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本发明属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built‑in self‑test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源...
该专利属于天津津航计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过天津津航计算技术研究所授权不得商用。

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