一种测试夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试夹具，属于测试设备技术领域，适用于测试红外热成像探测器，测试夹具包括一定位板，定位板上设置有两个第一凹槽，并且每个第一凹槽的底部设置有多个第二凹槽，每个第一凹槽用于容纳红外热成像探测器的一个引脚；测试夹具还包括一上盖，上盖上设置有两条对应于第一凹槽的弹性压板，测试时上盖的两个压板分别设置于两个第一凹槽内以固定红外热成像探测器的引脚。上述技术方案的有益效果是：测试夹具上设置有定位红外热成像探测器引脚的凹槽，测试器的每个引脚伸到一个凹槽内与测试夹具的探针接触，再使用弹性压板固定引脚，避免引脚与探针接触不良，也可避免引脚变形，提高测试的准确率，进而提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具
本技术涉及测试设备
，尤其涉及一种适用于测试红外热成像探测器的测试夹具。
技术介绍
随着红外热成像产品从军用市场进入了更广阔的民用市场，其红外热成像探测器的市场需要量日益提升，企业扩大生产规模批量生产。同时，企业追求利润最大化，提高生产效率和良率是增加利润的一个重要手段。然而，在红外热成像探测器生产测试过程中，现有技术的红外热成像探测器测试夹具，存在探测器引脚与测试电路板之间接触不良、通路电阻大、对探测器引脚容易造成划痕和变形等问题。探测器引脚与测试电路板间接触不良会导致测试数据不稳定，造成误判或再次测试。再次测试增加了测试工时，降低了测试效率，且反复装夹会增加探测器引脚的划痕和变形。
技术实现思路
根据现有技术中存在的上述问题，现提供一种旨在解决在测试过程中待测试的红外热成像探测器的引脚与测试电路板之间接触不良、通路电阻大，以及待测试的红外热成像探测器的引脚易变形的问题的测试夹具。本技术采用如下技术方案：一种测试夹具，适用于测试红外热成像探测器，所述红外热成像探测器的一对对边上分别设置有一排引脚，所述测试夹具包括：定位板，于所述定位板上设置两条相互平行的第一凹槽，于每条所述第一凹槽的底部设置若干个第二凹槽，待测试的红外热成像探测器设置于所述定位板上，待测试的红外热成像探测器的两排引脚分别设置于两条所述第一凹槽内并且每个引脚伸入对应的第二凹槽内；测试单元，设置于所述定位板的下方，所述测试单元进一步包括：测试电路板，于所述测试电路板上对应于所述第二凹槽的位置设置测试点；若干个探针组，垂直于所述测试电路板设置于所述测试单元内，每个所述探针组对应一个所述测试点，每个所述探针组的上端触头通过设置于所述第二凹槽的底部的第一通孔伸入到对应的所述第二凹槽内并接触对应的一个待测试的红外热成像探测器的引脚，每个所述探针组的下端触头接触对应的一个测试点，每个所述探针组包括若干个探针；上盖，通过一固定装置可拆卸地固定于所述测试单元上，于所述上盖朝向所述定位板的一面上设置两条相互平行的弹性压板，两条所述压板分别对应两条所述第一凹槽，于所述上盖固定于所述测试单元上时，两条所述压板分别设置于两条所述第一凹槽内。较佳的，测试夹具中，所述测试单元还包括：基座，固定于所述测试电路板设置所述探针的一面，于所述基座的中部设置一贯通部，所述探针位于所述贯通部内；探针模板，设置于所述贯通部内，于所述探针模板内设置若干个与所述探针对应的垂直通孔，每个所述探针从对应的所述垂直通孔中伸出所述探针模板的上表面；所述定位板设置于所述探针模板的上表面上。较佳的，测试夹具中，所述固定装置包括两个锁扣；每个所述锁扣包括：锁扣头，可活动地设置于所述上盖上；锁扣槽，对应于所述锁扣头设置于所述基座的侧壁上；两个所述锁扣的锁扣头分别设置于所述上盖的一对对边上；所述锁扣头卡扣于对应的锁扣槽内以将所述上盖固定于所述基座上。