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一种增光膜角度的测试方法技术
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文档序号:18286477
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本发明公开了一种增光膜角度的测试方法,包括如下步骤:S1.提供背光模块以及TFT面板,其中,所述背光模块包括增光膜,所述增光膜采用BEF‑RP增光膜或DBEF增光膜,所述增光膜上标注有角度标识线,角度标识线用于指示所述增光膜的待测试角度,所...
该专利属于信利半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过信利半导体有限公司授权不得商用。
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