基于磁场的电流测量制造技术

本发明专利技术涉及基于磁场的电流测量。一个实例包含一种电流测量系统(10)。所述系统包含靠近电流导体(12)且相对于所述电流导体(12)以预定布置定位的至少两个磁场传感器(14)，所述磁场传感器(14)中的各者经配置以测量与在所述电流导体(12)中流动的电流相关联的磁场且提供相应磁场测量值。所述系统还包含电流测量处理器(16)，其经配置以基于所述磁场测量值的泰勒级数展开实施数学算法以基于所述数学算法计算所述电流的振幅。

【技术实现步骤摘要】
基于磁场的电流测量
本专利技术大体涉及电子系统，且更具体来说涉及基于磁场的电流测量。
技术介绍
在电子电路中，可为了各种原因测量电流。例如，电流可经测量来实施电路功能，或可针对电路保护实施以减轻对相关电子电路中的电子装置的损害。可以各种方式测量电流。一个实例包含经由欧姆定律测量跨越在要测量的电流的电流路径中的电阻器的电压。但是，此电流测量是能量效率低的，且可能添加不需要的电阻到电流路径。测量电流的另一方式基于以非接触方式测量磁场。在基于磁场的非接触电流传感器中，通过电流导体(例如金属迹线)的电流产生由磁传感器检测到的磁场。磁场强度与流动通过电流导体的电流的振幅成正比。
技术实现思路
一个实例包含一种电流测量系统。所述系统包含靠近电流导体且相对于所述电流导体以预定布置定位的至少两个磁场传感器，所述磁场传感器中的各者经配置以测量与在所述电流导体中流动的电流相关联的磁场且提供相应磁场测量值。所述系统还包含电流测量处理器，其经配置以基于所述磁场测量值的泰勒级数展开(Taylorseriesexpansion)实施数学算法以基于所述数学算法计算所述电流的振幅。另一实例包含一种用于测量电流导体中的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电流测量系统，其包括：至少两个磁场传感器，其靠近电流导体且相对于所述电流导体以预定布置定位，所述磁场传感器中的各者经配置以测量与在所述电流导体中流动的电流相关联的磁场且提供相应磁场测量值；及电流测量处理器，其经配置以基于所述磁场测量值的泰勒级数展开实施数学算法以基于所述数学算法计算所述电流的振幅。

【技术特征摘要】
2016.12.30 US 15/395,7891.一种电流测量系统，其包括：至少两个磁场传感器，其靠近电流导体且相对于所述电流导体以预定布置定位，所述磁场传感器中的各者经配置以测量与在所述电流导体中流动的电流相关联的磁场且提供相应磁场测量值；及电流测量处理器，其经配置以基于所述磁场测量值的泰勒级数展开实施数学算法以基于所述数学算法计算所述电流的振幅。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述电流测量处理器经配置以基于相对于空间坐标的外部磁场的所述泰勒级数展开实施所述数学算法且计算测量值的组合以减轻与所述磁场测量值相关的干扰。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述对磁场传感器相对于与所述电流导体的横截面相交的轴以等距且对称的布置定位。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述对磁场传感器经配置为一对磁通门传感器。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述电流导体以U形布置，使得所述电流相对于所述电流导体的第一横截面和所述电流导体的第二横截面与自身反平行流动，其中横截面平面在所述第一和第二横截面中的各者处按法向角与所述电流导体相交，其中所述磁场传感器是与所述第一横截面相关的第一组磁场传感器，所述系统进一步包括靠近所述第二横截面且相对于所述第二横截面以预定布置定位的与所述第二横截面相关的第二组磁场传感器，所述电流测量处理器经配置以基于来自所述磁场传感器组的各者的所述磁场测量值的所述泰勒级数展开实施所述数学算法以基于所述泰勒级数展开的各者计算所述电流的所述振幅。6.根据权利要求1所述的系统，其中所述电流导体是至少一个电流导体中的第一电流导体，其中所述对磁场传感器是各自相对于所述至少一个电流导体以对称布置定位的多个磁场传感器组中的第一组磁场传感器，所述电流测量处理器经配置以基于来自所述磁场传感器组的各者的所述磁场测量值的所述泰勒级数展开而实施所述数学算法且基于所述泰勒级数展开的各者计算与所述相应至少一个电流导体中的各者相关的至少一个电流的所述振幅。7.根据权利要求6所述的系统，其中所述多个磁场传感器组的数量等于所述至少一个电流导体的数量加一。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述导体包括多个导体，其中所述磁场传感器是与传导相应多个AC电流的所述相应多个电流导体相关的多个磁场传感器中的两个，其中所述电流测量处理器经配置以基于所述多个导体中的各者的所述磁场测量值的所述泰勒级数展开而实施所述数学算法且基于所述泰勒级数展开的各者计算所述相应多个AC电流...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·波利，斯里纳特·拉马斯瓦米，巴赫尔·S·哈龙，
申请(专利权)人：德州仪器公司，
类型：发明
国别省市：美国,US