较佳的，测试夹具中，于所述上盖的一对对边分别设置一个第三凹槽；两个所述锁扣头分别通过转轴可活动地设置于两个所述第三凹槽内。较佳的，测试夹具中，于所述上盖设置所述压板的一面设置至少两个定位销；于所述基座未接触所述测试电路板的一面设置与所述定位销位置对应的定位孔；于所述上盖固定于所述基座上时，所述定位销伸入对应的所述定位孔中。较佳的，测试夹具中，于所述定位板的中部设置一第四凹槽，待测试的红外热成像探测器设置于所述第四凹槽内。较佳的，测试夹具中，还包括一背板，所述测试电路板未接触所述探针的一面设置于所述背板上。较佳的，测试夹具中，还包括一绝缘板，设置于所述测试电路板与所述背板之间。较佳的，测试夹具中，每个所述探针组包括2个所述探针。较佳的，测试夹具中，所述压板由绝缘材料制成。上述技术方案的有益效果是：测试夹具上设置有定位红外热成像探测器引脚的凹槽，测试器的每个引脚伸到一个凹槽内与测试夹具的探针接触，再使用弹性压板固定引脚，避免引脚与探针接触不良，也可避免引脚变形，提高测试的准确率，进而提高测试效率。附图说明图1是本技术的较佳的实施例中，一种测试夹具的剖面图；图2是本技术的较佳的实施例中，一种测试夹具的结构示意图；图3是本技术的较佳的实施例中，定位板的结构示意图；图4是本技术的较佳的实施例中，上盖的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，但不作为本技术的限定。本技术的较佳的实施例中，如图1-4所示，一种测试夹具，适用于测试红外热成像探测器1，红外热成像探测器1的一对对边上分别设置有一排引脚11，测试夹具包括：定位板2，如图1-3所示，于定位板2上设置两条相互平行的第一凹槽21，于每条第一凹槽21的底部设置若干个第二凹槽22，待测试的红外热成像探测器1设置于定位板2上，待测试的红外热成像探测器1的两排引脚11分别设置于两条第一凹槽21内并且每个引脚伸入对应的第二凹槽22内；测试单元，设置于定位板2的下方，如图1和图2所示，测试单元进一步包括：测试电路板31，于测试电路板31上对应于第二凹槽22的位置设置测试点；若干个探针组32，垂直于测试电路板31设置于测试单元内，每个探针组32对应一个测试点，每个探针组32的上端触头通过设置于第二凹槽22的底部的第一通孔23伸入到对应的第二凹槽22内并接触对应的一个待测试的红外热成像探测器1的引脚11，每个探针组32的下端触头接触对应的一个测试点，每个探针组包括若干个探针33；上盖4，如图1所示，通过一固定装置可拆卸地固定于测试单元上，于上盖4朝向定位板2的一面上设置两条相互平行的弹性压板41，两条压板41分别对应两条第一凹槽21，于上盖4固定于测试单元上时，两条压板41分别设置于两条第一凹槽21内。本实施例中，通过定位板2来对待测试的红外热成像探测器1进行定位，在定位板2上设置二条第一凹槽21，并在每个第一凹槽21的底部设置若干个第二凹槽22，在测试时，红外热成像探测器1的两排引脚11分别设置在两个第一凹槽21内，并且每个引脚11都放置在对应的第二凹槽22内，再通过上盖4对红外热成像探测器1的引脚11进入固定，由于引脚11都放置在对应的第二凹槽22内，可避免引脚11之间相互接触，保证测试的准确性；引脚11被相应的第二凹槽22固定，在上盖4固定引脚11，可避免引脚11因受力产生偏移而导致的变形；另外上盖4上的压板41采用弹性材料，在固定引脚11的同时避免对引脚11造成划伤。进一步地，本实施例中，用于连接红外热成像探测器1和测试电路板31的每个探针组32包括多个探针33，每一个探针组32的多个探针33的下端接触测试电路板31上的个对应的测试点，上端触头通过设置在第二凹槽22底部的第一通孔23伸入到对应的第二凹槽22内，每个第二凹槽22内的第一通孔23的数量与每个探针组32的探针33的数量相等，每个探针33的上端触头可伸缩，以确保在探针33与红外热成像探测器1的引脚11接触的同时，不会挤压引脚11，避免引脚11变形。