触控屏测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种触控屏测试装置及测试方法，其中触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，触控屏设置有第一测试端子，触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，上位机与测试治具连接，测试治具设置有第二测试端子，第一测试端子与第二测试端子配合连接；测试治具控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明专利技术技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
触控屏测试装置及方法
本专利技术涉及触控屏
，特别涉及一种触控屏测试装置及方法。
技术介绍
触控显示屏在出厂之前先要进行FW(FirmWare，显示屏的固件代码)烧录。现有的触控显示屏在进行FW烧录时，还需要测试人员手动点亮模组并操作相应测试软件烧录FW。但是，人工手动操作容易出现漏烧录等问题，导致不良产品流至客户，造成投诉，影响产品形象；手动操作效率低下，浪费人力成本，同时人工手动测试易容易造成连接器损坏等问题，造成合格率降低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种触控屏测试装置，旨在提高触摸屏测试的效率。为实现上述目的，本专利技术提出的触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，所述触控屏设置有用于与测试治具连接的第一测试端子，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子，所述第一测试端子与所述第二测试端子配合连接；所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触控屏测试装置，所述触控屏设置有第一测试端子，其特征在于，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子；所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。

【技术特征摘要】
1.一种触控屏测试装置，所述触控屏设置有第一测试端子，其特征在于，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子；所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。2.如权利要求1所述的触控屏测试装置，其特征在于，根据测试结果，所述测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。3.如权利要求1至2中任意一项所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述第一测试端子设置于柔性电路板，所述第一测试端子为多个覆铜测试点，所述测试点分别与所述驱动芯片连接；所述第二测试端子包括与所述覆铜测试点数量对应的探针；所述第二测试端子与所述第一测试端子匹配时，所述探针分别与对应的所述覆铜测试点连接。4.如权利要求3所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述测试治具包括桥板，所述第二测试端子与所述桥板连接；所述第一测试端子和第二测试端子均包括时钟信号端子、数据信号端子、中断信号端子、自检模式端子、第一电源端子、第二电源端子、第三电源端子、以及接地端子。5.如权利要求4所述的触控屏测试装置，其特征在于，测试开始后，所述上位机控制第一电源端...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓元敏，刘双喜，
申请(专利权)人：武汉华显光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42