一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器及制备方法技术

本发明专利技术公开了一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，包括光电探测器本体，所述光电探测器本体的上部表面通过透明胶层固定连接有LED发光芯片层，所述LED发光芯片层包括第二衬底，所述第二衬底的上部表面通过LED芯片制备工艺制成芯片层，所述芯片层的上部表面固定连接有金属反光层。本发明专利技术在光电探测器本体上固定连接有LED芯片发光层，可单独发射特定功率特定的光线，当做参考标准，可以起到校准光电探测器作用，同时可以根据环境情况实时测定光电探测器的准确性，根据出厂提供测试结果，对光电探测器的测试数据进行对比分析，提高探测的准确性，减少误差。

【技术实现步骤摘要】
一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器及制备方法
本专利技术属于光电探测领域，更具体地说，尤其涉及一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器。同时，本专利技术还涉及一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器的制备方法。
技术介绍
光电探测器是利用半导体材料的光电导效应制成的一种光探测器件。光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等；在红外波段主要用于导弹制导、红外热成像、红外遥感等方面。光电探测器的工作原理是基于光电效应,当有光照射到PN结上时,光子在PN结的空间电荷区内被材料吸收,产生电子和空穴,在内建电场的作用下,电子和空穴分别向n型和p型区域运动形成电流。通常情况下电路中的电流和光照强度呈线性关系,光强越强,电路中的电流也会越大。然而在长时间使用或温度变化过大的环境中使用，光电探测器的探测结果容易出现误差，然而这种误差存在，如果不能有实施检测的对比数据进行分析，经常会采集到不准确的数据，造成光电探测的结果误差较大。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于硅基光电集成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，包括光电探测器本体(1)，其特征在于：所述光电探测器本体(1)的上部表面通过透明胶层(2)固定连接有LED发光芯片层(3)，所述LED发光芯片层(3)包括第二衬底(33)，所述第二衬底(33)的上部表面通过LED芯片制备工艺制成芯片层(32)，所述芯片层(32)的上部表面固定连接有金属反光层(31)。

【技术特征摘要】
1.一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，包括光电探测器本体(1)，其特征在于：所述光电探测器本体(1)的上部表面通过透明胶层(2)固定连接有LED发光芯片层(3)，所述LED发光芯片层(3)包括第二衬底(33)，所述第二衬底(33)的上部表面通过LED芯片制备工艺制成芯片层(32)，所述芯片层(32)的上部表面固定连接有金属反光层(31)。2.根据权利要求1所述的一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，其特征在于：所述第二衬底(33)为蓝宝石衬底。3.根据权利要求1所述的一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，其特征在于：所述光电探测器本体(1)包括有第一欧姆接触电极层(11)，所述第一欧姆接触电极层(11)上部依次设置有第一衬底(12)、光电转换层(13)、光衰减层(14)和第二欧姆接触电极层(15)。4.根据权利要求1所述的一种用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器，其特征在于：所述第二衬底(33)为封闭式环形结构。5.一种权利要求1所述的用于硅基光电集成电路芯片中的光电探测器的制备方法，其特征在于：包括如下步骤：S1、制备光电探测器(1)：准备第一衬底(12)，所述第一衬底(12)为N型或P型单晶硅，在第一衬底(12)的上部表面依次外延生长光电转换层(13)、光衰减层(14)及第二欧姆接触电极层(15)，在第一衬底(12)的下部表面生长第一欧姆接触电极层(11)；S2、制备LED发光芯片层(1)：准备第二衬底(33)，所述第二衬底(33)为厚度450um-800um的蓝宝石衬底，在第二衬底(33)的上部通过LED芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：史晓凤，韩波，王诗兵，李军，王静，李佩君，
申请(专利权)人：阜阳师范学院，
类型：发明
国别省市：安徽,34