The invention discloses a method for the production of a silicon heap, by cutting the two step square grain in the thickness direction of the silicon wafer to form an incomplete cut square grain. The cutting depth of the silicon wafer is 3/5 to 4/5 of the total thickness of the silicon wafer, and the silicon wafer, which is pre cut in the thickness direction, is placed in the grain crack facing up the grain. On the paper, the direction of the cutting edge is upwards and lightly pressed, so that the square grain with incomplete cutting is completely cracked. Then the crystal is placed into the sucker disc, and the solder grain grain welds are arranged according to the strict size ratio relationship between the size of the solder sheet and the square grain size. Grain welding sequence is loaded in sequence, spray welding flux is evenly sprayed on the welding boat surface, and welding boat is welded at low temperature. Before welding, there is no need to advance the positive grain before welding, which can automatically pull the grain after welding, simplify the production link, reduce the welding temperature, save the energy, and have high yield and small hole area, and avoid the problem of not dense and firm welding.
【技术实现步骤摘要】
一种硅堆的生产方法
本专利技术涉及二极管的生产工艺,特别是涉及一种硅堆的生产方法。
技术介绍
目前硅堆焊接,方形晶粒焊接前对正及焊接对正是个难题,当前一般方法是采用整片硅片焊接堆积后再切开的工艺,焊接夹具笨重复杂,并且由于整片硅片在之前扩散工艺造成的形变,大片焊片高温熔化后分布不均匀,导致切割过程破损率高,切开后的小单元还要二次装填以焊接引线,二次焊接造成晶粒二次损伤,焊接次数越多损伤越严重。如上工艺不仅过程复杂,设备庞杂,而且成本高,成品率低(80%左右)。常规的硅堆焊接,没有人对于焊片与晶粒之间的尺寸比例关系进行详细和认真的研究,因此一直没能对于晶粒焊接的对正问题作出贡献。而且行业内普遍采用硅堆焊接的温度为大于350℃的,在小于350℃的时,会出现焊接不良的情况,当温度达到350℃~380℃才能实现良好的焊接,但高温导致焊接出的硅堆焊接气孔大,气孔面积一般在8~20%,良品率低(小于90%),而且浪费能源。例如:专利文献CN105499732A公开了一种不易击穿的整流二极管的焊接制作工艺,其工艺步骤为,选用含Ag≧1.45%的焊片、无氧铜引线和芯片作为整流二极管的焊接材料,焊接材料装在传输链上的模具后,在传输链的带动下输送至炉膛内,同时,以3000L/H-3200L/H的流量从炉膛底部朝炉膛内输送氮气,炉膛内沿传输方向分为升温区、降温区和常温区,所述的升温区和降温区均设置有若干个不同加热温度的加热点,升温区的加热点沿输送方向按照温度大小升序排列,降温区的加热点沿输送方向按照温度大小降序排列,所述升温区初始加热点的加热温度为296℃,末端加热点的加热温度 ...
【技术保护点】
一种硅堆的生产方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:两步法方形晶粒的切割1.1、在硅晶片的厚度方向预切割,形成不完全切开的方形晶粒,硅晶片的切割深度为硅晶片总厚度的3/5~4/5;1.2、将在厚度方向预切割的硅晶片N面朝上放在晶粒裂解纸上,切割刀口方向朝上,轻压,使得不完全切开的方形晶粒完全裂解;步骤2:晶粒放入吸盘摇粒2.1、将透明防反罩放置于晶粒裂解纸下方,吸盘开口一侧扣在晶粒裂解纸的晶粒上,然后将透明防反罩、晶粒裂解纸、方形晶粒、吸盘整体水平方向反转,防反罩和晶粒吸盘适当用力夹紧,防止在反转时晶粒相对移动,使得方形晶粒整体移入吸盘内;吸盘在下,吸盘之上依次为方形晶粒、晶粒裂解纸和透明防反罩;2.2、拿起透明防反罩,移除透明防反罩和晶粒裂解纸,再在方形晶粒上方重新扣上透明防反罩,透明防反罩与晶粒吸盘之间的间距小于晶粒边长,防止晃盘时翻转;2.3、晃动吸盘,吸盘开始吸附方形晶粒,确保吸盘的每一吸孔都吸附方形晶粒,并且吸盘的吸孔内方形晶粒方向一致无反转;2.4、打开真空开关,把吸盘孔的方形晶粒吸住,多余少量方形晶粒倒出它用;步骤3:装填3.1、将下引线装入下焊接舟;3.2、将焊片放入 ...
【技术特征摘要】
1.一种硅堆的生产方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:两步法方形晶粒的切割1.1、在硅晶片的厚度方向预切割,形成不完全切开的方形晶粒,硅晶片的切割深度为硅晶片总厚度的3/5~4/5;1.2、将在厚度方向预切割的硅晶片N面朝上放在晶粒裂解纸上,切割刀口方向朝上,轻压,使得不完全切开的方形晶粒完全裂解;步骤2:晶粒放入吸盘摇粒2.1、将透明防反罩放置于晶粒裂解纸下方,吸盘开口一侧扣在晶粒裂解纸的晶粒上,然后将透明防反罩、晶粒裂解纸、方形晶粒、吸盘整体水平方向反转,防反罩和晶粒吸盘适当用力夹紧,防止在反转时晶粒相对移动,使得方形晶粒整体移入吸盘内;吸盘在下,吸盘之上依次为方形晶粒、晶粒裂解纸和透明防反罩;2.2、拿起透明防反罩,移除透明防反罩和晶粒裂解纸,再在方形晶粒上方重新扣上透明防反罩,透明防反罩与晶粒吸盘之间的间距小于晶粒边长,防止晃盘时翻转;2.3、晃动吸盘,吸盘开始吸附方形晶粒,确保吸盘的每一吸孔都吸附方形晶粒,并且吸盘的吸孔内方形晶粒方向一致无反转;2.4、打开真空开关,把吸盘孔的方形晶粒吸住,多余少量方形晶粒倒出它用;步骤3:装填3.1、将下引线装入下焊接舟;3.2、将焊片放入焊片吸盘,并移入焊接舟,焊片落在引线之上;晶粒放入焊接舟,落在焊片之上,重复焊片—晶粒—焊片……晶粒—焊片的顺序装填,在焊接舟表面均匀喷洒助焊剂,合上载有上引线的上焊接舟;其中方形晶粒可以任意角度放入,无需刻意调整晶粒放入的角度,焊片放入时也无需刻意调整位置;装填过程注意随时调整下引线托盘的控制螺丝的高度,随着晶粒装填,逐渐降低下引线托盘的深度,防止深度过深晶粒装填时在焊接舟孔中翻转;3.3、焊...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘云燕,李广德,李书涛,孙美玲,王硕,付圣贵,尹广超,魏功祥,
申请(专利权)人:山东理工大学,
类型:发明
国别省市:山东,37
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