一种旋转角度测量结构制造技术

技术编号:18399948 阅读:18 留言:0更新日期:2018-07-08 20:01
一种旋转角度测量结构,目的是实现电机与码盘系统的小型化,以便于应用于结构紧凑的装置中。旋转角度测量结构包括刻线转子壳、反射式光电读头,刻线转子壳固定于电机的转子上,反射式光电读头位于刻线转子壳径向或轴向位置,当电机转子带动刻线转子壳运动时,反射式光电读头将读取到刻线的不断变化,根据变化的次数,可计算出电机转子转动的角度。该结构实现了传统形式码盘与电机转子的一体化,大大缩减了系统体积、专配工艺、成本等。

【技术实现步骤摘要】
一种旋转角度测量结构
本专利技术涉及一种旋转角度测量结构,具体地说是一种角度测量传感器结构,涉及到的
为传感器领域。
技术介绍
对于电机伺服控制,其重要的传感器是电机角度传感器,目前采用的方式包括光电式角度传感器、磁编码式角度传感器、旋转变压式角度传感器等。其中,光电式角度传感器具有相应块的特点,但是高精度的光电式角度传感器,或者绝对式的光电式角度传感器价格相对较贵,目前,一般采用增量式的光电式角度传感器居多,且需要预留较大空间实现光电式角度传感器的安装和放置;磁编码式角度传感器是依靠霍尔效应得到电机角度信息的,优点是体积小,易于做成绝对式角度传感器,缺点是反应具有延时,受磁场干扰影响大;旋转变压式角度传感器是利用反向电动势的原理得到角度信息,由于结构笨重和复杂,目前应用场景较少,大多数应用场合已被磁编码式角度传感器代替。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术的目的在于提供一种结构紧凑,成本较低的角度测量结构方式,其能够具有较快的反应速度,且体积小,易于实现。旋转角度测量结构包括刻线转子壳、反射式光电读头,刻线转子壳固定于电机的转子上,反射式光电读头位于刻线转子壳径向和轴向位置,当电机转子带动刻线转子壳运动时,反射式光电读头将读取到刻线的不断变化,根据变化的次数,可计算出电机转子转动的角度。该结构实现了传统形式码盘与电机转子的一体化,大大缩减了系统体积、专配工艺、成本等。为了实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案,并以一种典型实施实例为例进行说明。以下实施例有助于本领域的技术人员进一步理解本技术,但不以任何形式限制本技术。应当指出的是,对本领域的普通技术人员,在不脱离本技术构思的前提下,还可以做出若干变形和改进。这些都属于本技术保护范围。一种旋转角度测量结构,包括刻线转子壳(1)、反射式光电读头(2);其中刻线转子壳(1)固定于电机的转子上,反射式光电读头(2)固定于电路板(3)上;刻线转子壳(1)的外壳上具有轴向方向或径向方向刻线;反射式光电读头(2)读取刻线处与非刻线处时为不同值,当电机转子带动刻线转子壳(1)运动时,反射式光电读头(2)读取值不断变化,根据变化的次数,可计算出电机转子转动的角度。刻线转子壳(1)刻线圈数可为一圈刻线,也可刻有多圈刻线,每一圈刻线对应一个反射式光电读头(2)。刻线转子壳(1)可将刻线仅刻在刻线转子壳(1)的径向方向上;可将刻线仅刻在刻线转子壳(1)的轴向方向上;也可将刻线同时刻在刻线转子壳(1)的轴向方向和径向方向上。本专利技术的优点及有益效果是:1.本专利技术能够使系统结构紧凑,降低成本,且易于实现,可应用于多种具有体积要求的设备或装置中。2.本专利技术是基于光电方式的检测,具有反应快速的特点。附图说明图1为本专利技术的一圈轴向刻线方式的示意图;图2为本专利技术的多圈轴向刻线方式的示意图;图3为本专利技术的多圈轴向刻线和径向刻线方式的示意图;图中,1为刻线转子壳;2为反射式光电读头;3为电路板。具体实施方式下面结合附图和一种实施例对本技术作进一步的详细描述。需要理解的是,本技术并不局限于上述特定的实施方式,本领域人员可以在权利要求范围内做出各种变形和修改,这并不影响本技术的实质内容。下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细描述。如图1、图2所示,本专利技术提供的一种旋转角度测量结构,目的是实现码盘系统的小型化,以便于应用于结构紧凑的装置中。旋转角度测量结构包括刻线转子壳、反射式光电读头,刻线转子壳固定于电机的转子上,反射式光电读头位于刻线转子壳径向和轴向位置,当电机转子带动刻线转子壳运动时,反射式光电读头将读取到刻线的不断变化,根据变化的次数,可计算出电机转子转动的角度。该结构实现了传统形式码盘与电机转子的一体化,大大缩减了系统体积、专配工艺、成本等。一种旋转角度测量结构,包括刻线转子壳1、反射式光电读头2;其中刻线转子壳1固定于电机的转子上,反射式光电读头2固定于电路板3上;刻线转子壳1的外壳上具有轴向方向或径向方向刻线;反射式光电读头2读取刻线处与非刻线处时为不同值,当电机转子带动刻线转子壳1运动时,反射式光电读头2读取值不断变化,根据变化的次数,可计算出电机转子转动的角度。如图1和图2所示,刻线转子壳1刻线圈数可为一圈刻线,也可刻有多圈刻线,每一圈刻线对应一个反射式光电读头2。如图3中所示,刻线转子壳1可将刻线仅刻在刻线转子壳1的径向方向上;可将刻线仅刻在刻线转子壳1的轴向方向上;也可将刻线同时刻在刻线转子壳1的轴向方向和径向方向上。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种旋转角度测量结构,其特征在于,包括刻线转子壳(1)、反射式光电读头(2);其中刻线转子壳(1)固定于电机的转子上,反射式光电读头(2)固定于电路板(3)上;刻线转子壳(1)的外壳上具有轴向方向或径向方向刻线。

【技术特征摘要】
1.一种旋转角度测量结构,其特征在于,包括刻线转子壳(1)、反射式光电读头(2);其中刻线转子壳(1)固定于电机的转子上,反射式光电读头(2)固定于电路板(3)上;刻线转子壳(1)的外壳上具有轴向方向或径向方向刻线。2.根据权利要求1所述的一种旋转角度测量结构,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:冷雨泉马维斯占志鹏任利学
申请(专利权)人:深圳慎始科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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