进一步地，由于每个引脚11与对应的测试点之间通过多个探针33连接，可减小引脚11与对应的测试点之间通路电阻，以提高测试的准确性，避免反复测试，提高测试效率。本技术的较佳的实施例中，如图1所示，测试单元还包括：基座34，固本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试夹具，适用于测试红外热成像探测器，所述红外热成像探测器的一对对边上分别设置有一排引脚，其特征在于，所述测试夹具包括：定位板，于所述定位板上设置两条相互平行的第一凹槽，于每条所述第一凹槽的底部设置若干个第二凹槽，待测试的红外热成像探测器设置于所述定位板上，待测试的红外热成像探测器的两排引脚分别设置于两条所述第一凹槽内并且每个引脚伸入对应的第二凹槽内；测试单元，设置于所述定位板的下方，所述测试单元进一步包括：测试电路板，于所述测试电路板上对应于所述第二凹槽的位置设置测试点；若干个探针组，垂直于所述测试电路板设置于所述测试单元内，每个所述探针组对应一个所述测试点，每个所述探针组的上端触头通过设置于所述第二凹槽的底部的第一通孔伸入到对应的所述第二凹槽内并接触对应的一个待测试的红外热成像探测器的引脚，每个所述探针组的下端触头接触对应的一个测试点，每个所述探针组包括若干个探针；上盖，通过一固定装置可拆卸地固定于所述测试单元上，于所述上盖朝向所述定位板的一面上设置两条相互平行的弹性压板，两条所述压板分别对应两条所述第一凹槽，于所述上盖固定于所述测试单元上时，两条所述压板分别设置于两条所述第一凹槽内。...

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，适用于测试红外热成像探测器，所述红外热成像探测器的一对对边上分别设置有一排引脚，其特征在于，所述测试夹具包括：定位板，于所述定位板上设置两条相互平行的第一凹槽，于每条所述第一凹槽的底部设置若干个第二凹槽，待测试的红外热成像探测器设置于所述定位板上，待测试的红外热成像探测器的两排引脚分别设置于两条所述第一凹槽内并且每个引脚伸入对应的第二凹槽内；测试单元，设置于所述定位板的下方，所述测试单元进一步包括：测试电路板，于所述测试电路板上对应于所述第二凹槽的位置设置测试点；若干个探针组，垂直于所述测试电路板设置于所述测试单元内，每个所述探针组对应一个所述测试点，每个所述探针组的上端触头通过设置于所述第二凹槽的底部的第一通孔伸入到对应的所述第二凹槽内并接触对应的一个待测试的红外热成像探测器的引脚，每个所述探针组的下端触头接触对应的一个测试点，每个所述探针组包括若干个探针；上盖，通过一固定装置可拆卸地固定于所述测试单元上，于所述上盖朝向所述定位板的一面上设置两条相互平行的弹性压板，两条所述压板分别对应两条所述第一凹槽，于所述上盖固定于所述测试单元上时，两条所述压板分别设置于两条所述第一凹槽内。2.如权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述测试单元还包括：基座，固定于所述测试电路板设置所述探针的一面，于所述基座的中部设置一贯通部，所述探针位于所述贯通部内；探针模板，设置于所述贯通部内，于所述探针模板内设置若干个与所述探针对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉涛，
申请(专利权)人：中航重庆微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆,50