纱线条干均匀度测试仪纱架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座、立柱，所述立柱上安装有上托架和下托架，上托架和下托架上分别设有上导纱锥和下导纱锥，纱管被夹设有上导纱锥和下导纱锥之间；本实用新型专利技术采用无转轴设计，去掉了纱管中间的转轴，直接利用粗纱管的抗扭曲特性，避免转轴弯曲而造成纱线张力产生周期性变化，从而在波普图上不再出现异常波峰，同时，由于没有中间转轴，装卸纱管非常方便。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种纱线条干均匀度测试仪纱架。
技术介绍
纱线条干均匀度测试仪应用电容测试原理，使被测试样以规定的速度通过电容传感器，将线密度变化转化为相应的电量变化，经测试仪运算处理后将试样不匀信号以波谱、曲线、数字等形式输出。纱线条干均匀度测试仪采用计算机技术制造，数据可存储、显示、打印。纱线条干均匀度测试仪是检测纱条不匀率的自动测试设备，实现对细纱、粗纱、条子线密度不匀程度的测量，可提供CV％值、疵点数等各种有价值的质量指标，并在屏幕上显示纱条瞬时不匀率曲线图、波谱图及其他统计图形。纱架是条干均匀度测试仪的重要组成部分，纱条通过纱架平稳地通过电容传感器，才能保证纱条的线密度变化转化为相应的电量变化，最后经计算机处理后输出数据和图表，纱架的缺陷会造成意外牵伸，影响数据的正确性。附图说明图1是现有纱线条干均匀度测试仪纱架的结构示意图，包括底座1、底座1上的立柱2，立柱2上的支撑杆3，支撑杆3与底座1之间连接有垂直设置的转轴5，被测纱线的纱管4就套在转轴5上，转轴5上设有上下导纱锥6，导纱锥6可以夹紧固定在转轴5上，支撑杆3上设有一个可以夹紧转轴5的张力调节装置7，张力调节装置7夹得越紧，纱线上的张力就越大，安装时，先要松开转轴5的一端，然后取下一个导纱锥6，再把纱管4套在转轴5上，再安装导纱锥6并夹紧纱管4。上述纱架的缺点是1.转轴5长度较长、直径较细，容易引起弯曲和晃动，从而造成纱线张力产生周期性变化，在波普图上出现异常波峰。2.张力调节装置7位于上部支撑杆3上，转轴直径较细，摩擦力较小，造成张力对转动惯量的影响有限，当需要较大张力时显得有点力不从心。3.安装纱管4麻烦，使用不方便。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种纱线条干均匀度测试仪纱架，采用无转轴设计，去掉了纱管中间的转轴，直接利用粗纱管的抗扭曲特性，避免转轴弯曲而造成纱线张力产生周期性变化，从而在波普图上不再出现异常波峰，同时，由于没有中间转轴，装卸纱管非常方便。本技术的技术方案是一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座、立柱，所述立柱上安装有上托架和下托架，上托架和下托架上分别设有上导纱锥和下导纱锥，纱管被夹设有上导纱锥和下导纱锥之间。本技术进一步的技术方案是一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座、立柱，所述立柱上安装有上托架和下托架，上托架和下托架上分别设有上导纱锥和下导纱锥，纱管被夹设有上导纱锥和下导纱锥之间；所述上托架和下托架的前端设有端套，上导纱锥和下导纱锥的锥轴分别插入端套内，并且两个端套中有一个端的侧部设有调节螺钉。本技术更详细的技术方案是一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座、立柱，所述立柱上安装有上托架和下托架，上托架和下托架上分别设有上导纱锥和下导纱锥，纱管被夹设有上导纱锥和下导纱锥之间；所述上托架和下托架的前端设有端套，上导纱锥和下导纱锥的锥轴分别插入端套内，并且两个端套中有一个端的侧部设有调节螺钉；所述上托架和下托架的后端分别设有套管，套管套在立柱上，套管的侧部设有紧定螺钉。本技术的优点是1.本技术采用无转轴设计，去掉了纱管中间的转轴，改进了老纱架转轴长度较长引起的弯曲晃动，直接利用粗纱管的抗扭曲特性，避免转轴弯曲而造成纱线张力产生周期性变化，从而在波普图上不再出现异常波峰，同时，由于没有中间转轴，装卸纱管非常方便。2.