基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法技术

本发明专利技术属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built‑in self‑test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。 1

RAM resource traversal test location method based on BIST in onboard FPGA

The invention belongs to the technical field of programmable device verification test, and specifically involves a method of testing and locating RAM resource traversal in a board based FPGA based on BIST. After the FPGA welding to the single board, the BIST (Built in in self test) method built in FPGA is used to automatically traverse the RAM resources in the test FPGA and identify the bad blocks. The statistical results of RAM bad block are reported, including the number, location and error type of RAM bad block, so as to avoid FPGA fault caused by RAM bad block. One

【技术实现步骤摘要】
基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法
本专利技术属于可编程器件验证测试
，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built-inself-test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。
技术介绍
随着现场可编程门阵列(FPGA)芯片在商业、军事、航空航天等领域越来越广泛的应用，其可靠性和可测试性显得尤为重要。所以，对FPGA器件的故障检测、诊断方法以及各种可测性设计技术进行全面深入的研究具有重要的现实意义。在实际应用环境上测试FPGA，按照实际使用的模式配置FPGA来进行测试，这种测试具有很强的针对性。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是：如何提供一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法。(二)技术方案为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，FPGA中包含有多个RAM资源块，并且不同厂家、不同型号的FPGA，其RAM资源块的个数也不同，每个RAM资源块在FPGA中都有固定的位置；所述方法首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应，在选定的故障模式下进行测试时，如果某块RAM资源出现故障，就会上报RAM资源块的编号，这样就可以通过编号定位到RAM资源块的位置。其中，所述方法包括：步骤一：首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应；步骤二：板卡上电，开始BIST自动测试；步骤三：开始AF故障测试，同时对所有RAM进行写读操作，其中地址由地址生成器进行控制，保证遍历完所有的地址空间；每个存储空间写入的存储数据内容为存储空间对应的地址，这就可以保证对每个存储空间写入不同的存储数据；写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第一错误信息；步骤四：在完成步骤三后，开始TF&SAF故障测试，这部分测试分为两个部分：(1)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第一数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第二错误信息；(2)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第二数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第三错误信息；通过上述2部分测试可以覆盖TF&SAF故障测试。步骤五：按照出错的故障类型，对每次测试的结果即第一错误信息、第二错误信息及第三错误信息进行统计，统计出RAM块的坏块个数以及位置信息，并置位测试完成标志，上报给DSP，测试结束。其中，步骤三中，错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM块编号。其中，步骤三中，第一数据内容为“0B_0101_0101…_0101”，其中，步骤四中，第一数据是相邻数据线01跳变的数据。其中，步骤四中，第二数据内容为“0B_1010_1010…_1010”。其中，步骤四中，第二数据是对上一次写入的第一数据按位取反。其中，步骤四中，第二错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。其中，步骤四中，第三错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。其中，步骤五中，通过EMIF接口上报给DSP。(三)有益效果FPGA内部的RAM实际上是静态RAM，因此只需要考虑AF、TF和SAF三种故障模式：AF：与地址译码器相关的故障。这类故障又分为不同的类型：第一类故障为，对某一地址没有可读写的存储单元；第二类故障为，无法读写某一存储单元；第三类故障为，某一地址可以读写多个存储单元；最后一类故障为，有多个地址只能读写同一存储单元。TF：变迁故障，代表存储单元不能从0状态变迁到1状态，或者不能从1状态变迁到O状态，要检测出变迁故障，必须使每一个存储单元经历Ol和10变迁，并检查结果。SAF：固定型故障，存储单元恒定地存储1或0。针对上述三种故障模式，本专利技术提供了一种简便有效的测试方法，这种测试方法最大的优点是不需要构造多个复杂的测试数据图样，也不需要实时观测存储数据读出后的实时图样，只需要对RAM写入的数据进行简单变化，就能够覆盖测试上述三种故障模式，并且可以上报相应故障模式下坏块的个数和位置等信息。附图说明图1是RAM编号示意图。图2是测试模块实现图。图3是测试流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、内容、和优点更加清楚，下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。为解决现有技术的问题，本专利技术提供一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，FPGA中包含有多个RAM资源块，并且不同厂家、不同型号的FPGA，其RAM资源块的个数也不同，每个RAM资源块在FPGA中都有固定的位置；如图1-图3所示，所述方法首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应，在选定的故障模式下进行测试时，如果某块RAM资源出现故障，就会上报RAM资源块的编号，这样就可以通过编号定位到RAM资源块的位置。其中，所述方法包括：步骤一：首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应；步骤二：板卡上电，通过DSP的EMIF接口配置FPGA测试程序，开始BIST自动测试；步骤三：程序开始AF故障测试，同时对所有RAM进行写读操作，其中地址由地址生成器进行控制，保证遍历完所有的地址空间；每个存储空间写入的存储数据内容为存储空间对应的地址，这就可以保证对每个存储空间写入不同的存储数据；写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第一错误信息；步骤四：在完成步骤三后，程序自动开始TF&SAF故障测试，这部分测试分为两个部分：(1)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第一数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第二错误信息；(2)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第二数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第三错误信息；通过上述2部分测试可以覆盖TF&SAF故障测试。步骤五：按照出错的故障类型，对每次测试的结果即第一错误信息、第二错误信息及第三错误信息进行统计，统计出RAM块的坏块个数以及位置信息，并置位测试完成标志，上报给DSP，测试结束。其中，步骤三中，错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM块编号。其中，步骤三中，第一数据内容为“0B_0101_0101…_0101”，其中，步骤四中，第一数据是相邻数据线01跳变的数据。其中，步骤四中，第二数据内容为“0B_1010_1010…_1010”。其中，步骤四中，第二数据是对上一次写入的第一数据按位取反。其中，步骤四中，第二错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。其中，步骤四中，第三错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。其中，步本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，FPGA中包含有

【技术特征摘要】
1.一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，FPGA中包含有多个RAM资源块，并且不同厂家、不同型号的FPGA，其RAM资源块的个数也不同，每个RAM资源块在FPGA中都有固定的位置；所述方法首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应，在选定的故障模式下进行测试时，如果某块RAM资源出现故障，就会上报RAM资源块的编号，这样就可以通过编号定位到RAM资源块的位置。2.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一：首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应；步骤二：板卡上电，开始BIST自动测试；步骤三：开始AF故障测试，同时对所有RAM进行写读操作，其中地址由地址生成器进行控制，保证遍历完所有的地址空间；每个存储空间写入的存储数据内容为存储空间对应的地址，这就可以保证对每个存储空间写入不同的存储数据；写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第一错误信息；步骤四：在完成步骤三后，开始TF&SAF故障测试，这部分测试分为两个部分：(1)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第一数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第二错误信息；(2)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第二数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第三错误信息；通过上述2部分测试可以覆...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢立佳，
申请(专利权)人：天津津航计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：天津,12