence degree of the compact field on the measurement results.

【技术实现步骤摘要】
一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置
本专利技术涉及无线电通信
，尤其涉及一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置。
技术介绍
紧缩场是对高精度天线和雷达进行RCS(RadarCrossSection，雷达散射界面)测量的一种测试场。紧缩场的反射面可能存在边缘衍射及拼缝绕射等现象，出现非均匀平面波对其静区场内的被测物体进行照射而影响测量结果。为了实现对紧缩场因非均匀平面波照射被测物体而对测量结果造成影响时所对应的影响程度进行度量，通常需要确定紧缩场的不确定度。目前，主要通过对静区场的场分布的幅值差异进行分析以确定紧缩场的不确定度。分析维度单一，得到的不确定度并不能准确反应紧缩场对测量结果所造成影响的影响程度。因此，针对以上不足，需要提供一种确定紧缩场的不确定度时，得到的不确定度不能准确反应紧缩场对测量结果所造成影响的影响程度的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术中的缺陷，提供了一种确定紧缩场的不确定度时，得到的不确定度不能准确反应紧缩场对测量结果所造成影响的影响程度的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种确定紧缩场的不确定度的方法，包括：获取紧缩本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定紧缩场的不确定度的方法，其特征在于，包括：获取紧缩场的静区场的场分布；根据所述静区场的场分布，获取所述静区场的平面波谱；对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的分量参数；获取所述紧缩场的静区场内被测物体的特征参数；根据各个所述平面波分量所分别对应的分量参数以及所述特征参数，确定所述紧缩场的不确定度。

【技术特征摘要】
1.一种确定紧缩场的不确定度的方法，其特征在于，包括：获取紧缩场的静区场的场分布；根据所述静区场的场分布，获取所述静区场的平面波谱；对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的分量参数；获取所述紧缩场的静区场内被测物体的特征参数；根据各个所述平面波分量所分别对应的分量参数以及所述特征参数，确定所述紧缩场的不确定度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取紧缩场的静区场的场分布之前，进一步包括：构建三维空间模型，其中，所述三维空间模型的X轴为纵轴、Y轴为横轴、Z轴平行于所述静区场内所述反射面所反射的反射主波的传播方向；则，所述获取紧缩场的静区场的场分布，包括：获取所述紧缩场的静区场在所述三维空间模型下每一个空间位置的场分布；所述根据所述静区场的场分布，获取所述静区场的平面波谱，包括：通过如下公式计算所述静区场的平面波谱：其中，表征所述平面波谱，表征所述静区场在所述三维空间模型下X轴坐标是x、Y轴坐标是y且Z轴坐标是0的空间平面上的各个空间位置的场分布，e为自然底数，j为复数，kx表征X轴方向的自由空间波数分量，ky表征Y轴方向的自由空间波数分量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的分量参数，包括：通过DOA波达方向算法对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的幅值、相位及入射方向。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述紧缩场的静区场内被测物体的特征参数，包括：获取所述紧缩场的静区场内被测物体的形状、材料电磁特性以及所述被测物体在所述三维空间模型内的位置信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据各个所述平面波分量所分别对应的分量参数以及所述特征参数，确定所述紧缩场的不确定度，包括：从各个所述平面波分量中，确定出入射方向平行于所述三维空间模型的Z轴的主平面波分量；计算各个所述平面波分量所分别对应的相位的相位均值；针对于每一个所述平面波分量，执行A1至A3，A1：根据所述平面波分量所对应的入射方向及所述主平面波分量所对应的入射方向，确定所述平面波分量与所述主平面波分量之间的夹角，并根据所述夹角确定第一影响因子；A2：根据所述平面波分量所对应的幅值及所述被测物体的形状、材料电磁特性以及所述被测物体在所述三维空间模型内的位置信息确定第二影响因子；A3：根据所述平面波分量所对应的相位与所述相位均值之间的差值确定第三影响因子；根据各个所述平面波分量所分别对应的所述第一影响因子、所述第二影响因子及所述第三影响因子计算所述紧缩场的不确定度...

【专利技术属性】
技术研发人员：张良聪，高超，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11