一种基于投影成像的轴形位公差测量仪制造技术

本实用新型专利技术属于形位公差测量仪器相关领域，并公开了一种基于投影成像的轴形位公差测量仪，其包括底座、旋转支架，以及安装在旋转支架上的光源发生装置和成像检测装置，其中该底座用于实现整个装置的支撑和平行微调；该旋转支架实现光源发生装置和成像检测装置一致性的自由旋转；该光源发生装置用于向成像检测装置发射平行光以及实现装置自身位置标定；该成像检测装置实现轴投影图像的采集和形位公差的测量。通过本实用新型专利技术，能够以更为便捷和准确的方式实现轴的平行度的测量，并给出轴形位公差的衡量指标以指导轴的安装。

A shaft position tolerance measuring instrument based on projection imaging

The utility model belongs to the related field of shape and position tolerance measuring instrument, and discloses an axial position tolerance measuring instrument based on projection imaging, which includes a base, a rotating bracket, a light source generator and an imaging detection device mounted on a rotating bracket, in which the base is used to realize the support and parallel tuning of the whole device. The rotating bracket realizes the free rotation of the uniformity of the light source generator and the imaging detection device, which is used to transmit parallel light to the imaging detection device and to calibrate the position of the device itself; the imaging detection device realizes the acquisition of the projection image of the axis and the measurement of the common difference of the shape and position. Through the utility model, the measurement of the parallelism of the axis can be realized in a more convenient and accurate way, and the measurement index of the tolerance of the axial position is given to guide the installation of the shaft.