本技术对张力调节装置作了较大改进，原来的张力调节装置在上部支撑杆上，转轴直径较细，摩擦力较小，造成张力对转动惯量的影响有限，当需要较大张力时显得有点力不从心，本技术的张力调节装置在下托架上，锥轴直径较大，由此产生的摩擦力相对较大，可以有效地控制张力，使粗纱在转动过程中很平稳，不会产生意外牵伸。3.本技术调节上下托架的距离即可适应不同规格的粗纱纱管。以下结合附图和实施例对本技术作进一步的描述 图1为现有技术的结构示意图；图2为本技术的结构示意图。其中1底座；2立柱；3上托架；4下托架；5上导纱锥；6下导纱锥；7纱管；8锥轴；9端套；10调节螺钉；11套管；12紧定螺钉。具体实施方式实施例；如图2所示，一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座1、立柱2，所述立柱2上安装有上托架3和下托架4，上托架3和下托架4的后端分别设有套管11，套管11套在立柱2上，套管10的侧部设有紧定螺钉12，上托架3和下托架4的前端分别设有端套9，两端套9内分别插设有锥轴8，两锥轴8上分别设有上导纱锥5和下导纱锥6，并且下托架4的端套9的侧部设有调节螺钉10，纱管7被夹设有上导纱锥5和下导纱锥6之间。本技术采用无转轴设计，去掉了纱管7中间的转轴，改进了老纱架转轴长度较长引起的弯曲晃动，直接利用粗纱管7的抗扭曲特性，避免转轴弯曲而造成纱线张力产生周期性变化，从而在波普图上不再出现异常波峰，同时，由于没有中间转轴，装卸纱管非常方便；本技术对张力调节装置作了较大改进，原来的张力调节装置在上部支撑杆上，转轴直径较细，摩擦力较小，造成张力对转动惯量的影响有限，当需要较大张力时显得有点力不从心，本技术的张力调节装置在下托架4上，锥轴直径较大，由此产生的摩擦力相对较大，可以有效地控制张力，使粗纱在转动过程中很平稳，不会产生意外牵伸；本技术调节上下托架的距离即可适应不同规格的粗纱纱管7。权利要求1.一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座(1)、立柱(2)，其特征在于所述立柱(2)上安装有上托架(3)和下托架(4)，上托架(3)和下托架(4)上分别设有上导纱锥(5)和下导纱锥(6)，纱管(7)被夹设有上导纱锥(5)和下导纱锥(6)之间。2.根据权利要求1所述的纱线条干均匀度测试仪纱架，其特征在于所述上托架(3)和下托架(4)的前端设有端套(9)，上导纱锥(5)和下导纱锥(6)的锥轴(8)分别插入端套(9)内，并且两个端套(9)中有一个端套(9)的侧部设有调节螺钉(10)。3.根据权利要求1所述的纱线条干均匀度测试仪纱架，其特征在于所述上托架(3)和下托架(4)的后端分别设有套管(11)，套管(11)套在立柱(2)上，套管(11)的侧部设有紧定螺钉(12)。专利摘要本技术公开了一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座、立柱，所述立柱上安装有上托架和下托架，上托架和下托架上分别设有上导纱锥和下导纱锥，纱管被夹设有上导纱锥和下导纱锥之间；本技术采用无转轴设计，去掉了纱管中间的转轴，直接利用粗纱管的抗扭曲特性，避免转轴弯曲而造成纱线张力产生周期性变化，从而在波普图上不再出现异常波峰，同时，由于没有中间转轴，装卸纱管非常方便。文档编号D06H3/00GK2866573SQ200520075740公开日2007年2月7日 申请日期2005年9月20日 优先权日2005年9月20日专利技术者王晓阳, 邵卫在 申请人:苏州长风纺织机电科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种纱线条干均匀度测试仪纱架，包括底座（１）、立柱（２），其特征在于：所述立柱（２）上安装有上托架（３）和下托架（４），上托架（３）和下托架（４）上分别设有上导纱锥（５）和下导纱锥（６），纱管（７）被夹设有上导纱锥（５）和下导纱锥（６）之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓阳，邵卫在，
申请(专利权)人：苏州长风纺织机电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]