探头、介电测试仪及方法、温度测量装置及方法、微波炉制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种探头、介电测试仪及方法、温度测量装置及方法、微波炉，其中，测量探头，包括：壳体，壳体具有顶部，侧壁和底部，顶部为开口端，侧壁由电磁波屏蔽材料制成，底部由介电材料制成；第一电极，设于壳体内，第一电极的一端固定在底部上，另一端的端面低于顶部的端面；第二电极，设于壳体内，第一电极的一端固定在底部上，另一端的端面低于顶部的端面，其中，底部开设有两个通孔，第一电极与第二电极分别穿过通孔与底部固定连接，第一电极和第二电极之间填充有介电物质。通过本发明专利技术的技术方案，测量探头用于测量微波炉内的食材的介电常数时，不受电磁波干扰，使得测得的食材的介电常数更为准确，通过采用该测量探头测得的食材的介电常数可以确定食材的实时温度值，测得的温度值与实时的温度值没有温差。

【技术实现步骤摘要】
探头、介电测试仪及方法、温度测量装置及方法、微波炉
本专利技术涉及微波应用
，具体而言，涉及一种测量探头、一种介电常数测试仪、一种温度测量装置、一种介电常数测试方法、一种食材温度测量方法以及一种微波炉。
技术介绍
目前，现有的介电常数测试装置的测试原理为将被测目标物至于传输射频信号的两个信号接口之间，通过测试射频信号强度的衰减而确定被测目标物的介电常数，由于两个信号接口之间的射频信号的传输会受外加电磁场的影响，而造成介电常数测试装置测得的数据不准确，因此现有的介电常数测试装置不适用于测量处于外加电磁场的环境中的目标物的介电常数。此外现行的微波炉腔体内负载(食材)的温度采集是靠光纤温度传感器,基本原理是温度的改变会导致光介质的反射损耗改变，通过测量光的损耗，来确定温度当前的温度值。由于食材的温度需要一个热传递及热平衡，特别是在食材加热过程中，光纤温度传感器测出的温度值与实时的真实温度有一个温差，或者说是延时，而且这个延时比较长，大概几秒钟，所以，在调整微波炉加热参数时，不能进行实时的温度检测，导致微波炉对食材的加热容易出现过火等现象，加热效率非常低下。专利技术内容本专利技术旨在至本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量探头，其特征在于，包括：壳体，所述壳体具有顶部，侧壁和底部，所述顶部为开口端，所述侧壁由电磁波屏蔽材料制成，所述底部由介电材料制成；第一电极，设于所述壳体内，所述第一电极的一端固定在所述底部上，另一端的端面低于所述顶部的端面；第二电极，设于所述壳体内，所述第二电极的一端固定在所述底部上，另一端的端面低于所述顶部的端面，其中，所述底部开设有两个通孔，所述第一电极与所述第二电极分别穿过所述通孔与所述底部固定连接，所述第一电极和所述第二电极之间填充有介电物质。

【技术特征摘要】
1.一种测量探头，其特征在于，包括：壳体，所述壳体具有顶部，侧壁和底部，所述顶部为开口端，所述侧壁由电磁波屏蔽材料制成，所述底部由介电材料制成；第一电极，设于所述壳体内，所述第一电极的一端固定在所述底部上，另一端的端面低于所述顶部的端面；第二电极，设于所述壳体内，所述第二电极的一端固定在所述底部上，另一端的端面低于所述顶部的端面，其中，所述底部开设有两个通孔，所述第一电极与所述第二电极分别穿过所述通孔与所述底部固定连接，所述第一电极和所述第二电极之间填充有介电物质。2.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述壳体为圆柱体。3.根据权利要求2所述的测量探头，其特征在于，所述壳体的内径D与电磁波的波长λ的关系满足关系式：4.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极相平行，且所述第一电极相对于所述底部的高度与所述第二电极相对于所述底部的高度相等。5.根据权利要求4所述的测量探头，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极均为圆柱体，且所述第一电极的直径与所述第二电极的直径相等。6.根据权利要求4所述的测量探头，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极相对于所述底部的高度可调整。7.一种介电常数测试仪，其特征在于，包括：权利要求1至6中任一项所述的测量探头；电磁波屏蔽线，所述电磁波屏蔽线为同轴电缆，所述电磁波屏蔽线的外层与所述测量探头的电磁波屏蔽层连接，所述电磁波屏蔽线的芯层穿过所述测量探头的底部与所述测量探头的第一电极连接，所述电磁波屏蔽线的中间层穿过...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘建伟，唐相伟，彭定元，陈茂顺，邓洋，陈礼康，吴添洪，
申请(专利权)人：广东美的厨房电器制造有限公司，美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44