一种用于测试指纹芯片的测试装置制造方法及图纸

技术编号:17740292 阅读:77 留言:0更新日期:2018-04-18 15:20
本实用新型专利技术的一种用于测试指纹芯片的测试装置,包括测试机和按压机构,按压机构设置在测试机的上方,测试机设置有用于放置待测芯片的凹槽,凹槽的底部设置有用于吸住待测芯片的吸附组件,按压机构包括柔性的且导电材质的导电胶头和用于驱动导电胶头上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。与现有技术相比,本实用新型专利技术采用了柔性的且导电材质的导电胶头对待测芯片施加压力,较为符合芯片实际使用情形,导电胶头和待测芯片之间能够形成电容效果,测试更加准确,提高工作效率。

A test device for testing fingerprint chips

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试指纹芯片的测试装置
本技术涉及对指纹芯片测试
,具体涉及一种用于测试指纹芯片的测试装置。
技术介绍
随着电子技术的发展,功能化、人性化的移动设备越来越多,例如,苹果首次在Iphone5s主按键搭载指纹识别芯片,给用户带来了方便快捷的体感,配有指纹识别功能的手机已经成为消费者选购手机的依据,指纹芯片已经广泛应用在手机和电脑等电子产品。指纹芯片的原理是在一块绝缘片下方设置有芯片,当人的手指作为导电介质接触绝缘片时,手指与芯片之间形成电容效果,芯片里头的线路连通,从而实现指纹识别控制。在生产制造指纹芯片领域,在完成指纹芯片大批量生产后,需要对指纹芯片的合格性进行检测,以此来挑选出不合格的指纹芯片,从而保留合格的指纹芯片。传统的测试中,一般是把芯片的周侧承载在工作台上,然后位于芯片的正下方设置有吸嘴,通过往下吸芯片,从而模拟使用时对芯片施加朝下的压力,再进行测试。然而这种对芯片施加压力的方式和芯片实际使用情景相差太远,测试效果不理想。
技术实现思路
针对现有技术存在上述技术问题,本技术提供一种能够模拟芯片使用情景,能够形成按压电容效果再进行测试的用于测试指纹芯片的测试装置。为实现上述目的,本技术提供以下技术方案:提供一种用于测试指纹芯片的测试装置,包括测试机和按压机构,所述按压机构设置在所述测试机的上方,所述测试机设置有用于放置待测芯片的凹槽,所述凹槽的底部设置有用于吸住待测芯片的吸附组件,所述按压机构包括柔性的且导电材质的导电胶头和用于驱动所述导电胶头上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。其中,所述驱动组件包括手臂和按压塞,所述导电胶头设置在按压塞的下端部,所述手臂开设有通孔,所述按压塞可滑动地穿设于所述通孔,所述按压塞的外侧面与所述通孔的内壁之间密封连接,所述通孔的上端部设置有气管接头,所述气管接头连接有用于驱动所述按压塞上下运动的气源。其中,所述驱动组件还包括对按压塞施加朝上恢复力的弹簧,所述弹簧的端部抵住所述按压塞。其中,该测试装置还包括用于抓取待测芯片至所述凹槽和把测试完的芯片移离所述凹槽的机械手,所述机械手与所述测试机连接。本技术的有益效果:本技术的一种用于测试指纹芯片的测试装置,包括测试机和按压机构,按压机构设置在测试机的上方,测试机设置有用于放置待测芯片的凹槽,凹槽的底部设置有用于吸住待测芯片的吸附组件,按压机构包括柔性的且导电材质的导电胶头和用于驱动导电胶头上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。与现有技术相比,本技术采用了柔性的且导电材质的导电胶头对待测芯片施加压力,较为符合芯片实际使用情形,导电胶头和待测芯片之间能够形成电容效果,测试更加准确,提高工作效率。附图说明图1为本技术的一种用于测试指纹芯片的测试装置的结构示意图。附图标记:测试机1、凹槽11;按压机构2、手臂21、通孔211、按压塞22、气管接头23;导电胶头3;弹簧4。具体实施方式以下结合具体实施例及附图对本技术进行详细说明。本实施例的一种用于测试指纹芯片的测试装置,如图1所示,包括测试机1和按压机构2,按压机构2设置在测试机1的上方,测试机1设置有用于放置待测芯片的凹槽11,凹槽11的底部开设有用于吸住待测芯片吸附孔,吸附孔设置有产生真空的吸附组件(图中未示出),按压机构2包括柔性的且导电材质的导电胶头3和用于驱动导电胶头3上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。驱动组件包括手臂21和按压塞22,导电胶头3设置在按压塞22的下端部,手臂21开设有通孔211,按压塞22可滑动地穿设于通孔211,按压塞22的外侧面与通孔211的内壁之间密封连接,通孔211的上端部设置有气管接头23,气管接头23连接有用于驱动按压塞22上下运动的气源(图中未示出)。驱动组件还包括对按压塞22施加朝上恢复力的弹簧4,弹簧4的端部抵住按压塞22。本实施例中,该测试装置还包括用于抓取待测芯片至凹槽11和把测试完的芯片移离凹槽11的机械手(图中未示出),机械手与测试机1连接。使用时,机械手把待测芯片抓取至凹槽11中,然后吸附组件启动产生真空吸附住待测芯片,然后气源供气向下推动按压塞22,直至导电胶头3对待测芯片施加9N的力度,然后进行测试。测试完毕之后,气源停止工作,弹簧4对按压塞22施加向上的恢复力,按压塞22连同导电胶头3向上运动解除对芯片的压力。然后机械手抓取测试完毕的芯片移离凹槽11,完成一个芯片的测试工作,进入下一个循环测试。与现有技术相比,本技术采用了柔性的且导电材质的导电胶头3对待测芯片施加压力,较为符合芯片实际使用情形,导电胶头3和待测芯片之间能够形成电容效果,测试更加准确,提高工作效率。最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本技术的技术方案,而非对本技术保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本技术作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本技术的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本技术技术方案的实质和范围。本文档来自技高网...
一种用于测试指纹芯片的测试装置

【技术保护点】
一种用于测试指纹芯片的测试装置,其特征是:包括测试机和按压机构,所述按压机构设置在所述测试机的上方,所述测试机设置有用于放置待测芯片的凹槽,所述凹槽的底部设置有用于吸住待测芯片的吸附组件,所述按压机构包括柔性的且为导电材质的导电胶头和用于驱动所述导电胶头上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试指纹芯片的测试装置,其特征是:包括测试机和按压机构,所述按压机构设置在所述测试机的上方,所述测试机设置有用于放置待测芯片的凹槽,所述凹槽的底部设置有用于吸住待测芯片的吸附组件,所述按压机构包括柔性的且为导电材质的导电胶头和用于驱动所述导电胶头上下运动从而对待测芯片施加预设压力的驱动组件。2.根据权利要求1所述的一种用于测试指纹芯片的测试装置,其特征是:所述驱动组件包括手臂和按压塞,所述导电胶头设置在按压塞的下端部,所述手臂开设有通孔,所述按压塞可滑...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏强
申请(专利权)人:广东利扬芯片测试股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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