一种增光膜角度的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF‑RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线；S2.点亮所述背光模块，将TFT面板覆盖于该背光模块上并将TFT面板在背光模块所在平面上自由旋转，观察透过TFT面板的光的亮度变化，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与角度标识线平行，若所述基准线与角度标识线平行，则判断所述增光膜的待测试角度正确。本发明专利技术的测试方法简单，成本低，可以快速准确地测试BEF‑RP增光膜和DBEF增光膜的角度。

【技术实现步骤摘要】
一种增光膜角度的测试方法
本专利技术涉及显示
，特别是涉及了一种增光膜角度的测试方法。
技术介绍
随着液晶显示市场高亮度的需求，在目前的液晶显示模组中通常采用增光膜，其设置在液晶显示模组的背光模块中，用以增加背光模块的发光效率。增光膜的角度不正确会导致背光模块装配上LCD后发光效果亮度偏暗与会产生斜条纹。传统的增光膜的角度采用投影仪与二次元等仪器等进行检测。随着市场对显示要求的不断提高，对背光亮度要求也在提高，所以用到3M公司BEF-RP和DBEF材料的增光膜也越来越多，目前因这两种材质的增光膜角度采用投影仪与二次元等仪器无法进行检测。
技术实现思路
为了弥补已有技术的缺陷，本专利技术提供一种增光膜角度的测试方法。本专利技术所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF-RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，所述角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，所述TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线；S2.点亮所述背光模块，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上并将TFT面板在背光模块所在平面上自由旋转，观察透过所述TFT面板的光的亮度变化，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与角度标识线平行，若所述基准线与角度标识线平行，则判断所述增光膜的待测试角度正确。进一步地，所述增光膜包括上层增光膜和下层增光膜，所述上层增光膜和下层增光膜成90度的相交叉角。进一步地，所述角度标识线包括第一角度标识线和第二角度标识线，所述第一角度标识线用于指示所述上层增光膜的待测试角度，所述第二角度标识线用于指示所述下层增光膜的待测试角度，所述第一角度标识线和第二角度标识线相互交叉成90度角。进一步地，所述第一角度标识线和第二角度标识线的交叉点位于所述背光模块的中心。进一步地，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与第一角度标识线平行，或者考察所述基准线是否与第二角度标识线平行。进一步地，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上时，所述TFT面板设有基准线的一面背离所述背光模块的方向。本专利技术具有如下有益效果：本专利技术的测试方法简单，成本低，可以快速准确地测试BEF-RP增光膜和DBEF增光膜的角度。附图说明图1为本专利技术背光模块的结构示意图；图2为本专利技术TFT面板的结构示意图；图3为本专利技术TFT面板旋转后与背光模块相对位置示意图。图中：1、背光模块，2、TFT面板，3、基准线，4、第一角度标识线，5、第二角度标识线。具体实施方式DBEF增光膜（即反射式偏光增光膜）是一种由PET为基材制成的膜片，具有角度特性；其表面附有扩散层，在要求有较大视角的应用中提供增亮作用。DBEF增光膜还可提高显示均匀性，掩饰背光原板的外观缺陷，消除光耦合wet-out现象，从而减少一片上扩散片的使用。DBEF增光膜亦能够降低反射摩尔效应，其表面没有保护膜，使生产组装更为便利。DBEF增光膜已越来越多的被使用，用于提高液晶显示屏的亮度。BEF-RP增光膜属于复合性材料，以DBEF为基材，上方则为TBEF的棱镜结构，使其同时具有棱镜片与反射式偏光增光膜的性质。3M公司生产的DBEF增光膜和BEF-RP增光膜，可以反射利用更多的偏振光，其增光率要高于普通材质的增光膜，提高了增光效果，使背光模组的出光更加均匀化。背光模组中增光膜角度是否正确直接关系到背光模组装配上LCD后的亮度效果是否正常以及是否会产生斜条纹，所以必须测试增光膜的角度是否正确。传统的增光膜的角度采用投影仪与二次元等仪器等进行检测，而BEF-RP增光膜和DBEF增光膜是以光轴表示增光膜的角度，因此，BEF-RP增光膜和DBEF增光膜的角度无法用现有的检测方法进行检测。基于上述问题，本专利技术提供一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF-RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，所述角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，所述TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线。