晶片频率分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及晶片频率分选装置，包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形的推板，支架顶部设置有频率测试仪器，频率测试仪器的金属探头固定于金属板正上方的支架上；本实用新型专利技术在测试时，通过推板调整晶片的位置，测试完成后通过推板将晶片推入接料框内，整个过程不用手接触晶片，避免了晶片的损伤和污染。

Chip frequency sorting device

The utility model relates to a wafer frequency sorting device, which comprises a base, a metal plate, a slide plate, a receiving frame, a support, a swing rod, a push plate and a frequency measuring instrument. A metal plate with a smooth surface is embedded in the base, and a slide plate is arranged on both sides of the base. The end of the slide plate and the upper surface of the base are even, and the lower end of the slide plate is arranged on the base. The swing rod is articulated on both sides of the support, the end of the swing rod is provided with an arc push plate, the top of the support is provided with a frequency measuring instrument, and the metal probe of the frequency measuring instrument is fixed on the support directly above the metal plate; when the utility model is tested, the crystal is adjusted by the push plate. After the test, the chip is pushed into the feeding frame by the push plate. The whole process does not need to touch the chip by hand, which avoids the damage and contamination of the chip.

【技术实现步骤摘要】
晶片频率分选装置
本技术涉及晶片生产设备领域，具体是晶片频率分选装置。
技术介绍
石英晶片是制作石英晶体元器件的基体，石英晶体元器件具有优良的频率稳定性、品质因素高和成本低的优点；在频率稳定技术中，基本上都使用了压电石英晶片制作的元件；对石英晶片的频率进行精准的测量和分选是提高石英晶体元器件质量和生产效率的一个重要工艺过程。现有的频率分选装置结构复杂，操作不方便，测试分选过程中需要手反复拿取晶片，易造成晶片的污染和损伤。
技术实现思路
针对上述不足，本技术的目的在于，提供分选过程中不用手接触晶片，避免了晶片的损伤和污染的晶片频率分选装置。为实现上述目的，本技术提供以下技术方案：晶片频率分选装置，包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形的推板，支架顶部设置有频率测试仪器，频率测试仪器的金属探头固定于金属板正上方的支架上。进一步优化的方案，所述的接料框活动套设于套框内，套框固定于底座上。再进一步优化的方案，所述的接料框上端设置有向外凸出的边沿。本技术的有益效果是：本技术结构简单，操作方便，通过将晶片放置于金属板上，金属探头位于晶片正上方，金属探头与金属板均与频率测试仪器相连，在不同频率交流电作用下，测试出晶片谐振频率，测试完成后，通过拨动摆杆，推板将晶片推到滑板上，并滑落到接料框内，相同频率的晶片放入同一接料框内，实现对不同频率的晶片的分选，测试时，通过推板调整晶片的位置，测试完成后通过推板将晶片推入接料框内，整个过程不用手接触晶片，避免了晶片的损伤和污染。附图说明图1为本技术的正面示意图；图2为本技术的侧面示意图；图3为推板的结构示意图。图中标号为：1-底座、2-金属板、3-滑板、4-接料框、5-支架、6-摆杆、7-推板、8-频率测试仪器、9-金属探头、10-套框、11-边沿、12-晶片。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照附图1-3可知，晶片频率分选装置，包括底座1、金属板2、滑板3、接料框4、支架5、摆杆6、推板7、频率测试仪器8，底座1上嵌设有与其表面平齐的金属板2，底座1两侧均设置有滑板3，滑板3上端与底座1上表面平齐，滑板3下端设置有位于底座1侧面的接料框4，底座1上设置有支架5，支架5两侧均铰接设置有摆杆6，摆杆6端部设置有弧形的推板7，支架5顶部设置有频率测试仪器8，频率测试仪器8的金属探头9固定于金属板2正上方的支架5上。进一步的，所述的接料框4活动套设于套框10内，套框10固定于底座1上。进一步的，所述的接料框4上端设置有向外凸出的边沿11。本技术使用时，将晶片12放置于金属板2上，金属探头9位于晶片12正上方，金属探头9与金属板2均与频率测试仪器8相连，在不同频率交流电作用下，测试出晶片12谐振频率，测试完成后，通过拨动摆杆6，推板7将晶片12推到滑板3上，并滑落到接料框4内，相同频率的晶片12放入同一接料框4内，实现对不同频率的晶片的分选，测试时，通过推板7调整晶片12的位置，测试完成后通过推板7将晶片12推入接料框4内，整个过程不用手接触晶片12，避免了晶片12的损伤和污染。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.晶片频率分选装置，其特征在于：包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形的推板，支架顶部设置有频率测试仪器，频率测试仪器的金属探头固定于金属板正上方的支架上。

【技术特征摘要】
1.晶片频率分选装置，其特征在于：包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形...

【专利技术属性】
技术研发人员：周朱华，王祖勇，
申请(专利权)人：嘉兴晶控电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33