【技术实现步骤摘要】
一种基于投影成像的轴形位公差测量仪
本技术属于形位公差测量仪器相关领域，更具体地，涉及一种基于投影成像的轴形位公差测量仪。
技术介绍
随着工业的不断进步，社会需要越来越多的新设备，这些设备尤其是特种设备而言，需要在加工后对其构成零件几何特征的点、线、面的实际形状或相互位置与理想几何体规定的形状和相互位置之间进行差异测量，也即形位公差测量。要保证装备的加工质量和使用寿命，都必须提高整个机械装备的装配精度。装配精度不只依赖于零件的加工精度，另一方面还要依靠装配的方法。甚至有很多情况下，装配精度成为决定整个装备工作性能和使用寿命的最重要因素。由于形位公差测量直接影响到设备工件的性能要求、配合性质、互换性及使用寿命等，因此其测量结果的精确度属于工业制造领域重点关注的关键指标之一。目前的装配过程中对轴类零件进行安装是十分常见的，具体包括对有垂直度要求的轴类零件进行安装，以及对有平行度要求的轴类零件进行安装。然而，在实际操作时，相关测量仪器通常只有平行度和垂直度数据的简单反馈，没有对应对如何改善平行度和垂直度的反馈数据，而且测量精度尚有不足，只有通过反复的试凑实现满足相应形位公差。这种装配方式有着很大的随机性，往往与装配工人的经验有着直接的关系。本领域亟需对此作出进一步的改进，以便更好地满足实际生产制造中的各类需求。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本技术提供了一种基于投影成像的轴形位公差测量仪，其中对其整体结构组成及构造布局重新进行了设计，并重点针对一些关键组件如光源发生装置、成像检测装置等的具体组成结构、设置方式及工作原理等多个方面进行改进，相应不仅可便捷、高效地测量待测轴类零件的垂直度误差或者平行度误差，而且能够结合轴类零件投影图中数据信息有指向性地改善垂直度误差和平行度误差，测试表明可显著提高最终的装配精度。为实现上述目的，按照本技术，提供了一种基于投影成像的轴形位公差测量仪，其特征在于，它包括底座、旋转支架、光源发生装置和成像检测装置，其中：所述底座放置在水平的基准底面上，并可通过螺钉组件调节自身的水平度，由此实现该基准底面与所述旋转支架之间相对位置的微调；所述旋转支架沿着Z轴方向设置在所述底座上，并在其下端和上端各自承载有所述光源发生装置和所述成像检测装置；该旋转支架自身具有Z轴自由度和绕着Z轴旋转的W自由度，由此根据待测量辊轴的高度来调节在Z轴方向上的位置、以及在旋转时带动所述光源发生装置和成像检测装置执行同步转动；所述光源发生装置包括杆状本体、以及设置在该杆状本体上的限位孔、平行光源和测距组件，其中该杆状本体沿着垂直于所述旋转支架的方向具有水平伸长自由度r，该限位孔用于确保待测量辊轴的轴线与此限位孔的轴线处于同轴或平行状态，该平行光源用于朝向待测量辊轴投射可产生投影的平行光束；此外，该测距组件的数量为多个，它们被划分为设置在所述杆状本体下表面的第一组传感器和设置在所述杆状本体上表面的第二组传感器，并用于测量整个光源发生装置处于不同位置状态时至指定目标之间的各自距离；所述成像检测装置包括安装件、以及设置在该安装件上的相机和投影板，其中该安装体同样沿着垂直于所述旋转支架的方向具有水平拉伸自由度q，且其保持与所述水平伸长自由度r相平行；该投影板用于显示所述平行光源对所述待测量辊轴所形成的投影图像，该相机则对投影图像进行拍摄采集。优选地，所述测距组件优选为光电位移传感器，并且设置在所述杆状本体下表面的第一组传感器的数量优选为四个，设置在所述杆状本体上表面的第二组传感器的数量同样优选为四个。总体而言，通过本技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，其中通过对该测量仪的整体构造组成进行设计，不仅可便捷性地、快速地测量待测轴类零件的垂直度误差或者平行度误差，而且能够结合轴类零件投影图中数据信息有指向性的减小垂直度误差和平行度误差以满足形位公差要求，提高装配精度。附图说明图1是按照本技术所构建的基于投影成像的轴形位公差测量仪的整体构造示意图；图2是按照本技术的一个优选实施方式、用于对基准底面与光源发生装置之间执行平行标定的示意图；图3是按照本技术的一个优选实施方式、用于对光源发生装置与成像检测装置之间执行平行标定的示意图；图4是按照本技术的一个优选实施方式、用于确定辊轴倾斜方向的示意图；图5是用于示范性说明按照本技术通过成像检测装置所采集的投影图像的示意图；图6是用于示范性说明按照本技术的两个辊轴的空间布置示意图；图7是用于解释说明按照本技术的整个测量流程示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。图1是按照本技术所构建的基于投影成像的轴形位公差测量仪的整体构造示意图。如图1所示，该轴形位公差测量仪主要包括底座1、旋转支架2、光源发生装置3和成像检测装置4等功能组件，下面将对其逐一进行解释说明。