Capacitive MEMS devices, capacitive MEMS acoustic transducers, methods for forming capacitive MEMS devices, and methods for operating capacitive MEMS devices are disclosed. In an embodiment, a capacitive MEMS device includes a first electrode structure, including a first conductive layer, and a second electrode structure, including a second conductive layer, wherein the second conductive layer is at least partially opposite to the first conductive layer, and where the first conductive layer includes providing electricity between at least three portions of the second conductive layer. Isolated multiple segments.
【技术实现步骤摘要】
MEMS设备、声换能器、形成MEMS设备的方法以及操作MEMS设备的方法
本专利技术涉及电容式MEMS设备(MEMS,即微机电系统)、电容式MEMS声换能器、制造电容式MEMS设备的方法以及操作电容式MEMS设备的方法。一些实施例涉及MEMS麦克风和/或MEMS扬声器。
技术介绍
当设计电容式MEMS设备(例如,声换能器、压力传感器、加速传感器、麦克风或扬声器)时,通常会期望实现换能器输出信号的高信噪比(SNR)。对于期望的高信噪比,换能器的持续小型化会提出新的挑战。MEMS麦克风以及一定程度上还有MEMS扬声器(例如可用于麦克风、笔记本电脑和类似(移动或静止)设备)如今可被实施为半导体(硅)麦克风或微机电系统(MEMS)。为了竞争和提供期望的性能,硅麦克风会需要麦克风输出信号的高SNR。然而,将电容式麦克风用作示例,SNR通常会受限于电容式麦克风结构以及所产生的寄生电容。寄生电容通常是干扰薄膜与对电极之间的电容的不想要的电容。因此,将要响应于薄膜相对于对电极的移动转换为电信号的电容值被干扰。在MEMS设备被实施为MEMS麦克风的情况下,例如,寄生电容会影响MEMS麦克风,使得电输出信号不提供可听输入信号充分校正的再生,即,到达的声波或声压改变。
技术实现思路
一个实施例提供了一种电容式MEMS设备,包括:第一电极结构,包括第一导电层;以及第二电极结构,包括第二导电层,其中第二导电层至少部分地与第一导电层相对,其中第一导电层包括在第一导电层的至少三个部分之间提供电隔离的多个分段(segmentation)。又一实施例提供了一种包括电容式MEMS设备的MEMS麦 ...
【技术保护点】
1.一种电容式MEMS设备,包括:第一电极结构,包括第一导电层;以及第二电极结构,包括第二导电层,其中所述第二导电层至少部分地与所述第一导电层相对,以及其中所述第二导电层包括在所述第二导电层的至少三个部分之间提供电隔离的多分段。
【技术特征摘要】
2017.03.01 US 15/446,6431.一种电容式MEMS设备,包括:第一电极结构,包括第一导电层;以及第二电极结构,包括第二导电层,其中所述第二导电层至少部分地与所述第一导电层相对,以及其中所述第二导电层包括在所述第二导电层的至少三个部分之间提供电隔离的多分段。2.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述第二导电层的多分段包括:多个间隙,位于所述第二导电层中,一个间隙提供所述第二导电层的两个相邻部分之间的电隔离;以及非导电连接结构,具有用于机械地连接所述第二导电层的相邻部分的隔离材料。3.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述间隙布置在所述第二导电层的圆周区域中。4.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述间隙以彼此等距的配置布置在所述第二导电层中。5.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述第二导电层中的所述间隙布置在所述第二导电层的分段区域中,并且其中所述分段区域形成在所述第二导电层的圆周、边界区域中。6.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述间隙均具有100至1000nm之间或者200至500nm之间的宽度。7.根据权利要求5所述的电容式MEMS设备,其中所述第二导电层在所述分段区域中具有厚度D1,并且其中所述间隙具有D1/2和2*D1之间的宽度W。8.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述间隙完全填充有所述非导电连接结构的材料。9.根据权利要求2所述的电容式MEMS设备,其中所述非导电连接结构具有100至1000nm之间的厚度。10.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述多分段在所述第二导电层的第一部分、第二部分和第三部分之间提供电隔离,并且其中所述第一部分是所述第二导电层的中心部分,所述第二部分是所述第二导电层的边界部分,并且所述第三部分是所述第二导电层的位于所述第二导电层的第一部分和第二部分之间的中间部分。11.根据权利要求10所述的电容式MEMS设备,其中所述第二导电层的第二部分至少部分地由机械支持结构所支持。12.根据权利要求10所述的电容式MEMS设备,其中所述第二导电层的第一部分形成所述第二电极结构的可偏移区域。13.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述多分段包括双分段,所述双分段具有两个间隙以及所述第二导电层的位于所述第二导电层的第一部分和第二部分之间的一个中间部分。14.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述多分段包括三分段,所述三分段具有所述第二导电层的两个相邻中间部分,并且其中所述三分段具有三个间隙。15.根据权利要求14所述的电容式MEMS设备,其中所述三分段在所述第二导电层的第一部分、第二部分、第三部分和第四部分之间提供电隔离,并且其中所述第一部分是所述第一导电层的中心部分,所述第二部分是所述第二导电层的边界部分,并且所述第三部分和所述第四部分是所述第二导电层的位于所述第二导电层的第一部分和第二部分之间的相邻中间部分。16.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述多分段包括四分段,所述四分段具有所述第二导电层的三个相邻中间部分,并且其中所述四分段具有四个间隙。17.根据权利要求16所述的电容式MEMS设备,其中所述四分段在所述第二导电层的第一部分、第二部分、第三部分、第四部分和第五部分之间提供电隔离,并且其中所述第一部分是所述第一导电层的中心部分,所述第二部分是所述第一导电层的边界部分,并且所述第三部分、所述第四部分和所述第五部分是所述第二导电层的位于所述第二导电层的第一部分和第二部分之间的相邻中间部分。18.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述第二电极结构的边界部分由支持结构所支持,并且保持在与所述第一电极结构隔开的位置中。19.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述第一电极结构的所述第一导电层形成薄膜,并且其中所述第二电极结构的所述第二导电层相对于所述薄膜形成对电极。20.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述第一电极结构的所述第一导电层相对于所述第二电极结构的所述第二导电层的偏转导致所述第一电极结构和所述第二电极结构之间的电容的改变。21.根据权利要求1所述的电容式MEMS设备,其中所述第一导电层包括在所述第一导电层的至少三个部分之间提供电隔离的又一多分段。22.根据权利要求21所述的电容式MEMS设备,其中所述又一多分段在所述第一导电层的第一部分、第二部分和第三部分之间提供电隔离,并且其中所述第一部分是所述第一导电层的中心部分,所述第二部分是所述第一导电层的边界部分,并且所述第三部分是所述第一导电层的位于所述第一导电层的第一部分和第二部分之间的中间部分。23.根据权利要求21所述的电容式MEMS设备,其中所述第一导电层中的多个间隙被布置在所述第一导电层的第一分段区域中,其中所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:A·德厄,
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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