其中，所述增光膜包括上层增光膜和下层增光膜，所述上层增光膜和下层增光膜成90度的相交叉角；所述角度标识线包括第一角度标识线和第二角度标识线，所述第一角度标识线用于指示所述上层增光膜的待测试角度，所述第二角度标识线用于指示所述下层增光膜的待测试角度，所述第一角度标识线和第二角度标识线相互交叉成90度角；优选地，所述第一角度标识线和第二角度标识线的交叉点位于所述背光模块的中心。需要说明的是，为了实现背光模块的功能，除了增光膜，背光模块必然还包括其他功能部件，由于与本专利技术的改进之处无关，在此不再赘述。本专利技术中，对带有偏光片的TFT面板没有特别限定，可以采用本领域的常规设置，在此不再赘述。还需要说明的是，本专利技术中所述增光膜的待测试角度是根据设计要求预先设定好的，本专利技术是用该测试方法测试所述增光膜的角度是否符合设定要求。S2.点亮所述背光模块，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上并将TFT面板在背光模块所在平面上自由旋转，观察透过所述TFT面板的光的亮度变化，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与角度标识线平行，若所述基准线与角度标识线平行，则判断所述增光膜的待测试角度正确。本专利技术中，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，可以考察所述基准线是否与第一角度标识线平行，也可以考察所述基准线是否与第二角度标识线平行。为了便于观察，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上时，所述TFT面板设有基准线的一面背离所述背光模块的方向。需要说明的是，测试具有不同角度的增光膜时，可以使用同一个带有偏光片的TFT面板。透过增光膜后的光变成了偏振光，但由于人的眼睛没有辨别偏振光的能力，故无法察觉。如果我们把带有增光膜的背光模块按水平方向定位后，而把带有偏光片的TFT面板缓慢的转动，就可发现透射光的强度随着TFT面板转动而出现周期性的变化。由此可知，通过增光膜后发出来的光与入射光性质是有所不同的，这说明经增光膜后的透射光的振动对传播方向不具有对称性。自然光经过增光膜后，改变成为具有一定振动方向的光，这是由于增光膜存在着某种特征性的方向。而这种光的方向是在经增光膜光轴或棱镜角度上发出的，而要检测增光膜以光轴表示的角度时就可用以上原理进行检测。下面结合实施例对本专利技术进行详细的说明，实施例仅是本专利技术的优选实施方式，不是对本专利技术的限定。参阅图1-3，一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF-RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，所述角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，所述TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线。其中，所述增光膜包括上层增光膜和下层增光膜，所述上层增光膜和下层增光膜成90度的相交叉角；所述角度标识线包括第一角度标识线和第二角度标识线，所述第一角度标识线用于指示所述上层增光膜的待测试角本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF‑RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，所述角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，所述TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线；S2.点亮所述背光模块，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上并将TFT面板在背光模块所在平面上自由旋转，观察透过所述TFT面板的光的亮度变化，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与角度标识线平行，若所述基准线与角度标识线平行，则判断所述增光膜的待测试角度正确。

【技术特征摘要】
1.一种增光膜角度的测试方法，包括如下步骤：S1.提供背光模块以及TFT面板，其中，所述背光模块包括增光膜，所述增光膜采用BEF-RP增光膜或DBEF增光膜，所述增光膜上标注有角度标识线，所述角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度，所述TFT面板带有偏光片，所述TFT面板上设有沿TFT面板对角线方向的基准线；S2.点亮所述背光模块，将所述TFT面板覆盖于该背光模块上并将TFT面板在背光模块所在平面上自由旋转，观察透过所述TFT面板的光的亮度变化，当透过所述TFT面板的光的亮度最亮时，考察所述基准线是否与角度标识线平行，若所述基准线与角度标识线平行，则判断所述增光膜的待测试角度正确。2.如权利要求1所述的增光膜角度的测试方法，其特征在于，所述增光膜包括上层增光膜和下层增光膜，所述上层增光膜和下层增光膜成90度的相...

【专利技术属性】
技术研发人员：周福新，林德钦，郭文，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44