底座1譬如可通过调节螺钉固定设置放置在水平的基准底面5上，并可通过该螺钉组件调节自身的水平度实现该基准底面5与旋转支架2之间相对位置的微调；此外，为了清晰说明，如图1中所示地，可以以该底座为基准点构建空间XYZ坐标系，其中沿着水平方向横向延伸的方向定义为Y轴，沿着水平方向纵向延伸的方向定义为X轴，竖直方向定义为Z轴；旋转支架2沿着Z轴方向设置在底座1上，并譬如在其下端和上端各自承载有光源发生装置3和成像检测装置4。该旋转支架2自身具有Z轴自由度和绕着Z轴旋转的W自由度，由此根据待测量辊轴6的高度来调节在Z轴方向上的位置、以及在旋转时带动光源发生装置3和成像检测装置4执行同步转动。更具体地，可根据待测量辊轴6的高度，调节旋转支架2在Z方向的高度，确保待测轴类零件处于光源发生装置3和成像检测装置4高度之间；然后，旋转支架2在W方向旋转，为后续轴形位公差测量仪自身标定和投影图像的采集作好准备。光源发生装置3包括杆状本体、以及设置在该杆状本体上的限位孔7、平行光源8和测距组件9，其中该杆状本体沿着垂直于所述旋转支架2的方向具有水平伸长自由度r，该限位孔7用于确保待测量辊轴(6)的轴线与此限位孔的轴线处于同轴或平行状态，进而确保待测量辊轴6处于测量仪的工作区域内；该平行光源8用于朝向待测量辊轴6投射可产生投影的平行光束；此外，该测距组件9的数量为多个，它们在本技术中被划分为设置在所述杆状本体下表面的第一组传感器和设置在所述杆状本体上表面的第二组传感器，并用于测量整个光源发生装置处于不同位置状态时至指定目标之间的各自距离。更具体地，所述测距组件优选为光电位移传感器，并且设置在所述杆状本体下表面的第一组传感器的数量优选为四个，设置在所述杆状本体上表面的第二组传感器的数量同样优选为四个。成像检测装置4包括同样譬如成杆状的安装件、以及设置在该安装件上的相机10和投影板11，其中该安装体同样沿着垂直于所述旋转支架2的方向具有水平拉伸自由度q，且其保持与所述水平伸长自由度r相平行；该投影板11用于显示所述平行光源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于投影成像的轴形位公差测量仪，其特征在于，它包括底座(1)、旋转支架(2)、光源发生装置(3)和成像检测装置(4)，其中：所述底座(1)放置在水平的基准底面上，并可通过螺钉组件调节自身的水平度，由此实现该基准底面与所述旋转支架之间相对位置的微调；所述旋转支架(2)沿着Z轴方向设置在所述底座(1)上，并在其下端和上端各自承载有所述光源发生装置(3)和所述成像检测装置(4)；该旋转支架(2)自身具有Z轴自由度和绕着Z轴旋转的W自由度，由此根据待测量辊轴(6)的高度来调节在Z轴方向上的位置、以及在旋转时带动所述光源发生装置(3)和成像检测装置(4)执行同步转动；所述光源发生装置(3)包括杆状本体、以及设置在该杆状本体上的限位孔(7)、平行光源(8)和测距组件(9)，其中该杆状本体沿着垂直于所述旋转支架(2)的方向具有水平伸长自由度r，该限位孔(7)用于确保待测量辊轴(6)的轴线与此限位孔的轴线处于同轴或平行状态，该平行光源(8)用于朝向待测量辊轴(6)投射可产生投影的平行光束；此外，该测距组件(9)的数量为多个，它们被划分为设置在所述杆状本体下表面的第一组传感器和设置在所述杆状本体上表面的第二组传感器，并用于测量整个光源发生装置处于不同位置状态时至指定目标之间的各自距离；所述成像检测装置(4)包括安装件、以及设置在该安装件上的相机(10)和投影板(11)，其中该安装体同样沿着垂直于所述旋转支架(2)的方向具有水平拉伸自由度q，且其保持与所述水平伸长自由度r相平行；该投影板(11)用于显示所述平行光源(8)对所述待测量辊轴(6)所形成的投影图像，该相机(10)则对投影图像进行拍摄采集。...

【技术特征摘要】
1.一种基于投影成像的轴形位公差测量仪，其特征在于，它包括底座(1)、旋转支架(2)、光源发生装置(3)和成像检测装置(4)，其中：所述底座(1)放置在水平的基准底面上，并可通过螺钉组件调节自身的水平度，由此实现该基准底面与所述旋转支架之间相对位置的微调；所述旋转支架(2)沿着Z轴方向设置在所述底座(1)上，并在其下端和上端各自承载有所述光源发生装置(3)和所述成像检测装置(4)；该旋转支架(2)自身具有Z轴自由度和绕着Z轴旋转的W自由度，由此根据待测量辊轴(6)的高度来调节在Z轴方向上的位置、以及在旋转时带动所述光源发生装置(3)和成像检测装置(4)执行同步转动；所述光源发生装置(3)包括杆状本体、以及设置在该杆状本体上的限位孔(7)、平行光源(8)和测距组件(9)，其中该杆状本体沿着垂直于所述旋转支架(2)的方向具有水平伸长自由度r，该限位孔(7)用于确保待测量辊轴(6)的轴线与此限位孔的轴线处于同...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建魁，张舟，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：新型
国别省市：湖北,42