一种减少模拟电压量测误差的电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种减少模拟电压测量误差的电路及方法，所述电路包括第一阻抗网络、第二阻抗网络、第三阻抗网络、第四阻抗网络、待测裸片，于所述待测裸片的某一数字输入管脚IN连接一与所述待测裸片的工作电流Icc等值或幅度相当的Iload负载电流源，通过本发明专利技术，可减小探针接触电阻带来的不良影响，确保模拟电压量测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种减少模拟电压量测误差的电路及方法
本专利技术涉及电压量测
，特别是涉及一种减少模拟电压量测误差的电路及方法。
技术介绍
一般来说，在进行高精度模拟电压量测时要确保地电位为0，才能量测到准确值。目前的模拟电压量测，尤其是CP(ChipProbe，中测)测试，其测试时普遍使用针卡(一种安装有很多毛细针的裸片测试夹具)测试，由于用于电接触的探针很细，针尖直径大约10-100um，而且强度有限，扎在焊盘上力量不能太大，因此扎针难免存在接触电阻，在功耗较大时会影响芯片对地的0电位，从而导致量测出来的电压偏离实际电压，在高频时探针还存在电容或电感效应。
技术实现思路
为克服上述现有技术存在的不足，本专利技术之目的在于提供一种减少模拟电压量测误差的电路及方法，以减小探针接触电阻带来的不良影响，确保模拟电压量测的准确性。为达上述及其它目的，本专利技术提出一种减少模拟电压测量误差的电路，包括第一阻抗网络、第二阻抗网络、第三阻抗网络、第四阻抗网络、待测裸片，于所述待测裸片的某一数字输入管脚IN连接一与所述待测裸片的工作电流Icc等值或幅度相当的Iload负载电流源。进一步地，所述待测裸片的输入管脚本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种减少模拟电压测量误差的电路，包括第一阻抗网络、第二阻抗网络、第三阻抗网络、第四阻抗网络、待测裸片，其特征在于：于所述待测裸片的某一数字输入管脚IN连接一与所述待测裸片的工作电流Icc等值或幅度相当的Iload负载电流源。

【技术特征摘要】
1.一种减少模拟电压测量误差的电路，包括第一阻抗网络、第二阻抗网络、第三阻抗网络、第四阻抗网络、待测裸片，其特征在于：于所述待测裸片的某一数字输入管脚IN连接一与所述待测裸片的工作电流Icc等值或幅度相当的Iload负载电流源。2.如权利要求1所述的一种减少模拟电压测量误差的电路，其特征在于：所述待测裸片的输入管脚经所述第二阻抗网络连接至所述Iload负载电流源的热端，所述Iload负载电流源的冷端接电源Vee。3.如权利要求2所述的一种减少模拟电压测量误差的电路，其特征在于：所述Iload负载电流源为一可控恒流源。4.如权利要求3所述的一种减少模拟电压测量误差的电路，其特征在于：所述待测裸片的输出管脚OUT经所述第一阻抗网络连接至待测电压Vbg节点，电源电压Vcc经所述第三阻抗网络连接至所述待测裸片的电源正端管脚Vpos，所述待测裸片的电源负端管脚Vneg通过第四阻抗网络接地。5.如权利要求4所述的一种减少模拟电压测量误差的电路，其特征在于：在所述待测裸片内部，第一ESD二极管的阴极和第三ESD二极管的阴极连接至所述待测裸片的电源正端管脚Vpos的焊盘，第二ESD二极管的阳极和第四ESD二极管的阳极连接至所述待测裸片的电源负端管脚Vneg的焊盘，所述第一ESD二极管的阳...

【专利技术属性】
技术研发人员：索鑫，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31