一种直流电流比较测量装置制造方法及图纸

技术编号:17778043 阅读:27 留言:0更新日期:2018-04-22 05:45
本发明专利技术公开了一种直流电流比较测量装置,属于电工技术中的电流测量领域,包括传感头、激磁变压器、第一电阻器、第二电阻器、带通滤波器、解调器、前置放大器、低通滤波器、总加器、调节器和功率放大器,本发明专利技术中两调制检测绕组的同名端极性反相串联连接,实现了被测一次电流中交流纹波在两调制检测绕组中感应电势的抵消,消除了对调制器输出信号的干扰,保证了装置的稳定运行。两激磁绕组的同名端极性同相连接,因为两激磁回路是分开独立的,只有一点存在电的联系,不会发生两激磁电路之间产生回路电流形成的干扰,进一步保证了装置的稳定运行。

【技术实现步骤摘要】
一种直流电流比较测量装置
本专利技术属于电工技术中的电流测量领域,更具体地,涉及一种直流电流比较测量装置。
技术介绍
《计量学报》2003年4月第24卷第2期公开的“双重磁检测器电流比较仪的开环特性研究”,它是将磁调制器与磁放大器的传输特性有机结合起来,克服传统磁调制器的开环传输特性曲线有若干过零点的缺陷和弊端。即磁放大器安置于磁调制器之中,它们使用共同的一对检测铁芯和线圈,以及共同的磁屏蔽铁芯与反馈绕组,构成了双重磁检测器直流大电流传感理论与方法。但这种装置存在如下缺点:该一对检测铁芯线圈的同名端极性形成了同相串联连接,而工业生产中被测母线一次直流电流中,不可避免地含有交流纹波电流,该交流纹波电流在一对检测铁芯线圈中感应的电势不但不能抵消,而且直接相加,并且叠加在磁调制器的检测信号上,造成磁调制器检测信号的严重干扰,影响装置的稳定运行,装置的工业现场使用受到限制。由此可见,现有技术存在磁调制器检测信号受到严重干扰、难以稳定运行的技术问题。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷,本专利技术提供了一种直流电流比较测量装置,由此解决现有技术存在磁调制器检测信号受到严重干扰、难以稳定运行的技术本文档来自技高网...
一种直流电流比较测量装置

【技术保护点】
一种直流电流比较测量装置,其特征在于,包括传感头、激磁变压器、第一电阻器、第二电阻器、带通滤波器、解调器、前置放大器、低通滤波器、总加器、调节器和功率放大器,所述传感头包括第一环形检测铁芯、第二环形检测铁芯、第一调制检测绕组、第二调制检测绕组、静电屏蔽层、磁屏蔽铁芯和反馈绕组,所述第一环形检测铁芯和第二环形检测铁芯的形状相同,第一环形检测铁芯和第二环形检测铁芯上分别绕有匝数相同的第一调制检测绕组、第二调制检测绕组,第一调制检测绕组和第二调制检测绕组的外面包覆静电屏蔽层后置于具有环形空腔结构的磁屏蔽铁芯的空腔中,在磁屏蔽铁芯外面绕有反馈绕组;所述激磁变压器的副方具有电压相同的第一激磁绕组和第二激...

【技术特征摘要】
1.一种直流电流比较测量装置,其特征在于,包括传感头、激磁变压器、第一电阻器、第二电阻器、带通滤波器、解调器、前置放大器、低通滤波器、总加器、调节器和功率放大器,所述传感头包括第一环形检测铁芯、第二环形检测铁芯、第一调制检测绕组、第二调制检测绕组、静电屏蔽层、磁屏蔽铁芯和反馈绕组,所述第一环形检测铁芯和第二环形检测铁芯的形状相同,第一环形检测铁芯和第二环形检测铁芯上分别绕有匝数相同的第一调制检测绕组、第二调制检测绕组,第一调制检测绕组和第二调制检测绕组的外面包覆静电屏蔽层后置于具有环形空腔结构的磁屏蔽铁芯的空腔中,在磁屏蔽铁芯外面绕有反馈绕组;所述激磁变压器的副方具有电压相同的第一激磁绕组和第二激磁绕组,所述第一激磁绕组的同名端与第一调制检测绕组的异名端相连,第一激磁绕组的异名端与第一电阻器的一端连接,第一电阻器的另一端与第一调制检测绕组的同名端相连;第二激磁绕组的异名端与第二调制检测绕组的异名端相连,第二激磁绕组的同名端与第二电阻器的一端连接,第二电阻器的...

【专利技术属性】
技术研发人员:任士焱
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:湖北,42

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