一种可控硅脉冲故障检测仪制造技术

本发明专利技术公开了一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。本发明专利技术通过对可控硅脉冲输入信号进行直接检测，其检测结果用发光二极管LED1绿色发光表示正常，发光二极管LED2红色发光表示故障；检测过程直接高效、精准，检测结果显示直观；精巧方便、简单实用，且能够自动进行指示。

【技术实现步骤摘要】
一种可控硅脉冲故障检测仪
本专利技术涉及到可控硅检测领域，尤其涉及到一种可控硅脉冲故障检测仪。
技术介绍
可控硅，是可控硅整流元件的简称，是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件，亦称为晶闸管。具有体积小、结构相对简单、功能强等特点，是比较常用的半导体器件之一。该器件被广泛应用于各种电子设备和电子产品中，多用来作可控整流、逆变、变频、调压、无触点开关等。可控硅作为工控设备中的重要组成部分，一旦出现故障，往往会导致系统效率下降或者停止运行，严重的甚至会造成设备自身的损坏。目前对可控硅故障的检测多为示波器或者测电阻等方式，这些不够高效直接，导致判断结果不理想。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本专利技术提供一种可控硅脉冲故障检测仪,解决的不够高效直接，导致判断结果不理想问题。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。优选的技术方案，当检测到可控硅脉冲输入信号故障时，能够通过所述继电器J的触点控制故障电路的工作状态。优选的技术方案，所述三极管BG1饱和导通时，所述电容C通过所述二极管D1进行充电电压自放电。优选的技术方案，所述电源VDD电压为DC12V。优选的技术方案，所述集成电路IC为555芯片。相对于现有技术的有益效果是，采用上述方案，本专利技术通过对可控硅脉冲输入信号进行直接检测，其检测结果用发光二极管LED1绿色发光表示正常，发光二极管LED2红色发光表示故障；检测过程直接高效、精准，检测结果显示直观；精巧方便、简单实用，且能够自动进行指示。附图说明为了更清楚的说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的一种可控硅脉冲故障检测仪电路原理图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面结合附图和具体实施例，对本专利技术进行更详细的说明。附图中给出了本专利技术的较佳的实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本说明书所使用的术语“固定”、“一体成型”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，在图中，结构相似的单元是用以相同标号标示。除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本专利技术。如图1所示，本专利技术的一个实施例是：一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述电源VDD分别与所述电阻R2的第一端、所述电阻R4的第一端、所述继电器J的第一端、所述二极管D2的负极、所述集成电路IC的第四管脚、第八管脚连接；所述三极管BG1的集电极分别与所述电阻R2的第二端、所述电阻R3的第一端、所述二极管D1的负极连接；所述电容C的正极分别与所述电阻R3的第二端、所述二极管D1的正极、所述集成电路IC的第二管脚、第六管脚连接；所述三极管BG1的发射极、所述电容C的负极、所述电阻R5的第二端、所述集成电路IC的第一管脚均接地；所述发光二极管LED1的第一端分别与所述电阻R4的第二端、所述继电器J的第二端、所述二极管D2的正极连接；所述发光二极管LED1的第二端分别与所述发光二极管LED2的第一端、所述集成电路IC的第三管脚连接；所述发光二极管LED2的第二端与所述电阻R5的第一端连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。进一步地，当检测到可控硅脉冲输入信号故障时，能够通过所述继电器J的触点控制故障电路的工作状态。进一步地，所述三极管BG1饱和导通时，所述电容C通过所述二极管D1进行充电电压自放电。进一步地，所述电源VDD电压为DC12V。进一步地，所述集成电路IC为555芯片。本专利技术的工作原理是：本检测电路的核心是集成电路IC构成的单稳态触发器。当可控硅脉冲输入信号正常时，三极管BG1饱和导通，电容C上的充电电压定时放电，集成电路IC因第二管脚电位为低电平(<1/3VDD)而发生置位，集成电路IC因第三管脚输出的高电平使发光二极管LED2点亮(绿色)。当可控硅脉冲输入信号消失或漏掉较多时，三极管BG1截止或导通次数比原来少，则电容C上的电压高于2/3VDD，使集成电路IC第六管脚电位为高电平(>2/3VDD)而发生复位，第三管脚输出的低电平使发光二极管LED1点亮(红色)。表明可控硅脉冲信号有故障，同时继电器J吸合，控制相应电路的工作状态。需要说明的是，上述各技术特征继续相互组合，形成未在上面列举的各种实施例，均视为本专利技术说明书记载的范围；并且，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本专利技术所附权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；其特征在于，可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。

【技术特征摘要】
1.一种可控硅脉冲故障检测仪，包括电源VDD、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C、集成电路IC、二极管D1、二极管D2、继电器J、三极管BG1、发光二极管LED1和发光二极管LED2；其特征在于，可控硅脉冲输入信号通过所述电阻R1与所述三极管BG1的基极连接；所述可控硅脉冲输入信号正常时，所述发光二极管LED1点亮且为绿色；所述可控硅脉冲输入信号消失或者漏掉较多时，所述发光二极管LED2点亮且为红色。2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞晓柯，
申请(专利权)人：郑州舒柯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41