一种二极管的电性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:18781973 阅读:59 留言:0更新日期:2018-08-29 06:22
本发明专利技术涉及一种二极管的电性能测试装置,它包括支架、基板以及底座;所述底座上设置有基板,基板一侧设置有支架,支架一侧设置有两根滑行杆,滑行杆间隔设置,滑行杆顶端通过横板固定在支架上,滑行杆上安装有滑行块,滑行块一侧设置有测量块,测量块下方设置有三个测试针,基板另一侧横向设置有料槽,料槽贯穿基板,料槽两侧设置有三个测试铜片,测试铜片与测试针之间一一对应;所述底座底部设置有若干插头,插头通过导线连接测试针、测试铜片;所述插头可插拔连接二极管电性测试仪。优点是设计合理,结构简单,优化测试点,采用陶瓷基覆铜板,测试面积增大,大大提高电流承受能力,在采用60A电流进行测试时,无任何风险。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管的电性能测试装置
本专利技术涉及二极管检测装置
,具体涉及一种二极管的电性能测试装置。
技术介绍
贴片式发光二极管是一种新型表面贴装式半导体发光器件,具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点,而广泛应用于需要信号指示及照明的电子元器件中。现有技术中,生产商都会对贴片式发光二极管进行抽检测试,一般的测试过程是将贴片二极管夹住,然后接到二极管电性测试仪上,进行贴片二极管的检测;然而,上述的测试过程具有很大的缺陷:不停的夹持或者松开,会对贴片二极管产生损坏,而且夹持的部位经过多次使用后,会产生损坏,影响使用。进一步入专利号:CN205880139U,一种贴片二极管测试装置,操作方便,且测试效率高,但是其测试点采用Φ1.5mm的铜针,存在接触面积小,电流受限的问题,在采用大于30A电流进行测试时,存在二极管出现打火的风险,易造成二极管被击穿损坏。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提出一种二极管的电性能测试装置,设计合理,结构简单,优化测试点,采用陶瓷基覆铜板,测试面积增大,大大提高电流承受能力,在采用60A电流进行测试时,无任何风险。本专利技术技术方案:一种二极本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二极管的电性能测试装置,其特征在于,它包括支架、基板以及底座;所述底座上设置有基板,基板一侧设置有支架,支架一侧设置有两根滑行杆,滑行杆间隔设置,滑行杆顶端通过横板固定在支架上,滑行杆上安装有滑行块,滑行块一侧设置有测量块,测量块下方设置有三个测试针,基板另一侧横向设置有料槽,料槽贯穿基板,料槽两侧设置有三个测试铜片,测试铜片与测试针之间一一对应,且随着测试针上下移动,测试针与测试铜片之间贴合或者分离;所述底座底部设置有若干插头,插头通过导线连接测试针、测试铜片;所述插头可插拔连接二极管电性测试仪。

【技术特征摘要】
1.一种二极管的电性能测试装置,其特征在于,它包括支架、基板以及底座;所述底座上设置有基板,基板一侧设置有支架,支架一侧设置有两根滑行杆,滑行杆间隔设置,滑行杆顶端通过横板固定在支架上,滑行杆上安装有滑行块,滑行块一侧设置有测量块,测量块下方设置有三个测试针,基板另一侧横向设置有料槽,料槽贯穿基板,料槽两侧设置有三个测试铜片,测试铜片与测试针之间一一对应,且随着测试针上下移动,测试针与测试铜片之间贴合或者分离;所述底座底部设置有若干插头,插头通过导线连接测试针、测试铜片;所述插头可插拔连接二极管电性测试仪。2.根据权利要求1所述的一种二极管的电性能测试装置,其特征是所述横板上设置有伺服电机,电机输出轴穿过横板连接...

【专利技术属性】
技术研发人员:石友玲徐柏林阚俊丽
申请(专利权)人:南通康比电子有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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