烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种烤箱温控方法，包括：检测烤箱边缘测温点处的第一温度；根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；根据所述第二温度进行加热控制。本发明专利技术还公开了一种烤箱温控装置及计算机可读存储介质。本发明专利技术提高了烤箱温控的精准性。

【技术实现步骤摘要】
烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及烤箱
，尤其涉及一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着生活水平的提高，烤箱已经被广泛应用，给人们的日常生活带来极大便利。目前，在采用烤箱加热食物时，一般是通过将测量温度与用户设定温度进行对比，若测量温度低于设定温度则进行加热，若测量温度高于设定温度则停止加热。然而，由于烤箱的测温器件一般都设置在箱体的边缘位置，所测得的测量温度与烤箱中心处的温度会存在一定的温差，因而很容易出现到了设定温度时，食物已经被烘烤过度的情况。因此，烤箱温控的精准性不高。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中烤箱温控的精准性不高的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种烤箱温控方法，所述烤箱温控方法包括以下步骤：检测烤箱边缘测温点处的第一温度；根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；根据所述第二温度进行加热控制。优选地，所述根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度的步骤包括：根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。优选地，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：获取所述烤箱当前设定的目标温度；根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。优选地，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：获取所述第一温度对应的检测时间；所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：采用预设公式计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。优选地，所述检测烤箱边缘测温点处的第一温度的步骤之前，还包括：分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。优选地，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。优选地，所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度包括多组，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。优选地，所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤之前，还包括：对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤包括：计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种烤箱温控装置，所述烤箱温控装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被所述处理器执行时实现如上文所述的烤箱温控方法的步骤。此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被处理器执行时实现如上文所述的烤箱温控方法的步骤。本专利技术提出的方案，通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制，而不是直接根据测量得到的烤箱边缘温度进行加热控制，从而提高了烤箱温控的精准性。附图说明图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的烤箱温控装置结构示意图；图2为本专利技术烤箱温控方法第一实施例的流程示意图；图3为本专利技术烤箱温控方法第一实施例中根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度的细化流程示意图；图4为本专利技术实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的温度曲线示意图；图5为本专利技术实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的实测温度差值曲线示意图；图6为本专利技术实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的实测温度差值曲线和拟合温度差值曲线示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例的解决方案主要是：通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制。通过本专利技术实施例的技术方案，解决了烤箱温控的精准性不高的问题。本专利技术实施例提出一种烤箱温控装置。参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的烤箱温控装置结构示意图。在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本专利技术的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。如图1所示，该烤箱温控装置可以包括：处理器1001、通信总线1002、用户接口1003、网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。本领域技术人员可以理解，图1中示出的烤箱温控装置结构并不构成对烤箱温控装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块以及烤箱温控程序。本专利技术中，所述烤箱温控装置通过处理器1001调本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种烤箱温控方法，其特征在于，所述烤箱温控方法包括以下步骤：检测烤箱边缘测温点处的第一温度；根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；根据所述第二温度进行加热控制。

【技术特征摘要】
1.一种烤箱温控方法，其特征在于，所述烤箱温控方法包括以下步骤：检测烤箱边缘测温点处的第一温度；根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；根据所述第二温度进行加热控制。2.根据权利要求1所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度的步骤包括：根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。3.根据权利要求2所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：获取所述烤箱当前设定的目标温度；根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。4.根据权利要求2所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：获取所述第一温度对应的检测时间；所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：采用预设公式计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。5.根据权利要求1-4任一项所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述检测烤箱边缘测温点处的第一温度的步骤之前，还包括：分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵光远，戴源君，程刚，彭淑方，宫俊，
申请(专利权)人：广东美的厨房电器制造有限公司，美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44